INSTITUTO DE QUíMICA DE SÃO CARLOS
PREPARAÇÃO
E ESTUDO DE PROPRIEDADES FíSICAS DE
CORPOS CERÂMICOS DENSOS DO SISTEMA
Ba(Ti1_xZrx)03
EDUARDO ANTONELLI
Dissertação apresentada ao Programa de Pós
Graduação
Interunidades
em
Ciências
e
Engenharia
de Materiais,
da Universidade
de São Paulo, como parte dos requisitos para
a obtenção do Título de Mestre em Ciência e
Engenharia de Materiais.
Orientador: Prof. Dr. Antonio Carlos Hernandes
São Carlos
2004
USP/IFSC/SBI:
TOMBO•.•...•...;.•;..:: .
--Antonelli, Eduardo
"Preparação e estudo de propriedades fisÍca de corpos cerâmicos densos do sistema Ba(Til_xZrx)03" Eduardo Antonelli - São Carlos, 2004
Dissertação (Mestrado) - Interunidades Ciência e Engenharia de Materiais da Universidade de São Paulo, 2004 - páginas: 97
Área: Ciência e Engenharia de Materiais
Orientado r: Prof Dr. Antônio Carlos Hernandes
1. Corpos cerâmicos
FíSICA DE SÃO CARLOS, UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO, EM 15-10-2004.
COMISSÃO JULGADORA:
~----
---~~---Prata. Ora. Ducinei Garcia - UFSCar
Prat. Dr. Jean Claúde M'Peka - IFSC
I
USP
(..)De martírio duro e lento
Que apavora, mas depois também melhora E vira uma força inexplicável
Que torna todo mundo mais amável Um pouco é consequência da saudade
Um pouco é que voltou felicidade Um pouco é que também já era hora Um pouco é para ninguém mais ir embora
Vira uma esperança, cresce de um jeito Que a gente até balança, enfim ... As vezes dói bastante mas melhora
(Luiz Tatit)
Ao meu pai
Ao Prof. Dr. Antonio Carlos Hemandes pela grande amizade, confiança, oportunidade, incentivo e valiosa orientação. O meu muito obrigado.
À
Dra. Maria Inês Basso Bemardi pela amizade, ensinamentos e colaboração. Ao Dr. Manuel Lente do GCFerr - UFSCar pela colaboração com as medidas de histerese ferro elétrica.Ao corpo técnico do GCCMC: Cássio, Geraldo, Manoel, Marcello, Luis e Erica, pela solicitude e amizade.
Aos meus companheiros de trabalho: Ronaldo Santos da Silva, J. Ezequiel de Souza, Cynthia Regina Ferrari, André Luiz Martinez, Renato de Almeida Silva, Pérson Pereira Neves, Lauro June Q. Maia, Cristiane N. Santos, Fabio Ribeiro Dias, Mareio R. de Freitas, Ariane B. Lourenço, Seila Silva Rojas e à todos os amigos do GCCMC pela companhia, força e valiosas discussões.
À
Wladerez e Cristiane por sua imensa boa vontade e dedicação. Aos Professores, as bibliotecárias e demais funcionários do IFSC.À
comissão organizadora do VI SICEM.Aos amigos Marcos, Luciano e Humberto pelos momentos que passamos estudando na biblioteca do IFSC e a todos os meus amigos de Bauru, em especial o André, Juliana e Júlio por me proporcionarem muitos momento de divertimento.
Aos amigos Tibolão, Rodrigo, Du e todos da republica Cabanacana, pela grande amizade e companheirismo.
À toda minha família principalmente minha mãe Rute Felisberto Antonelli, meu pai Jose Leovardo Antonelli "In memorian", minha irmã Roberta Antonelli e namorada Alessandra Kamimura Yano, por me apoiarem nos momentos mais dificeis e me darem todo o amor que alguém pode ter nesta vida.
À CAPES e à FAPESP pelo apoio financeiro.
LISTA DE ABREVIA TURAS
i
LIST A DE FI GURAS
ii
LISTA DE TABELAS
iii
RESUMO ...•... iv
ABSTRA CT v
INTRODU ÇAO 01
o
BJETIV OS 02-
-ORGANIZAÇAO DA DISSERT AÇAO 02
CAPITULO 1.0
REVISÃO BIBLIOGRÁFICA
,
1.1 MATERIAIS FERROELETRICOS 03
1.2 OS MA TERIAIS 06
1.3 SINTERIZAÇAO 12
1.4 ESPECTROSCOPIA DE IMPEDÂNCIA
16
,
-1.5 METODOS DE PREP ARAÇAO 22
CAPITULO 2.0
2.1SÍNTESE DOS
MATERIAIS E MÉTODOS
,
POS . 25
2.1.1 - Síntese dos pós via reação no estado sólido (MO' 25
2.1.2 -Síntese dos pós pelo método de Pechini.. 28
2.2 METODOS DE CARACTERIZAÇAO 31
2.2.1 - Sedigrafia 31
2.2.5 - Microscopia Eletrônica de Varredura 36
2.2.6 - Microscopia eletrônica de transmissão 37
2.2.7 - Espectroscopia de Impedância 37
2.2.8 - Histerese Ferroelétrica 38
CAPITULO 3.0
RESUL TADOS E DISCUSSÕES
,
3.1 TAMANHO DE PARTICULA 40
,
,
3.2 ANALISE TERMI CA 45
3.3 DIFRAÇAO DE RAIOS X 52
3.4 S~NTERIZAÇÃO, DENSIDADE E MICROESTRUTURA DOS CORPOS
CERAMICOS 57
3.5 CARACTERIZAÇÃO FÍSICA DO BZOI00
66
3.6 CARACTERIZAÇÃO FÍSICA DO BTZO
81
CAPITULO 4.0
CONCLUSÕES E TRABALHOS FUTUROS
CO N CL USO ES 91
TRABALH OS FUTUROS 92
BTZ05
BTZ08
BZ0100
DTA
TG
MEV
MET
DRX
MO
Pechini
LISTA DE ABREVIATURAS
BaTio,9SZrO,OS03
BaTio,92ZrO,OS03
BaZr03
Análise Térmica Diferencial
Análise Termogravimétrica
Microscopia Eletrônica de Varredura
Microscopia Eletrônica de Transmissão
Difratometria de Raios X
Reação no estado sólido (Mistura de óxidos)
LISTA DE FIGURAS
Figura 1.1 - Curva de histerese ferroelétrica para o ciclo de polarização versus
campo aplicado 4
Figura 1.2 - Cela unitária do tipo ABO] (Perovskita) 5
Figura
1.3 -
Cela unitária do BaTiO] para diferentes temperaturas, e representaçãoda polarização espontânea (Ps). a) cúbica, acima de 120 DC;b) tetragonal, entre 120
°c
e O DC,'c) ortorrômbica, entre O°c
e -90 DC,'d) romboédrica, abaixo de -90 DC(Xu, 1991) 9
Figura 1.4 - Dependência da constante dielétrica com a temperatura na freqüência
de 1kHz para o BTZ05 e BTZ08. (C: cubico, T: tetragonal, O: ortorrômbico, R:
romboédrico). (Yu et aI, 2001)
11
Figura
1.5 -
Sinterização é um processo de mudança estrutural que recebecontribuição de dois subprocessos, a densificação e o crescimento de grão, a
contribuição de cada subprocesso depende das variáveis experimentais. (Shaw,
1989a)
13
Figura
1.6 -
Fluxo de vacâncias e conseqüente fluxo de átomos na direção oposta,formando o pescoço (Shaw, 1989a) 15
Figura 1.7 - Formação de pescoço a partir do fluxo de átomos entre regiões com
diferentes curvaturas, de acordo com o gradiente de pressão entre essas regiões
(Shaw, 1989a). A imagem do corpo cerâmico foi obtida para o BZ0100 - MO,
estudado neste trabalho 15
Figura 1.8 - Associação em paralelo de um resistor (R) e um capacitor (C) 18
Figura 1.9 Diagrama de impedância no plano complexo para sistemas
caracterizados por dois semicírculos 22
Figura 2.1 - Fluxograma para obtenção dos pós de BZ0100, BTZ05 e BTZ08, via
reação no estado sólido 27
Figura 2.2 -Fluxograma para obtenção dos pós de BZ0100 via método de Pechini .
