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UTILIZAÇÃO DE ANALISADORES DE IMAGENS COMO RECURSO PARA UMA NOVA METODOLOGIA DE ENSINO DE MATERIAIS PARA ENGENHARIA

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Academic year: 2021

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NTM - 231

UTILIZAÇÃO DE ANALISADORES DE IMAGENS COMO

RECURSO PARA UMA NOVA METODOLOGIA DE ENSINO DE

MATERIAIS PARA ENGENHARIA

Milton Vieira Junior; André de Lima Faculdade de Engenharia Mecânica e de Produção

Universidade Metodista de Piracicaba

Rod. Santa Bárbara – Iracemápolis, Km 01 – Santa Bárbara D’Oeste – SP 13450-310 – Fone: (019) 4301785 – Fax: (019) 4551361

femp@unimep.br

Resumo: O ensino de Materiais Para Engenharia, principalmente no que se refere às aulas práticas

de metalografia, baseia-se normalmente no uso de microscópios ópticos pelos alunos e professores.

Isso causa uma certa dificuldade, pois nem sempre ambos consegue visualizar os fenômenos em

destaque ao mesmo tempo, dada a diferença de experiência e de percepção existente entre os docentes

e os discentes. Para tentar solucionar esse problema, muitos docentes recorrem ao uso de fotografias

previamente obtidas e reveladas. Entretanto, mesmo esse recurso apresenta ainda o mesmo tipo de

problema (nem sempre a foto corresponde à amostra analisada), além de demandar tempo para

preparação da fotografia. O desenvolvimento de recursos computacionais de análise de imagens vem

de encontro a esses problemas e pode quebrar essas barreiras, facilitando a interpretação de

metalografias por parte dos discentes, além de ser um recurso metodológico importante para o

docente. O presente trabalho apresenta experiências desenvolvidas pelos docentes da área de

Materiais da FEMP-UNIMEP na utilização de analisadores de imagens como um recurso

metodológico para aulas práticas.

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1. INTRODUÇÃO

As inovações tecnológicas que surgiram nos últimos anos têm levado ao ensino de engenharia uma importante questão: como adaptar a formação de engenheiros dentro de um cenário de mudanças e inovações? Longo [1] trouxe para a discussão o papel do professor dentro desse novo contexto. Silva [2] discorre sobre a necessidade de que o professor modifique sua postura no papel de educador como forma de consecução dos objetivos propostos em um processo de ensino-aprendizagem. Já Longarezzi et all [3] afirmaram que, além das constantes inovações tecnológicas, uma outra variável deve ser considerada nesse cenário de desafio metodológico: as diretrizes curriculares.

Em todas as afirmações observadas acima nota-se que a utilização de novas metodologias de ensino é uma das principais ferramentas, senão a principal, de que o docente deve dispor para atender às novas demandas.

Na área de Materiais Para Engenharia essa realidade não é diferente. As aulas tradicionais de laboratório, especialmente na parte que se refere ao estudo de microscopias, estão sendo reavaliadas e diferentes recursos tecnológicos estão sendo introduzidos. Um desses recursos é a utilização de Analisadores de Imagens como ferramenta de suporte para o estudo de metalografias e para aulas práticas de microscopia.

No presente trabalho é feita uma comparação entre o método tradicional de ensino prático de Materiais Para Engenharia e o método que utiliza-se do Analisador de Imagens como ferramenta de suporte. Ainda são apresentados alguns dos recursos que essa ferramenta possibilita, visando firma-la como um facilitador na introdução de uma metodologia diferenciada para o ensino prático de Materiais.

2. AULAS PRÁTICAS DE MATERIAIS PARA ENGENHARIA – MÉTODO TRADICIONAL

Tradicionalmente, o ensino prático de Materiais Para Engenharia tem como base a utilização de análises metalográficas e microscopias. Para tanto, os laboratórios de Materiais possuem, em geral, uma sala de microscopia na qual existem diversos microscópios de metalografia. É nesses microscópios que os alunos devem identificar as várias estruturas dos materiais, as possíveis imperfeições e variações destas, entre outras características. Uma configuração típica de uma sala de microscopia é mostrada na figura 1.

