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Semicondutores. CF086 - Introdução a Física do Estado Sólido 1

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(1)

Semicondutores

(2)

Introdução

 Vimos que um dado sólido pode apresentar bandas de energia, que podem estar totalmente vazias, totalmente preenchidas ou

(3)

Introdução

 Isolante em 𝑇 = 0: bandas vazias ou totalmente preenchidas. A última banda preenchida num isolante está separada da banda vazia

imediatamente superior por um gap.

 Num isolante, o gap é alto (∼> 3 eV) e a resistividade elétrica também (𝜚 ∼ 1020 Ω ⋅ m).

(4)

Introdução

 Para gaps da ordem de alguns décimos de eV até ∼ 3 eV, temos

semicondutores. As resistividades são menores (𝜚 ∼ 10−5 − 107 Ω ⋅ m) (para metais, 𝜚 ∼ 10−8Ω ⋅ m).

(5)

Introdução

 Por causa do gap menor, quando 𝑇 ≠ 0 há uma probabilidade de ocupação dos estados maior, de modo que os elétrons que

(6)

Introdução

 Outra grandeza importante é a densidade de portadores.

 Vamos comparar os comportamentos para isolantes e condutores.

(7)

Introdução

 Densidade de estados para elétrons livres (3D):

 𝒟(𝜖) fornece o número de estados, mas não diz se ele está ocupado.  Distribuição de Fermi-Dirac 𝒟 𝜖 = 2𝑚 ℏ2 3 2 𝑉 4𝜋2 𝜖 1 2 𝑓 𝜖 = 1 𝑒𝛽 𝜖−𝜇 + 1 𝑓 𝜖, 𝑇 = 0 = ቊ1,0, 𝜖 < 𝜇𝜖 > 𝜇

(8)

Introdução

 Número médio de elétrons: 𝒟 𝜖 𝑓(𝜖).

Em metais, 𝑇 = 0: banda

semipreenchida.

Os níveis são preenchidos até uma

energia máxima: energia de Fermi

𝐸

𝐹

.

(9)

Introdução

Quando 𝑇 ≠ 0: 𝒟(𝜖) é o mesmo, mas

𝑓(𝜖) muda em torno de 𝐸

𝐹

= 𝜇(𝑇 =

0), na faixa ±2𝑘

𝐵

𝑇 em torno de 𝐸

𝐹

.

Os elétrons excitados termicamente

dão origem à corrente elétrica.

Para metais, ocorre excitação em

qualquer 𝑇. Estimativa do número

relativo de elétrons: Δ𝑁

𝑇

/𝑁 ∼ 1 %

(10)

Semicondutores

 A ideia é similar para semicondutores e isolantes. As bandas são separadas por um gap.

 Última banda preenchida: banda de valência (BV).  Banda vazia superior à BV: banda de condução (BC).  Diferença entre o topo da BV e a base da BC: gap 𝐸𝑔.

(11)

Semicondutores

 Potencial químico 𝜇(𝑇), ou nível de Fermi: próximo ao meio do gap, varia pouco com 𝑇 (veremos depois).

𝜇(𝑇) regula o fluxo de

partículas (Termodinâmica).

𝒟 𝜖 = 0 no gap. Não é dada

(12)

Semicondutores

Para 𝑇 = 0, 𝑓 𝜖 = 0 se 𝜖 > 𝜇(0).

Logo, 𝑓 𝜖 = 0 para 𝜖 > 𝐸

𝑔

.

Não há elétrons de condução.

Para 𝑇 > 0, 𝑓(𝜖) permite alguns

elétrons na BC.

Estimativa (𝑇 = 300 K, quadro):

Δ𝑁/𝑁 ∼ 10

−52

, 𝐸

𝑔

= 6 eV. Δ𝑁/𝑁 ∼

10

−9

, 𝐸

= 1 eV.

(13)

Semicondutores

 Note que, quando 𝑇 cresce, o número de elétrons excitados termicamente cresce, e a condutividade aumenta.

 Esse comportamento é oposto ao exibido por metais, onde 𝜚 cresce com 𝑇 (e a condutividade decresce). Em metais,

 e 𝜏𝑒𝑙 diminui com 𝑇, pois há mais colisões.

 Semicondutores têm coeficientes de temperatura para a resistividade negativos ⇒ propriedade que os fez se destacarem no séc. XIX.

𝜎met = 𝑒

2

𝑚 𝑁 𝑉 𝜏𝑒𝑙

(14)

Semicondutores

 A excitação térmica pode fazer com que elétrons passem da BV para a BC. Essa é a origem da condutividade intrínseca do semicondutor.

 Semicondutor intrínseco: condutividade é dominada por efeitos térmicos.

(15)

Semicondutores

 Ao excitar um elétron da BV para a BC, a BV fica com a ausência de um elétron.