... 30
Figura 2.3 - Fluxograma para obtenção dos pós cerâmicos de BTZ05 e BTZ08, via
método de Pechini 31
Figura 2.4 - Desenho esquemático para determinar a diferença de caminho entre
dois planos atômicos paralelos, d é a separação entre os planos (Kitell, 1978). ... 34
Figura 2.5 - Esquema do equipamento utilizado para medidas de densidade pelo
método de Archimedes 36
Figura 3.1 - Curvas de distribuição acumulada de partícula em massa e
porcentagem de freqüência de massa em função do diâmetro médio equivalente para
os pós precursores 41
Figura 3.2 - Curvas de distribuição acumulada de partícula em massa e
porcentagem de freqüência de massa em função do diâmetro médio equivalente dos
precursores misturados e moídos: (a) Para o BTZ08 (b) Para o BZ0100 42
Figura 3.3 -Micrografias dos pós de BZ0100: a) MO calcinados à 1200 De, por 2h
e submetidos a nova moagem de
12
h e b) Pechini calcinados a 800 DC,por 2h 44Figura 3.4 -Micrografias dos pós. a)BTZ05 MO e b)BTZ08 MO. Calcinados por 2h
à 1200° C 44
Figura
3.5 -
Micrografias dos pós de BTZ05 produzido pelo método de Pechini,calcinados à 7500C/2h: a) MEV e b) MET 45
Figura 3.6 - DTA/TG dos pós precursores de BZ0100 moídos por 24h. Inserido na
figura o DTA do precursor BaC03 evidenciando duas transições defase estrutural .
... 46
Figura
3.7-
Curvas de DTA/TO dos pós precursores do BTZ05 moídos por 24h.Inserido nafigura o TO do precursor BaC03 48
Figura 3.8 - Curvas de DTA/TG dos pós precursores do BTZ08 moídos por 24h.. 48
Figura
3.9 -
Curvas de DTA/TG para as resinas de BZ0100 produzidas pelo métodode Pechini 49
Figura 3.10 - Curva de DTA/TG do pó precursor de BTZ05 obtido por Pechini
tratado à 400 DC/4h 51
Figura 3.11 - Curva de DTA/TG do pó precursor de BTZ08 obtido por Pechini e
tratado à 400 DC/2h
51
Figura 3.12 - Difratograma de raios X dos pós de BaZr03, calcinados à 1200 DC/2h.
Fase cristalina única indexada por meio daficha (JCPDS 06-0399) 52
Figura 3.13 - Difratograma de raios X dos pós de BZ0100 Pechini, calcinados por
2 horas em diferentes temperaturas. Os difratogramas foram indexados com o
auxilio da ficha JCP DS: 06-0399 53
Figura 3.14 -Difratograma de raios X dos pós calcinados por 2 horas, a 1200 DC e
dos corpos cerâmicos sinterizados por 4 horas, a 1300 De. a) MO BTZ05 e b) MO
Figura 3.15 - Difratograma de raios X dos pós de BTZO Pechini, calcinados por 2
horas. (1) x
=
0,05 à 5500e,
(2) x=0,05 à 6500e,
(3) x=0,08 à 750°C e (4) x=O,05à 750
0e.
Os difratogramas foram indexados de acordo com a fichaJCPDS:81-2200, simetria ortorrômbica 55
Figura 3.16 - Difratograma de raios X dos corpos cerâmicos de BTZO Pechini
sinterizados (1) x = 0,05 à 1200 °C/2 h, (2) x = 0,05 à 1250 °C/2 h, (3) x = 0,05 à
1300 °C/2 h, (4) x
=
0,05 à 1300 °C/4 he (5)x=
0,08 à 1300 °C/4 h. 56Figura
3.17 -
Curvas de densidade a verde em função da pressão aplicada para oBTZ05 e, inserida na figura, a dependência do valor da densidade aparente das
amostras sinterizadas à 1250 °C/2h com a pressão aplicada na conformação
58
Figura 3.18 - Curva de densidade relativa em função da temperatura, obtida a
partir de ensaios de dilatometria para os corpos cerâmicos de BTZ05, com taxa
constante de aquecimento de 5°C/min. (p
=
6.073 glcm3 JCPDS 36-0019) 59Figura 3.19 - Curva de densidade relativa em fimção do tempo para corpos
cerâmicos sinterizados à 1250
0e,
para cerâmicas de BTZ05 sintetizadas pelométodo de Pechini 61
Figura 3.20 - Micrograjias obtidas dos: a) pó prensado BTZO Pechini b) pó
prensado BTZO MO; c, d) pastilha sinterizada de BTZ05 MO 1300 °C/4 h e e,f)
pastilha sinterizada de BTZ05 Pechini 1300 °C/4 h 62
Figura 3.21 - Micrografia de superficie e fratura, dos corpos cerâmicos de BZ0100
sinterizados. a, b) MO 1420 °C/6 h,' c, d) Pechini 1150 °C/6 h,' e, f) Pechini 1250
°C/6 h eg, h) Pechini 1350 °C/6 h. 65
Figura 3.22 - Caracterização elétrica depara: a) BZO Pechini. b) BZO MO' 67
Figura 3.23 - Diagramas de impedância no plano complexo das amostras de
BZ0100 a) MO e b) Pechini, a temperatura de 400°C e 380°C respectivamente ... 69
Figura 3.24 - Diagramas de Arrhenius para as condutividades elétricas das
cerâmicas de BZ0100. a) Primeiro semicírculo - Região de grão. b) Segundo
semicírculo - Região de contorno de grão 71
Figura 3.25 - Fator de descentralização dos semicírculos em função da
temperatura 72
Figura 3.26 - Permissividade relativa emfunção da freqüência. a) BZ0100 MO e b)
BZO 100 Pechini 74
Figura 3.27 - Fator de dissipação em Jimção da freqüência para cerâmicas BZO 100
(MO e Pechini) a temperatura de 260
0e.
75Figura 3.28 - Fator de dissipação emfunção da temperatura, medido nafreqüência
de 1kHz 76
Figura 3.29 - Permissividade relativa em função da temperatura, medido a 1kHz,
para as cerâmicas BZ0100 (MO e Pechini) em dIferentes condições de sinterização .
... 77
Figura 3.30 - Permissividade relativa em função da temperatura para diferente
freqÜências. a) MO e b) Pechini. O aumento na permissividade é mais acentuado
para oPechini e em baixas freqÜências 79
Figura 3.31 - Analise de impedância do BZ0100: a) 220 DC Pechini, b) 260 DC
Pechini, c) 380 DCPechini, d) 220 DCMO, e) 260°C MO e1) 380 DCMO. Oponto
marcado nos gráficos corresponde a freqÜência de
1
kHz. Com 6 aumento datemperatura podemos observar o movimento deste ponto para a região de contorno
de grão
80
Figura 3.32 - Permissividade relativa em função da temperatura para o BTZ05 e
BTZ08 produzido via MO. Sinterizado à 1300 °C/4h. As cerâmicas apresentaram a
mesma densidade relativa 97% e tamanho de grão equivalente (25::t5)f.lm. Inserido
nafigura ográfico de 1/&' emfimção da temperatura 83
Figura 3.33 - Fator de dissipação em função da temperatura para cerâmicas de
BTZ05 e BTZ08 obtidas por MO, medido afreqüência de
1
kHz83
Figura 3.34 - Permissividade relativa em função da temperatura para o BTZ05 e
BTZ08 produzido via Pechini. Sinterizado à 1300 °C/4 h. As cerâmicas
apresentaram a mesma densidade relativa 95% e tamanho de grão equivalente
(O, 9IO, 2)llm. Inserido najigura ográfico de 1/&' emfunção da temperatura 84
Figura 3.35 - Fator de dissipação em função da temperatura para cerâmicas de
BTZ05 eBTZ08 obtidas por Pechini, medido afreqüência de 1kHz 84
Figura 3.36 - Permissividade relativa em função da freqÜência para diferentes
temperaturas. a) BTZ05 MO, b) BTZ08 MO, c) BTZ05 Pechini e d) BTZ08
Pechini 87
Figura 3.37 - Curvas de histerese ferroelétrica das cerâmicas BTZ05, MO e
Pechini. As medidas foram realizadas à temperatura ambiente, com freqüência de 10
Hz 88
Figura 3.38 - Curvas de histerese ferroelétrica das cerâmicas BTZ08, MO e
Pechini. As medidas foram realizadas à temperatura ambiente, com freqÜência de
10
LISTA DE TABELAS
Tabela 1.1 - Densidade relativa e tamanho de grão como função do método de síntese,
temperatura de calcinação esinterização 7
Tabela 1.2 - Temperaturas de transição defase estrutural para oBaTil_xZrxOJ(x=0,05 e
X=O, 08) 11
Tabela 2.1 -Reagentes utilizados para a produção dos pós via reação no estado sólido .