Pode-se perceber que além dos microscópios, geralmente existem algumas fotografias de estruturas anteriormente identificadas e que estão disponíveis como exemplo para que o aluno estabeleça uma correlação entre a imagem da fotografia e aquela que está sendo observada.

Entretanto, por mais que o professor se esforce e por mais que a imagem fotografada seja próxima daquela em observação, muitas vezes o aluno não identifica a característica a ser estudada. Isso deve-se, principalmente, ao fato de que o professor e o aluno não estão observando a mesma imagem no mesmo instante, ou seja, o professor pode identificar a característica de interesse, mas não a observa em conjunto com o aluno. Além disso, não pode aponta-la no momento em que o aluno está realizando suas observações.

Como decorrência disso, muitas vezes o professor recorre às fotografias como forma de exemplificar e identificar de modo mais interveniente a(s) característica(s) de interesse.

Esse método, utilizado já há muito tempo, deixa a desejar quando nem o professor e nem o aluno têm a certeza de que estão observando a mesma imagem. São muito comuns os casos em que o aluno comunica ao professor uma dificuldade em identificar determinada estrutura, e quando este observa a imagem no microscópio identifica que o aluno está analisando uma região diferente daquela de interesse (em muitas ocasiões o aluno está fazendo uma observação da resina de embutimento da amostra e não desta propriamente).

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Figura 1 – Configuração típica de uma sala de microscopia em um Laboratório de Materiais Para Engenharia.

3. AULAS PRÁTICAS DE MATERIAIS PARA ENGENHARIA UTILIZANDO O RECURSO DE ANALISADORES DE IMAGENS

Existem conceitos dentro do campo dos Materiais Para Engenharia que, mesmo necessitando de um grande dispêndio de tempo não podem deixar de ser tratados e observados como elemento de grande importância no escopo dos cursos de engenharia.

O Analisador de Imagens passa então a ser uma ferramenta que permite ilustração real e instantânea desses conceitos, dando ao aluno maior clareza e envolvimento na interpretação de fenômenos ocorridos ou gerados no interior dos materiais em questão, e possibilitando uma análise mais aprofundada tanto dos aspectos microscópicos, como dos macroscópicos.

A figura 2 mostra uma câmera CCD acoplada a um microscópio metalográfico. Essa câmara está ligada a um microcomputador por meio de uma placa sincronizadora (“frame graber”) e a imagem nela obtida pode ser visualizada e analisada através de um “software” de Análise de Imagens (“Global Lab Image View”).

A imagem obtida através da câmera é mostrada na tela do monitor do microcomputador ou projetada por meio de um projetor multimídia, permitindo que o professor demonstre e identifique as características de interesse no exato momento em que as está explicando para os alunos. A figura 3 mostra um exemplo de imagem sobre a qual o professor pode trabalhar com o uso desse recurso, destacando a realização de uma medição dimensional de uma camada afetada por processo de usinagem [4], a verificação de concentração de grãos de uma determinada fase [5] e a identificação de uma variação no perfil de tonalidade ao longo de uma direção [6].

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professor pode realizar algumas observações preliminares junto ao aluno que está fazendo as análises no microscópio, facilitando assim o processo de visualização das amostras.

Ao salientar as características e vantagens do analisador de imagem é interessante lembrar as melhorias conseguidas com relação ao desenvolvimento de uma das mais tradicionais aula de materiais, a determinação dos percentuais de fase, que outrora demandava um tempo considerável para que o aluno pudesse realmente compreender e assimilar o que realmente o professor tentava expor por meio de fórmulas, cálculos e esboços, com propósito de ilustrar tal fenômeno.