 A BV estava totalmente preenchida. Assim, o momento total dela era nulo. Não há movimento ordenado de cargas ao aplicar um campo elétrico fraco (𝐸campo ≪ 𝑘𝐵𝑇).

 Com um elétron a menos, o momento total deixa de ser nulo, e torna-se possível alterar estados eletrônicos na BV.

(16)

Semicondutores

 A ausência de um elétron se comporta como uma carga positiva, chamada “buraco”.

 O buraco tem carga oposta à do elétron.

 Elétrons no topo da BV têm massas efetivas negativas, pois a BV é côncava para baixo.

(17)

Semicondutores

 Ao aplicar um campo elétrico sobre os buracos, eles se comportam de maneira “normal” ⇒ movem-se no mesmo sentido que o campo.

 Há outros modos de alterar a condutividade, além do térmico.

 Incidindo radiação com energia da ordem do gap ou maior, os elétrons da BV podem ser fotoexcitados ⇒ fotocondutividade.

(18)

Semicondutores

 Há outro modo de alterar a condutividade ⇒ impurezas.  Suponha que uma pequena quantidade de arsênio (As) seja

(19)

Semicondutores

 Ge: tetravalente, As: pentavalente.

 Ao trocar Ge ⇒ As, o As faz 4 ligações com o Ge, e um elétron fica “flutuando” em torno do As.

 O As se comporta como um núcleo com uma carga positiva +𝑒, envolto por um elétron “orbitando” esse núcleo ⇒ átomo de hidrogênio, com níveis discretos dentro do gap.

(20)

Semicondutores

 O meio blinda a força elétrica ⇒ permissividade elétrica 𝜖, e não 𝜖0. Permissividade elétrica relativa 𝜖𝑟.

 A massa do elétron é substituída pela massa efetiva 𝑚∗.

 Estimativa: 𝐸1𝑑 ∼ 0,01 eV, para 𝑚∗ = 0,2𝑚, 𝜖𝑟 = 16.

𝐸𝑛𝑑 = − 1 4𝜋𝜖 2 𝑚∗𝑒4 2ℏ2𝑛2 = 𝑚∗ 𝑚𝜖𝑟2 𝐸𝑛𝐻

(21)

Semicondutores

 O pequeno valor da energia dos níveis doadores faz com que seja fácil excitar termicamente os portadores para a BC.

 Os níveis doadores ficam logo abaixo da BC, no nível 𝐸𝑑, abaixo de 𝐸𝑐. As é uma impureza doadora.

(22)

Semicondutores

 Considere a substituição de um Ge por um gálio (Ga).  Ga: trivalente.

 A ideia é similar, mas agora temos falta de um elétron, e não excesso.  Há um núcleo de carga −𝑒 e um buraco orbitando esse núcleo.

(23)

Semicondutores

 Os níveis são níveis de buracos. Assim, elétrons podem passar da BV para estes níveis aceitadores (de elétrons) por excitação térmica.

(24)

Semicondutores

 Quando elétrons passam da BV para um nível aceitador 𝐸𝑎, geram buracos na BV, que podem conduzir.

 Ga: impureza aceitadora.

 Semicondutor tipo 𝑛 (negativo): níveis doadores.  Semicondutor tipo 𝑝 (positivo): níveis aceitadores.

(25)

Semicondutores

 Representação gráfica:

(26)

Semicondutores

 Num semicondutor intrínseco (não dopado), o número de estados vazios na BV é igual ao número de elétrons na BC.

 𝜇 (nível de Fermi) fica próximo ao centro do gap.  Bandas simétricas:

𝜇 𝑇 = 0 = 𝐸𝑣 + 𝐸𝑔 2

(27)

Semicondutores

 Semicondutor extrínseco: situação mais complicada.

 Semicondutor tipo 𝑛: em 𝑇 = 0, 𝜇 fica entre 𝐸𝑑 e 𝐸𝑐. Quando 𝑇 cresce, elétrons passam de 𝐸𝑑 para 𝐸𝑐, e 𝜇 cai.

 Quando metade dos elétrons passa de 𝐸𝑑 para 𝐸𝑐, 𝜇 = 𝐸𝑑.

 Aumentando 𝑇, elétrons da BV passam para a BC, e 𝜇 cai ainda mais, indo em direção a 𝐸𝑣 + 𝐸𝑔/2.

(28)

Semicondutores

 Semicondutor tipo 𝑝: em 𝑇 = 0, 𝜇 fica entre 𝐸𝑣 e 𝐸𝑎. Quando 𝑇

cresce, buracos passam de 𝐸𝑑 para 𝐸𝑣, e 𝜇 cresce, indo em direção a 𝐸𝑣 + 𝐸𝑔/2, de forma similar ao que ocorre no tipo 𝑛.

(29)

Semicondutores

 O próprio gap varia com 𝑇:

 As dimensões da rede se alteram, e, com isso, as bandas e os intervalos entre elas também mudam.