... _ 26
Tabela 2.2-Reagentes utilizados para a produção dos pós via método de Pechini 29
Tabela 3.1 - Dp50dospós precursores eintervalo do tamanho de partícula 41
Tabela 3.2 - Acompanhamento do Dp50dos pós precursores de BTZ08 misturados e
moídos 42
Tabela 3.3 - Acompanhamento do Dp50dos pós precursores de BZO 100 misturados e
moídos _ 43
Tabela 3.4 -Diâmetro médio de grão dos pós calcinados 45
Tabela 3.5 - Densidade relativa erespectivo tamanho de grão para os corpos cerâmicas
sinterizados na temperatura de 1300 °C/4h com taxa de 20 °C/min 61
Tabela
3.6-
Relação de tempo, temperatura, densidade relativae
tamanho de grão paraos corpos cerâmicas produzidos via reação no estado sólido, sinterizadas a taxa de 10
°C/min (densidade de referencia 6,229g/cmJ(JCPDS 06-0399)) 65
Tabela 3.7 - Relação de tempo, temperatura, densidade relativa etamanho de grão para
os corpos cerâmicas produzidos pelo método de Pechini, sinterizadas a taxa de 10
°C/min (densidade de referencia 6,229g/cmJ (JCPDS 06-0399) 66
Tabela 3.8 - Resistividade para oBZ0100 medido no modo de (corrente contínua) e ae
(corrente alternada) 67
Tabela 3.9 - Energias de ativação aparentes (Ea) dos processos condutivos em
cerâmicas de BZ0100 produzidos via MO emétodo de Pechini 71
Tabela 3.10 - Método de síntese dos pós, densidade relativa, tamanho médio de grão e
respectivas constantes dielétricas obtidas para cerâmicas de BZO 100 (medido em
1kHz) 77
Tabela 3.11 - Temperaturas de transição ferro - paraelétrica (Tc), permissividades
relativas na temperatura de Curie (Tc) e ambiente (Ta), e densidades relativas para os
materiais deste trabalho
e
observados na literatura85
Tabela 3.12 - Polarização remanescente (Pr), campo coercitivo (Ee), para os corpos
RESUMO
Neste trabalho, corpos cerâmicas de Ba(Til_xZrx)03 com x
=
0,05, x=
0,08 e x=
1,chamados BTZ05, BTZ08 e BZ0100 respectivamente, foram preparados por duas rotas
experimentais distintas (síntese no estado sólido e método Pechini) com o objetivo de se
estudar os métodos de síntese e avaliar alterações nas propriedades elétricas e die1étricas das
cerâmicas, devido, principalmente, a sua dependência com o tamanho médio de grão. Este
tamanho foi determinado pelas técnicas de sedigrafia (sedimentação), microscopia eletrônica
de varredura (MEV) e microscopia eletrônica de transmissão (MET). Para os compostos
produzidos por síntese no estado sólido obtivemos um tamanho médio de partícula de 1 ).Lm,
enquanto que pelo método de Pechini pós com partículas nanométricos foram produzidos
(~50 nm). Análise térmica diferencial (DTA) dos compostos sintetizados apresentou uma
drástica redução nas temperaturas ideais para calcinação - de 1200 °c para 750°C - quando
analisamos os pós de dimensões micrométricas e nanométricas, respectivamente. Compactos
cerâmicas obtidos a partir desses pós foram sinterizados em forno elétrico de atmosfera aberta em diferentes condições experimentais de temperatura e tempo. As mais altas
densidades foram: 97% para o BZ0100, preparado por ambos os métodos, 97% para o
BTZO MO e 95% para o BTZO Pechini. Para o BZ0100 sintetizado pelo método de Pechini
verificamos uma considerável redução nas temperaturas de sinterização, de 1420 °c para
1250 oCoA substituição de Zr na rede cristalina do BaTi03 induziu uma diminuição na
temperatura de transição ferro-paraelétrica (até 30°C para BTZ08) e não foi observada
influência do tamanho de grão nas temperaturas de transição de fase estrutural do BTZO.
Para o BZO 100 verificamos uma maior energia de ativação relativa para processos
condutivos na região de contorno de grão do Pechini (1,37±0,02)eV para (0,96±0,02)eV do
MO. Também foi observado um acentuado aumento da permissividade elétrica relativa para
temperaturas acima de 300°C, essa característica foi relacionada com processos que
ocorrem nas regiões de grão e contorno de grão das cerâmicas. Os valores de permissividade
elétrica relativa e de perda dielétrica foram determinados para todas as amostras em função
ABSTRACT
Materiais cerâmicos são de extrema importância para a indústria em diversas
aplicações, tais como: transdutores, refratários e capacitores. Para cada aplicação,
características especiais como resistência mecânica, controle de porosidade, condutividade
térmica, propriedades elétricas, dielétricas, magnéticas e ópticas são exigidas. Diversos
fatores afetam a qualidade e as propriedades dos corpos cerâmicos, incluindo: composição
e morfologia dos pós precursores, processos de conformação e ciclo térmico empregado.
Correlacionar as propriedades flsicas com a microestrutura do corpo cerâmico é
fundamental para definir, posteriormente, processos de produção.
Um ponto importante na preparação de corpos cerâmicos é a síntese dos pós
precursores. Os processos de obtenção de compostos de fase cristalina única têm-se
modificado ao longo dos anos com o objetivo de se conseguir homogeneidade química,
diminuição das temperaturas de ca1cinação e sinterização. O método convencional para a
obtenção de pós precursores é o de síntese no estado sólido, governado pela difusão dos
átomos ou moléculas constituintes ativados termo-químicamente. Essa metodologia
apresenta como uma de suas características um tamanho médio de partícula da ordem de
1
/-lm.Técnicas alternativas de processamento de pó têm sido bastante desenvolvidas: sol
gel (Sin et aI, 2002; Dixit et aI, 2002), Pechini (Rajedran et aI, 1994; Taglieri et aI, 1999) e
combustão (Macedo et aI, 2004), entre outras. Em particular, métodos como sol-gel e
Pechini apresentam uma grande dispersão de precursores. Por meio desses métodos
obtemos, em geral, pós com tamanho médio de partícula em escala nanométrica,
Para este trabalho foram escolhidos dois materiais com estrutura peroveskita, mas
propriedades físicas bastante diversas: o BaZr03, que apresenta estrutura cúbica e não tem
transição de fase estrutural associada a temperatura (Sin et aI, 2002), e o BaTi03 com
pequenas concentrações de Zr, BaTil_xZrx03(x=0,05 e x=0,08), substituição que introduz
variações bastante características nas temperaturas das transições de fase estrutural (Dobal
et aI, 2001). Os compostos foram sintetizados por reação no estado sólido e pelo método de
Pechini. Foram estudadas as características relacionadas a microestrutura, a densificação e
as propriedades elétricas e dielétricas.