Um outro exemplo claro de melhoria, pode ser percebido facilmente em uma prática desenvolvida com o propósito de demonstrar o comportamento físico e micro estrutural de um metal não ferroso, neste caso em particular, a análise do Níquel. Nessa prática, conhecida como "Recuperação, Recristalização e Crescimento de Grãos", um total de dez amostras são preparadas para demonstrar e retratar as etapas desse ciclo (recuperação, recristalização e crescimento). Cada amostra representa uma das etapas envolvidas no processo1, no qual é feito um acompanhamento geral da estrutura granular do material, saindo de seu estado original, passando para estruturas cujos grãos se deformam, tem uma seqüência de ampliação granular crescente ao longo das amostras até chegar à ultima amostra, na qual o aluno depara com uma estrutura muito próxima do estado original encontrado na 1ª amostra. Traduzindo este exemplo para números, pode-se observar algo do tipo: para a preparação de uma aula desse tipo na forma tradicional, é necessário um volume de pelo menos oito conjuntos de amostras para cada microscópio a ser utilizado (o que depende do número de alunos envolvidos na aula). No caso de serem necessários dez microscópios para a aula, isso implica na preparação de oitenta (80) amostras. O tempo estimado de preparação de cada uma das amostras, desconsiderando todo o tempo gasto com a preparação térmica das amostras, é de aproximadamente quarenta (40) minutos. Com o recurso do Analisador de Imagem é necessário o preparo de apenas um conjunto de amostras que podem ser observadas simultaneamente por todos.

4. CONCLUSÕES

As mudanças metodológicas são um fator importante para auxiliar novas concepções de ensino de engenharia que vêm sendo estudadas e desenvolvidas.

Na área de ensino de Materiais Para Engenharia, a necessidade de introdução de uma nova metodologia voltada para aulas práticas foi claramente identificada e propôs-se a introdução de Analisadores de Imagem como recurso facilitador de uma nova metodologia.

Os Analisadores podem auxiliar em diversos tipos de aula prática de Materiais, desde a simples análise metalográfica (com a identificação de fases e de transformações), até a medição de elementos dimensionais (profundidade de uma camada afetada por processo de usinagem) e/ou percentuais (concentração de grãos ou de fase). Também pode ser citada a vantagem na redução da preparação de amostras repetidas em determinadas práticas.

Entretanto, é na interação aluno/professor através da utilização do recurso de visualização imediata de imagens, que pode ser identificada a maior contribuição metodológica obtida a partir do uso de Analisadores de Imagens em aulas práticas de Materiais Para Engenharia.

5. BIBLIOGRAFIA

[1] Longo, H.I. Aspectos Pedagógicos e Ideológicos das Novas Tecnologias Aplicadas ao Ensino. 27º Congresso Brasileiro de Ensino de Engenharia, Natal-RN, Setembro, 1999.

[2] Silva, P.A.L. O Professor da Era Industrial na Idade da Informação. 27º Congresso Brasileiro de Ensino de Engenharia, Natal-RN, Setembro, 1999.

[3] Longarezzi, A.; Lima, E.F.; Tancredi, R.M.S.P. Desafios Metodológicos Decorrentes das Novas Diretrizes Curriculares. 27º Congresso Brasileiro de Ensino de Engenharia, Natal-RN, Setembro, 1999.

[4] Lima, A. ;Vieira Jr., M.; Libardi, R.; Cancilieri, H. Análise da Camada Afetada Pelo Calor na Superfície de Peças Retificadas. IV Seminário de Desgaste, Associação Brasileira de Metalurgia – ABM, São Paulo, Julho, 1998.

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material em seu estado original; material encruado 40%; material encruado e aquecido a 500°c durante 1 hora; material encruado e aquecido a 600°c durante 1 hora; material encruado e aquecido a 625°c durante 1 hora; material encruado e aquecido a 650°c durante 1 hora; material encruado e aquecido a 700°c durante 1 hora; material encruado e aquecido a 800°c durante 1 hora; material encruado e aquecido a 900°c durante 1 hora; e material encruado e aquecido a 900°c durante 2 horas

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[5] Lima, A.; Vieira Jr., M.; Coppini, N.L.; Miranda, G.W.A. A Brief Study of Heat Affected Zone (HAZ) Formation in Optimized Drilling Process. 16th International Conference on Production Research, Prague – Czech Republic, Julho, 2001.

[6] Lima, A.; Vieira Jr., M.; Libardi, R.; Cancilieri, H.A. Influência das Condições de Retificação Sobre a Formação da Camada Afetada Pelo Calor na Superfície de Peças Retificadas. V CIDIM – Congreso Iberoamericano de Inginieria Mecanica, Santiago – Chile, Novembro,1999.

Referências

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