OBJETIVOS
Obtenção de cerâmicas densas de BaTil_xZrx03(x = 0,05, x = 0,08 e x = 1), por
meio de dois métodos de síntese: o método de precursores poliméricos (método Pechini) e o
método convencional de mistura de óxidos; e o estudo da influência dos métodos nas
propriedades elétricas e dielétricas dos corpos cerâmicos.
ORGANIZAÇÃO DA DISSERTAÇÃO
No capítulo 1 apresentamos uma breve revisão bibliográfica sobre os materiais
estudados, o método de Pechini, conceitos básicos sobre sinterização e propriedades dos
materiais ferroelétricos.
No capítulo 2 descrevemos a preparação dos pós cerâmicos por meio de reação no
estado sólido e pelo método de Pechini. Também apresentamos as técnicas empregadas nas
caracterizações.
No capítulo
3apresentamos os resultados e discussões. E no capítulo 4 são
1.1 MATERIAIS FERROELÉTRICOS
CAPITULO 1.0
REVISÃO BIBLIOGRÁFICA
Uma definição básica que descreve um ferroelétrico é o fato deste material
apresentar polarização espontânea em uma determinada faixa de temperatura. Isto
ocorre porque em cada cela unitária existe um momento de dipolo elétrico que
provoca uma interação entre os dipolos das celas adjacentes. Esta interação faz surgir
os domínios ferroelétricos, isto é, quando um grupo de celas unitárias tem os
momentos de dipolo orientados em uma mesma direção, o campo local aumenta em
proporção
àpolarização (Martel, 1991).
Uma importante característica de um material ferroelétrico é o fenômeno de
histerese. Devido ao fato de apresentar polarização espontânea, o ferroelétrico tende
a ter os domínios orientados pelo campo elétrico externo aplicado e, para campos
suficientemente altos, o ferroelétrico se mantém orientado quando o campo é
retirado. Uma curva de histerese ferroelétrica pode ser observada no diagrama de
polarização versos campo aplicado, Figura
1.1.Neste gráfico, os momentos de dipolo
alinham-se com o campo elétrico aplicado a medida que a intensidade deste aumenta.
Quando o alinhamento é máximo, o material atinge a máxima polarização, conhecida
como polarização de saturação
(Ps).Reduzindo-se o campo aplicado a zero, o
material preserva um certo grau de polarização, a polarização remanescente
(Pr).Invertendo-se o campo, a polarização se reduz a zero e a seguir é invertida até atingir
novamente a saturação. O campo necessário para anular a polarização é conhecido
Polarização
Campo Elétrico
Figura 1.1 - Curva de histerese ferroelétrica para o ciclo de polarização versus
campo aplicado.
A estrutura perovskita
Um grupo muito importante de materiais ferroelétricos é o que apresenta a
mesma estrutura perovskita do mineral CaTi03. Estes ferroelétricos foram
intensamente estudados devido a sua relativa simplicidade estrutural em relação aos
demais cristais (Lente,
2001).A estrutura cristalina perovskita apresenta a fórmula geral do tipo AB03,
Figura 1.2, onde: A é um metal divalente, B apresenta um metal tetravalente e O é o
oxigênio. Os átomos A são localizados nos vértices do cubo, os átomos B no centro e
os oxigênios nas faces do cubo.
A grande maioria dos materiais com estrutura AB03 não apresentam
estruturas exatamente como a ilustrada na Figura 1.2, mas pequenas distorções são
presentes. Tomando como exemplo o BaTi03 abaixo da temperatura de Curie, os
unitária e o Ti4+ está ligeiramente deslocado do centro da cela unitária (Martel,
1991).
Figura
1.2 -
Cela unitária do tipoAB03 (Perovskita).A temperatura de Curie
A temperatura de Curie em materiais ferroelétricos é defmida como sendo a
temperatura em que o material apresenta a transição de fase ferro elétrica
-paraelétrica. Se analisarmos o material do ponto de vista cristalográfico, ocorre uma
mudança de simetria cristalina. Esta mudança pode provocar o aparecimento de
dipolos elétricos na cela unitária devido ao deslocamento dos íons, imprimindo um
deslocamento particular aos cátions e ânions do cristal. Para isto, basta que a cela
unitária tome-se assimétrica em relação ao sistema cúbico.
A alta constante dielétrica dos ferroelétricos e a lei de Curie- Weiss
Na temperatura de Curie, os ferroelétricos tomam-se altamente polarizáveis e
tanto a polarização iônica como a eletrônica atingem seu nível máximo. Em
temperaturas menores, mas próximas à temperatura de Curie, aumenta a mobilidade
dos domínios ferroelétricos e os íons da rede oscilam com mais liberdade. As
polarizações iônicas e eletrônicas também aumentam, porque a polarização entre os
... ;; ~.~.J l"f"1.i U ': Q: d ~t'-,' j v.. \..,
íons de cargas opostas é reduzida ao longo do eixo polar e, em conseqüência, pode
ser observado um aumento na polarizabilidade em relação ao campo externo (Martel,
1991).
Acima da temperatura de Curie, os efeitos de ativação térmica controlam a
resposta dos íons a um campo elétrico externo. A constante di elétrica diminui com o
aumento da temperatura de acordo com a lei de Curie-Weiss.
b
K
=T-Tc'
em que b é uma constante e Te é a temperatura de Curie.
1.2 OS MA TERlAIS
(1.1)
o
zirconato de bário (BaZr03) é uma cerâmica da família perovskita comsimetria cúbica (grupo pontual m3m) e parâmetro de rede (a
=
4.193 Á) (Ubaldini et aI, 2003). Apresenta um grande número de aplicações, devido ao seu alto ponto defusão (2700 °C), baixo coeficiente de expansão térmica (87xl0-7
°C-I
entre 25 e1080 °C), boa estabilidade química e ausência de transição de fase até 1375 oCo O
BaZr03 têm sido utilizado em aplicações especiais como cerâmicas refratárias
(Taglieri et aI, 1999), como substrato inerte para deposição de filmes e como cadinho
para crescimento de cristais do material supercondutor YBa2Cu307-x (YBCO) (Sin et
aI, 2002) .
O BaZr03 foi desenvolvido há aproximadamente 40 anos como material
dielétrico, no entanto ao contrário do BaTi03, que é produzido comercialmente e bem
conhecido na indústria de eletrocerâmicas, existe pouca informações na literatura a
envolvendo análise de suas propriedades são de 40 - 50 anos atrás (Stetson and
Schwartz, 1961), (Koenig and Jaffe, 1964), (Roberts, 1951), (Granicher, 1951). Os
valores observados para a constante dielétrica do BaZr03 são relativamente baixos se
comparados aos dos materiais com características ferroelétricas. Stetson e Schwartz
(1961) encontraram constante dielétrica igual a 32, para freqüência de 1 MHz para
cerâmicas sinterizadas a 1450 °C/2h. Azad e Subramaniam (2002) encontraram
constante dielétrica igual a 15 (1 MHz), para cerâmicas sinterizadas a 1600 °C/6h
com tamanho médio de grão de 3).lm.
O método mais usado para à síntese do BaZr03 é o de reação no estado
sólido. No entanto, este método exige altas temperaturas de calcinação e de
sinterização. Recentemente foram realizados estudos de síntese por métodos
químicos e variações da reação no estado sólido Tabela 1.1. Alguns métodos
químicos para a síntese do BaZr03 são o método de oxalatos, combustão, e método
de citratos (Robertz et aI, 2001).
Referência
(Boschini et aI, 2003) (Taglieri et aI,
1999) (Zhang et aI,
1994) (Azad and Subramaniam,
2002) (Sin et aI, 2002)
1
0,4
0,6-4 0,4 - 1,2
Tamanho de grão (flm) 97,5 1700 1200 1600/6 1300/2 800/8 700/3 1200/2 MO MO Método
Tabela 1.1 - Densidade relativa e tamanho de grão como função do método de
síntese, temperatura de calcinação
e
sinterização.Tratamento Térmico Densidade
Calcinacão Sinterizacão Relativa
tC/h)
(0C/h)(%)
1000 1450/10 95
Variante do sol-gel Decomposiç
ão. térmica A partir de
o
BaTiOJA alta constante dielétrica do
BaTi03foi primeiramente reportada nos
Estados Unidos em 1942 (Buchanan, 1991). No entanto, acredita-se que trabalhos
tenham sido desenvolvidos independentemente em vários países e suas divulgações
foram dificultadas devido a Segunda Guerra Mundial (Haertling, 1999). O
BaTi03é
um material ferroelétrico e tem sido utilizado em uma grande quantidade de
dispositivos eletrônicos. Suas aplicações mais tradicionais são como capacitor
cerâmico e como transdutor piezoelétrico (Zhu et aI, 1997).
O
BaTi03foi o primeiro material cerâmico a ser identificado com a estrutura
perovskita (Xu, 1991). Ele apresenta simetria cúbica (Figura 1.3a), (grupo pontual
m3m),
para temperaturas acima de 130°C. Está temperatura corresponde a transição
ferro/paraelétrica e é conhecida como ponto de Curie do material. Quando a
temperatura está entre 130°C e O°C tem-se uma fase ferroelétrica com simetria
tetragonal (grupo pontual
4mm),com a razão entre os parâmetros de rede em tomo
de 1,01
(ela).A direção da polarização espontânea é ao longo do eixo
cda cela
unitária tetragonal (Figura 1.3b). Para temperaturas entre 0° e -90°C, uma nova fase
com simetria ortorrômbica (grupo pontual
mm2)toma-se estável. Esta fase também é
ferroe1étrica com polarização espontânea paralela a direção [110], considerando a
estrutura cúbica original (Figura 1.3c). Abaixo de -90°C, uma terceira transição de
fase ocorre e a simetria da rede muda de ortorrômbica para romboédrica (grupo
pontual
3m)e eixo polar ferroelétrico paralelo a direção [111] da cela cúbica Figura
••
--em" n __ u, ,
, '
:
- 1-·-1-:
•: .' u ..• m'" '
~
- ---a
c
•;.: m __ •• : : u n_ •• _
b
d
I
eiXO c
• Ba
e
Ti•
o
Figura
1.3-
Cela unitária do BaTi03 para diferentes temperaturas, e representaçãoda polarização espontânea (Ps). a) cúbica, acima de 120°C; b) tetragonal, entre 120
°c
e O °C; c) ortorrômbica, entre O°c
e -90°C; d) romboédrica, abaixo de -90°C(Xu, 1991).
Pós de
BaTi03são tradicionalmente sintetizados pela mistura dos reagentes
BaC03
e
Ti02e calcinados em altas temperaturas. Métodos alternativos para a
síntese de pós com pequeno tamanho de partícula e homogeneidade química têm sido
muito estudados, como o de sol-gel, de oxalatos e por combustão (Duram et aI,
2001).
Luan e colaboradores (1999) estudaram o comportamento da constante
Observaram que corpos cerâmicos com grãos maiores que 1800 nm apresentam
maior constante dielétrica e um pico dielétrico mais estreito, que as cerâmicas com
grãos menores. Outro importante efeito do tamanho do grão foi publicado
recentemente por Jiang e colaboradores (2004), que verificaram diminuição de até
60°C na temperatura de Curie para partículas menores que 300 nm.
Uma dificuldade no processamento de cerâmicas de BaTiO) reside no fato das
propriedades dielétricas serem muito sensíveis a variações no processamento. As
propriedades dielétricas exibem forte dependência com pequenas variações na
estequiometria química e, também, são muito sensíveis a distorções na rede cristalina
(Lee et aI, 2004).
O BaTh-xZr&l
As propriedades do BaTiO) podem ser facilmente controladas pela introdução
de elementos dopantes dentro da sub-rede catiônica. Por exemplo, substituindo o
Tt4
(raio iônico 0,68A) por
Zr+4(0,79A)varia-se significantemente as propriedades
estruturais e elétricas do BaTiO) (Askeland, 1994). Dobal e colaboradores (2001)
verificaram que a adição de Zr em cerâmicas de BaTiO) aumenta a temperatura de
transição da fase estrutural ortorrômbica/tetragonal e diminui a temperatura de
transição ferro-paraelétrica "temperatura de Curie". O controle da temperatura de
Curie é importante para a confecção de capacitores e define o seu intervalo de
utilização (Martel, 1991). Yu e colaboradores (2000, 2001) realizaram estudos em
cristais e cerâmicas de BaZrxTil_xO)nas composições x
=
0,05 e x
=
0,08, Figura 1.4
material cristalino e policristalino. As temperaturas de transição observadas estão
listadas na Tabela1.2.
16000
[ ,=005
12000 1 kHz
W 8000 R
o
4000 30000. O
x-o.oa
1kHz
20000
W
10000
O
.
.
. ... .
-100 50100150-50O
T
te)
Figura
1.4 -
Dependência da constante dielétrica com a temperatura nafreqüênciade 1kHz para o BTZ05 e BTZ08. (C: cubico, T: tetragonal,
O:
ortorrômbico, R:romboédrico). (Yu et ai, 2001).
Tabela
1.2 -
Temperaturas de transição de fase estrutural para o BaTil-xZrxOJ(x=o, 05 e X=0,08).
x
=
0,05
X=
0,08
TI eC)
T2 (0C) TceC)
TITc(°C)(0C)T2 (0C)
(DobaI et aI,
O
50 110
339971
2001) (Yu et aI, 2001)
O
50 110
I
1.3 SINTERIZAÇÃO
A sinterização pode ser descrita como o processo no qual pós compactados,
cristalinos ou não, são tratados termicamente de modo a formar um único sólido
coerente (Shaw, 1989a).
Quando todos os constituintes permanecem sólidos durante o processo de
sinterização, temos a sinterização no estado sólido.
As variáveis importantes no processo de sinterização são:
A temperatura de processamento
O tempo utilizado em cada processo
O tamanho e distribuição de partículas do pó cerâmico
A composição do sistema, incluindo aditivos e atmosfera
O controle de pressão para casos onde é usado prensagem a quente ou controle de
atmosfera
A principal força motriz para o processo de sinterização é a redução da
energIa livre superficial do sistema. Isso pode ser conseguido reduzindo a área
superficial e das interfaces do compactado (crescimento do grão), e também pela
substituição das interfaces do sólido com gás pela interface de menor energia sólido
com sólido (densificação). Assim, da combinação do crescimento de grão e
Densificaçao
Compacto a verde
000000
000000
000000
1000000 \
I
,
;·'~X·"
"('(Y"
O
O
( ....,.,r/<
0/\
'~'~.X"')I,
(:(:(J':(',(~
O O
" r >
I
r!
'J"
"'i .(~~r_X)
Corpo sinterizado
Crescimento de graos
Figura
1,5 -
Sinterização é um processo de mudança estrutural que recebecontribuição de dois subprocessos, a densificação e o crescimento de grão, a
contribuição de cada subprocesso depende das variáveis experimentais, (Shaw,
1989a)
A força motriz para a sinterização (redução da energia livre superficial) atua
no nível atômico por meio das diferenças de curvaturas que ocorrem nas superfícies
das partículas, As diferenças nas concentrações de vacâncias proporcionam o
transporte de massa. A relação entre energia superfícial, raio de curvatura e
concentração de vacâncias em função da temperatura
T,
é dada pela equação deGibbs-Thomson (Shaw, 1989a),
C(r) = Cw
exp{2;Q}
rkT ' (1.2)em que C(r) é a concentração de vacâncias na superfície com raio de curvatura
r,
CrJJé a concentração de vacâncias no plano, y é a energia superficial, k é a constante de
curvaturas, resultando em um gradiente de vacâncias e, consequentemente, um fluxo
de massa. A taxa de transporte de massa é descrita pela primeira lei de Fick's para
difusão:
J=_DdC
dx' (1.3)
em que
J
é o fluxo de vacâncias, D é o coeficiente de difusão e dC/dx é o módulo dogradiente de concentração de vacâncias.
o
comportamento dos corpos cerâmicos durante a sinterização são, em geral,estudados de modo simplificado e dividido em três estágios: o inicial, no qual ocorre
a formação dos contornos de grão, pescoços e também o arredondamento dos poros
abertos interconectados; o intermediário, quando ocorre um grande fechamento de
poros e densificação e o estágio final, onde ocorrem um acentuado crescimento do
tamanho de grão e fechamento de poros residuais com pequena densificação.
Durante o estágio inicial de sinterização ocorre um fluxo de vacâncias através
do pescoço formado entre as partículas. Esse fluxo de vacâncias é diretamente
proporcional ao fluxo de átomos na direção oposta, o que resulta na formação do
pescoço Figura 1.6.
Podemos também representar a força motriz para o movimento dos átomos
como resultante de um gradiente de pressão no sólido em regiões próximas as
superfícies de diferentes curvaturas. Esta representação leva a um fluxo associado a
difusão atômica que pode ser escrito como (Shaw, 1989a):
J=_E.
dPkT dx' (1.4)
em que dP/dx é o módulo do gradiente de pressão. Os átomos tendem a se mover das
Vacâncias
•••
proporcional ao raio de curvatura (que é menor na região de pescoço, onde o raio de
curvatura é negativo).
Atomos
)
O
00
,
...0
Atomos
°
Figura
1.6 -
Fluxo de vacâncias e conseqüente fluxo de átomos na direção oposta,formando
o
pescoço (Shaw, 1989a).Alta pressão ~ •
Normal a superficie
BaixaPre"ão /
Normal a sp erficie
Figura
1.7 -
Formação de pescoço a partir do fluxo de átomos entre regiões comdiferentes curvaturas, de acordo com
o
gradiente de pressão entre essas regiões(Shaw, 1989a). A imagem do corpo cerâmico foi obtida para
o
BZ0100 - MO,estudado neste trabalho.
São vários os mecanismos de transporte de massa que contribuem para a
sinterização, entre eles: difusão volumétrica (via retículo cristalino), difusão
superficial, difusão através dos contornos de grão, fluxo VISCOSO e
evaporação/condensação. Qualquer combinação desses processo é possível em todos
os estágios de sinterização, e em todos os casos a força motriz é a redução da energia
livre total do sistema (Macedo, 2003).
1.4 ESPECTROSCOPIA DE IMPEDÂNCIA
Quando um potencial elétrico V(t)=Vmsen(úJt) numa freqüência J=0JI27r é
aplicado em uma amostra, esta responde com uma corrente elétrica
i(t) =:1m sen(eüt
+
e), em que 8 é a diferença de fase entre a voltagem e a correnteelétrica. Define-se então, a impedância do sistema como sendo Z*( eü)= V(t)/i(t).
Pode-se dizer que o conceito de impedância é mais geral que o de resistência elétrica,
pois leva em conta a defasagem entre o estímulo e a resposta do sistema. Numa
representação gráfica, em um sistema de eixos cartesianos de Z*( eü)=Z'+iZ",
enquanto a parte real,
Z',
é representada no eixo x, a parte imaginaria,Z",
é representada no eixo y. O nÚmero complexo é igual ai
== ~ ==exp(i7r / 2) e indicauma rotação anti-horária denl2 em relação ao eixo x,para a representação gráfica.
Impedância é, por definição uma quantidade complexa. Ela somente é real
quando 8
=
O e, deste modo Z(co)=
Z'(co), apresentando um comportamento puramente resistivo. Neste caso, a impedância é completamente independente dafreqüência.
Na técnica de espectroscopia de impedância obtêm-se um conjunto de
dependência entre a freqÜência de um estímulo aplicado e a resposta do sistema. Os
dados experimentais de espectroscopia de impedância podem ser tratados dentro de
quatro formalismos complexos:
A impedância,
z'
=Z'+Z".A admitância,
Y=Z-I =Y'+iY".
o
módulo elétrico,E a permissividade complexa,
&
*
(eu)=
Y*
(eu) / ieuCo=
1/ieuCoZ*
(eu) ,(1.5)
(1.6)
(1.7)
(1.8)
em que Co é a capacitância da célula de medida (Macdonald, 1987). É possível, a
partir dos dados de impedância, calcular a permissividade elétrica. A permissividade
complexa &* =&'(eu)+i&"(eu) pode ser calculada utilizando a relação (1.8), que pode
ser rescrita como,
ê*
=
1
=
ê'+iê"
iúJêo
A
I
Z
*
(1.9)
sendo Eo a permissividade no vácuo,
I
a espessura da amostra, A é a área doseletrodos e, os termos
e'
ee",
são a permissividade elétrica real e imaginária.Separando a parte real e imaginária da equação (1.9) obtemos,
ê'=
IZ"
úJêoAlz
*12Impedância em um circuito RC paralelo
(1.11)
Podemos representar os dados de impedância como circuitos elétricos
equivalentes. O modelo mais simples consiste em um circuito RC (resistência e
capacitar) ligados em paralelo. A Figura 1.8 representa este circuito. A partir dos
valores determinados para R e C pode-se calcular a resistividade, a condutividade
elétrica e a permissividade relativa do material.
R
c
Figura
1.8 -
Associação em paralelo de um resisto r (R) e um capacitar(e).
Considerando o circuito elétrico RC submetido a uma voltagem V que varia com o tempo, a corrente elétrica resultante corresponderá a soma das correntes
individuais dos elementos R e C:
i(t)
=
ic (t)
+
iR (t).
Considerando que a tensão aplicada seja do tipo,
v
*
(w
,t)
=
V
o,eiwt(1.12)
A componente resistiva da corrente será dada pela lei de Ohm,
v
*
(t)
_
Vo eiwti
*
R(t)
=
R
-
R
A componente capacitiva será,
i
*
c (t)=
C
dV
*
(t)dt
Substituindo 1.13 em 1.15 temos,
(1.14)
(1.15)
( 1.16)
Somando-se as componentes capacitiva e resistiva da corrente encontramos,
i*(t)
=
V*~(t) +iwCV*(t).
(1.17)Na expressão (1.17), a componente resistiva faz com que o ângulo entre i(t) e
V(t) passe a ser 90°- 8. O ângulo Õ representa a dissipação de energia elétrica sob a
forma de calor, e é, geralmente, representado pela sua tangente, a tangente de perda:
liRI _
1
tg5
=
jiJ -
wRC .
(1.18)A expressão para impedância pode ser obtida substituindo-se a equação 1.17
na relação V(w,t)
=
Z(w)i(w,t):R
Z*(w)
=
l+iwRC'
(1.19)em que 't
=
RC é constante e tem dimensão de tempo. Este valor está relacionado ao tempo de relaxação do sistema. Rescrevendo a equação (1.19), de modo a separar aZ*(w)
=
R
.
RWT[1
+
(WT)2] -l [1+
(WT)2] ==Z'(w)
+
iZ"(w)
que é a equação para impedância para um circuito elétrico RC paralelo.
o
modelo "brick - layer" para cerâmicas(1.20)
Os modelos de análise, que utilizam circuitos equivalentes, possuem grande
aplicabilidade em diversos tipos de sistema. Em cerâmicas é possível associar os
blocos de circuitos às contribuições do grão e contorno de grão separadamente. Um
modelo muito utilizado em cerâmicas é o brick-layer (Macdonald, 1987). O modelo
brick-layer aproxima a microestmtura a um conjunto de grãos cúbicos separados por
contornos planos. As relaxações dielétricas do grão e contorno de grão obedecem ao
mesmo formalismo matemático de um sistema composto por elementos RC
paralelos, equação (1.20); ligados em série.
Considerando Z* em função deZ' e Z" na equação (1.20):
(1.21)
tem-se a equação de uma circunferência de raio R/2. Assim, a representação dos dados experimentais de impedância no plano complexo fornece um arco semicircular
cujo diâmetro corresponde ao valor da resistência elétrica
R.
Neste semicírculo cadaponto corresponde a um valor de freqüência, e no ponto máximo (que corresponde a
freqüência wo) tem-se,
Z'= Z"= R/2.
Da condição 1.22 combinada com a equação 1.20, temos a relação:
em que Wo é a freqüência de relaxação.
(1.22)
Quando o centro do semicírculo é deslocado do eixo das abscissas e o arco
fica descentralizado, dizemos que o tempo de relaxação não possui um valor l\nico,
mas está distribuído em tomo de um valor médio. Quando isso ocorre, a equação
1.20 pode ser substituída pela equação empírica,
Z*=
R
1
+
(iwRC)
'l' , (1.24)em que o parâmetro 'P assume valores entre O e 1, dependendo do ângulo de
descentralização 8 através da relação,
(1.25)
o
parâmetro 'P indica a largura da distribuição dos tempos de relaxação emtomo de um valor médio (Macdonald, 1987).
Quando 'P
=
1 utiliza-se a equação para um circuitoRC
paralelo, quando 'P<1, o circuito equivalente é composto por um resistor ligado em paralelo com umelemento de fase constante (CPE), e teremos uma distribuição de valores possíveis
para
t.
O (CPE) recebe este nome porque sua impedância, ZCPE=
(iwCylJl, écaracterizada por possuir um ângulo de fase (i)-IJIque é constante para qualquer valor
dew.
Cada elemento RC gera um semicírculo no plano complexo. Materiais
cerâmicos apresentam em geral diagramas com dois semicírculos, Figura 1.9, um
correspondente a resposta dielétrica dos grãos (em geral em freqüências mais altas) e
outro correspondente a resposta dielétrica dos contomos (em geral em menores
-4000
·3000
o
5000 6000 7000
Z'
6000 9000
Figura
1.9
Diagrama de impedância no plano
complexo para
sistemas
caracterizados por dois semicírculos.
A partir dos valores obtidos nos ajustes dos dados experimentais é possível
determinar R e C para ambas as contribuições (grãos e contornos). Com essas
informações de resistência podemos calcular a resistividade ou a condutividade
elétrica. Para sistemas termicamente ativados podemos usar a lei Arrhenius:
(1.26)
em que Ea é a energia de ativação do processo de condução, k é a constante de
Boltzmann, T é a temperatura em Kelvin e 0'0 é a condutividade elétrica quando
T~oo.
1.5 MÉTODOS DE PREPARAÇÃO
Atualmente, existem na literatura diversos métodos de síntese que permitem a
obtenção de óxidos com elevado grau de pureza. Entre estes, os métodos
Métodos convencionais
Os métodos convencionais, baseados em reações no estado sólido, consistem
na mistura mecânica de óxidos e/ou carbonatos do metal de interesse na forma de pó
com o auxílio de moinhos (moinho de bolas, atritor, vibratório) com posterior
tratamento térmico, geralmente em elevadas temperaturas.
Métodos não convencionais
Os métodos de síntese não convencionais estão sendo utilizados com
freqüência na preparação de óxidos, por apresentarem inúmeras vantagem sobre os
métodos convencionais. Um exemplo é o método Pechini, o qual proporciona
misturas homogêneas de cátions em escala atômica, resultando em pós com elevada
área superficial (Pechini, 1967).
A principal vantagem dos métodos não convencionais sobre os convencionais
é a obtenção de sistemas homogêneos com alto grau de pureza que podem ser
calcinados em temperaturas relativamente baixas, permitindo a síntese de óxidos com
propriedades bem definidas e controladas (Bernardi, 2001). O método Pechini é uma
alternativa, o qual se fez uso neste trabalho.
O método Pechini
A técnica desenvolvida por Pechini (Pechini, 1967) parte do princípio de que
certos ácidos fracos, como o ácido cítrico, têm a capacidade de formar ligações
estáveis com inúmeros cátions. Por exemplo, alguns sais metálicos podem ser
complexados com o ácido cítrico e o resultado é a formação de um citrato metálico.
A adição de etileno glicol permite a forn1ação de um éster e a polimerização é
que os íons metálicos estão ligados a matriz orgânica. Esta deve então ser aquecida
com o intuito de remover o excesso de solvente e formar uma resina. Após esta ser
calcinada, de modo a remover o material orgânico, temos como resultado metais
quimicamente misturados e com a estequiometria desejada.
O método Pechini possui a vantagem de fornecer materiais com
características bem definidas (pós nanométricos e filmes bastante homogêneos).
Possibilita ainda controle e homogeneidade nas dopagens. Variando-se as condições
CAPITULO 2.0
MATERIAIS E MÉTODOS
2.1 SÍNTESE DOS PÓS
2.1.1. - Síntese dos pós via reação no estado sólido (MO).
Os precursores empregados para a produção dos pós via reação no estado
sólido são listados na Tabela 2.1. A massa dos reagentes foi medida em uma balança
analítica (Mettler- Toledo PR2003) conforme as razões estequiométricas:
BaZr03 ~ 1(BaC03):1(Zr02),
BaTio,9sZro,os03 ~ 1(BaC03):0,95(Ti02):0,05(Zr02),
BaTiü,nZrü,üs03 ~ 1(BaC03):0,92(Ti02):0,08(Zr02).
Para diminuir o tamanho médio de partícula dos precursores e obter uma
mistura homogênea dos pós efetuou-se, inicialmente, o processo de moagem em
moinho de bolas (Marconi, modelo MA500). A mistura dos óxidos foi acondicionada
em recipiente plástico juntamente com cilindros de Zr02 (com diâmetro de 0,7 mm e
altura 0,8 mm) e álcool isopropílico como solvente para o meio. Utilizou-se a
proporção em volume de 10:60:30, respectivamente, para os reagentes, cilindros de
Zr02 e álcool isopropílico. A proporção acondicionada no recipiente plástico foi
determinada observando-se o movimento dos cilindros de Zr02; estes deveriam ir até
o ponto mais alto do recipiente plástico durante a rotação e então cair sobre os
reagentes. Submeteu-se a mistura a tempos sucessivos de 12 horas, em que se
realizou o acompanhamento da evolução do tamanho de partícula utilizando a técnica
de sedigrafia. Após os pós homogeneizados, estes foram calcinados e, então,
de modo a diminuir a quantidade de aglomerados. Após secos, em estufa, os pós
foram conformados em pastilhas de 6mm de diâmetro por 2mm de espessura sob
diferentes pressões, sempre de forma uniaxial. As medidas de densidade a verde
foram realizadas pelo método geométrico. A Figura 2.1 ilustra o fluxograma usado
na preparação dos pós de BZO 100 e BTZO.
Tabela
2.1 -
Reagentes utilizados para a produção dos pós via reação no estadosólido.
ReagentesFormula QuímicaPureza Fabricante
(%)
Óxido de Titânio
TiOz Strem Chemicals99,0
Óxido de Zircônio
ZrOz Alfa Aesar99,0
Carbonato de Bário
BaC03
I
I
~
(
..EíaCO",Ti02
Lr")2 - J
'1Eír(-"O~.·'17rCl
1
(EíaC03): O,95(Ti O2):O,05(Zr02)d.._,
.:J' - '-21
(EíaC03): O,92(Ti02): O,08(Zr02)t\iloagern
C:ilinelros ele Zr02I
Seeligrafia
I
An áli se T érrn ica I C::alcinação('1200°C/21-1)
I ~o/loagern"12h t",/lE\/
I DRX I
ConforrnaçãoUniaxial I Densificação
2.1.2 -Síntese dos pós pelo método de Pechini.
Preparação dos Citratos
A síntese do citrato de zircônio e do citrato de titânio foi baseada na
metodologia usada por Bernardi (2001) e é apresentada no fluxograma da Figura 2.2.
Os compostos utilizados estão listados na Tabela 2.2. Inicialmente foi
preparada solução aquosa de ácido cítrico (14g de ácido cítrico para 100ml de HzO).
A solução foi adicionado isopropóxido de zircônio ou titânio. Os reagentes foram
submetidos a agitação continua, até sua total dissolução, resultando em uma solução
límpida e estável.
A concentração de ZrOz e TiOz nos citratos correspondentes, foi determinada
utilizando a técnica de gravimetria. Nesta técnica, uma quantidade conhecida em
massa de citrato é acondicionada em recipiente de platina e levada ao forno a
temperatura de 700°C por 4 horas. Três amostras foram avaliadas para cada citrato.
As massas que restam nos recipientes são determinadas e obtêm-se assim a relação
entre óxido/citrato. A relação óxido/citrato foi utilizada para a produção das resinas.
Resina de BaZr03
Ao citrato de zircônio foi adicionado lentamente o precursor acetato de bário.
Adicionou-se etilenoglicol na proporção 40:60 em relação ao ácido cítrico total da
solução (Pechini, 1967). De acordo com Weber
&
Bernardi (1999, 2001) o pH deve ser mantido em valores entre 3 e 4 para que não haja precipitação. O controle do pHfoi realizado utilizando etilenodiamina. A solução foi aquecida a temperaturas entre
90°C e 100 ° C de modo a eliminar a água.
O material foi tratado termicamente em dois estágios. Inicialmente foi
o material orgânico. Em seguida, foi calcinado no intervalo de temperatura entre
600°C e 1000°C, com taxa de aquecimento de 10°C/min. O intervalo de temperatura
foi escolhido baseado nos resultados de análise ténnica. Os reagentes empregados
estão listados na Tabela 2.2 e a. preparação esta esquematizada no fluxograma da
Figura 2.2.
Tabela 2.2-Reagentes utilizados para a produção dos pós via método de Pechini
Reagentes Formula Química Fabricante Pureza
(%)
Isopropóxido de ZircônioAlfa Aesar97,0 Zr(OC3H7)4
Isopropóxido de Titânio
Ti(OC3H7)4
Alfa Aesar97,0
Acido cítrico
C6HS07.H20
Synth99,0
Etilenoglicol
C2H602
Mallinckrott99,9
Carbonato de Bário
BaC03 Riedel 99,0
Acetato de Bário
(CH3COO)2Ba Baker Analyzed99,0
Etilenodiamina
Citrato eleZr Agitação
Controle ele pH
~H8N2
Análise Térmica
Calcinação
MEV
DRXConformação Uniaxial
Figura 2.2 - Fluxograma para obtenção dos pós de BZOIOO via método de Pechini.
Resina de BTZ05 e BTZ08
o
mesmo procedimento experimental, Figura 2.3, foi utilizado para apreparação das resinas de BTZO, com a diferença de termos utilizado como
precursor para o bário o BaC03, ao invés do acetato de bário. Os reagentes
empregados estão listados na Tabela 2.2.
AÇJitação
Gravimetria
Resina
Agitação
Controle de pH
C2HaN2
Análise Térmica
Calcinação
IvlEV
Conforrnação Uniaxial
Densificação
DRX
Figura
2.3 -Fluxograma para obtenção dos pós cerâmicos de BTZ05 e BTZ08, via
método de Pechini
2.2 MÉTODOS DE CARACTERIZAÇÃO
2.2.1 -
Sedigrafia
Durante o processo de moagem do pó cerâmica, produzido por reação no
estado sólido, a distribuição de tamanho e o diâmetro médio das partículas foi
velocidade limite v com a qual uma partícula escoa em um fluido sem turbulência.
Considerando as partículas como sendo esféricas, é possível calcular seu diâmetro,
utilizando a Lei de Stokes para a força de atrito do fluido para um corpo esférico em
queda,
Fs
=
-K7]v,
(2.1)em que
K
=
37rD é um fator de forma, 1]é a viscosidade eD
é o diâmetro da partícula esférica do fluido, assim tem-se:187]v
(p- pJg'
(2.2)em que
p
é a densidade do material, Po é a densidade do fluido utilizado e g é aaceleração da gravidade. Para partículas não esféricas o diâmetro de Stokes é o
diâmetro da esfera de mesmo material, que tenha a mesma velocidade de
sedimentação sob as mesmas condições (Macedo, 2003).
o
equipamento utilizado em nosso trabalho foi o Sedigraph 5100 daMicromeritics. Este equipamento nos fornece a curva da massa acumulada como
função do diâmetro e um histograma de distribuição do tamanho de partícula. Para a
medida, a amostra em forma de pó é dispersa em um meio líquido de densidade
conhecida. A concentração das partículas em suspensão em função do tempo e da
altura da célula de sedimentação, é determinada pelo espalhamento de um feixe de
raios X em nosso equipamento.
2.2.2 -Análise Térmica
Quando um material sofre uma reação físico-química ou transformação
estrutural durante um processo térmico, ele libera (reação exotérmica) ou absorve
da amostra é comparada com a de uma referência inerte durante um programa de
variação de temperatura a taxa constante. A curva de DT A registra as diferenças
entre as temperaturas da amostra e da referência inerte padrão em função da
temperatura da fonte de calor. As reações exotérmicas e endotérmicas são
determinadas e correspondem a vales e picos nas curvas de DT A. A análise da
variação da massa da amostra durante o processo térmico nos fornecem as curvas da
análise termogravimétrica (TG) (Reed, 1995).
As análises térmicas foram realizadas para os pós precursores com o intuito
de determinar as temperaturas ótimas para calcinação. Para a análise foi utilizado o
equipamento STA409/NETZSCH. A análise foi realizada em atmosfera de ar
sintético, a uma taxa de aquecimento de 10 °C/min, no intervalo de temperatura de
25°C a 1400 oCo
2.2.3 - Difratometria de Raios X
Para análise do grau de cristalização dos pós calcinados e respectivos
parâmetros de rede, empregou-se a técnica de difração de raios X.
O difratômetro utilizado foi o Rigaku Rotaflex RU-200B, com radiação
Ka
do Cu. O sistema de medidas é composto basicamente de uma fonte mono cromática
de raios X incidindo na amostra a ser estudada, e um detetor para coletar os raios
difratados.
Se um feixe de raios X incidir com uma dada freqüência sobre um átomo
isolado, elétrons deste átomo serão excitados e vibrarão com a freqüência do feixe
incidente. Em outras palavras, o átomo isolado espalha o feixe incidente de raios X
em todas as direções. Por outro lado, quando átomos estão regularmente espaçados
ordem deste espaçamento, ocorrerá interferência construtiva em certas direções e
interferência destrutiva em outras (Silva, 2003).
Considerando-se dois planos paralelos da rede cristalina separados pela
distância d, como indicado na Figura 2.4, determinamos que a diferença de caminho
para raios refletidos por planos adjacentes é de 2dsen8, onde 8 é medido a partir do
plano. Se verificamos que interferência construtiva ocorre, então podemos escrever
que:
2dsenB
=
n (2.3)em que  é o comprimento de onda da radiação. Essa relação é conhecida como lei
de Bragg.
Figura 2.4 - Desenho esquemático para determinar a diferença de caminho entre
dois planos atômicos paralelos, d éa separação entre osplanos (Kitell, 1978).
Nossas análises de difratometria de pó foram realizadas num intervalo de
varredura de 28
=
20° a 80°, passo de 0,02° e tempo de aquisição de 2s por passo.2.2.4 -Medidas de Densidade
As densidades dos corpos sinterizados foram determinadas utilizando a lei de