(30)

Semicondutores

 Há dois tipos de gaps:

 Gap direto: mínimo da BC e máximo da BV ocorrem para o mesmo valor de 𝑘. Assim, eles estão verticalmente alinhados num gráfico ℰ × 𝑘.

Note que o momento transferido

pelo fóton é muito pequeno quando comparado com o do elétron.

➢ Os vetores 𝑘 para o elétron antes e

(31)

Semicondutores

 Gap indireto: mínimo da BC e máximo da BV ocorrem para valores diferentes de 𝑘.

 Para haver conservação de momento, um fônon deve participar da transição.  O fônon pode ser absorvido + ou criado − .

𝑘𝑐 = 𝑘𝑖 + Ԧ𝑞 𝐸𝑔 = ℏ𝜔 ± ℏΩ

(32)

Semicondutores

 Os níveis de energia importantes em transições eletrônicas são os que ficam próximos ao topo da BV e na base da BC.

 De forma genérica, estas bandas pode ser escritas como

ℰ 𝑘 = ℰ𝑐 + ℏ 2 2 ෍ 𝜇𝜈 𝑘𝜇 𝑀෩−1 𝑘𝜈 , elétrons ℰ 𝑘 = ℰ𝑣 − ℏ 2 2 ෍𝑘𝜇 𝑀෩−1 𝑘𝜈 , buracos

(33)

Semicondutores

 ℰ𝑐: base da BC, ℰ𝑣: topo da BV.

 ෩𝑀: tensor de massa efetiva. Na forma diagonal, temos

 As bandas são elipsoides de energia constante (em 𝑘).

ℰ 𝑘 = ℰ𝑐 + ℏ2 𝑘1 2 2𝑚1 + 𝑘22 2𝑚2 + 𝑘32 2𝑚3 , elétrons ℰ 𝑘 = ℰ𝑐 − ℏ2 𝑘1 2 2𝑚1 + 𝑘22 2𝑚2 + 𝑘32 2𝑚3 , buracos

(34)

Semicondutores

 Si: 6 bandas de condução em 〈1 0 0〉.

(35)

Semicondutores

(36)

Propriedades dos Buracos

 Buracos: carga oposta à do elétron.

 Vetor de onda do elétron: 𝑘𝑒. Vetor de onda do buraco (hole):

 Nível de energia zero no topo da BV. Elétrons nela têm energias negativas. Assim, a energia do buraco é

𝑘 = −𝑘𝑒

(37)

Propriedades dos Buracos

 Velocidade do buraco:

 Massa efetiva:

 Equação de movimento sob campo eletromagnético:

Ԧ𝑣 = Ԧ𝑣𝑒 ⇒ 𝛻𝜖 𝑘 = 𝛻𝑒𝜖𝑒 𝑘𝑒

𝑚∗ = −𝑚𝑒

ℏ𝑑𝑘ℎ

(38)

Propriedades dos Buracos

 Densidade de corrente:

 elétrons na BC: Ԧ𝐽𝑒  buracos na BV: Ԧ𝐽

 as duas orientam-se no mesmo sentido

 Notar que

 É importante poder determinar 𝑛 ⇒ efeito Hall.

Ԧ𝐽 = 𝜎𝐸 Ԧ𝐽 = 𝜚 Ԧ𝑣 𝜚 = 𝑁

(39)

Efeito Hall

 Na presença de um campo magnético, temos

 ou, reescrevendo,

 ി𝑟: tensor resistividade elétrica

Ԧ𝐽 = ി𝜎 ℬ ⋅ 𝐸

𝐸 = ി𝑟 ℬ ⋅ Ԧ𝐽

(40)

Efeito Hall

 Para determinar 𝑟𝑖𝑗, usa-se a configuração abaixo, chamada configuração padrão.

(41)

Efeito Hall

 Na situação estacionária 𝐽𝑦 = 0. Assim,

 Desenvolvendo,  Magnetoresistividade longitudinal: 𝑟𝑥𝑥 ℬ = 𝐸𝑥 𝐽𝑥 𝐸𝑥 𝐸𝑦 = 𝑟𝑥𝑥 𝑟𝑥𝑦 𝑟𝑦𝑥 𝑟𝑦𝑦 𝐽0𝑥 𝐸𝑥 = 𝑟𝑥𝑥 ℬ 𝐽𝑥 , 𝐸𝑦 = 𝑟𝑦𝑥 ℬ 𝐽𝑥

(42)

Efeito Hall

 Magnetoresistividade transversal (resistividade Hall):

 Coeficiente Hall:  Tensão Hall: 𝑟𝑦𝑥 ℬ = 𝐸𝑦 𝐽𝑥 𝑉𝐻 = 𝑌𝐸𝑦 𝑅𝐻 = 𝑟𝑦𝑥 ℬ = 𝐸𝑦 𝐽𝑥

(43)

Efeito Hall

 Modelo 1:

 um tipo de portador (elétrons), banda isotrópica, densidade numérica 𝑛 e massa efetiva 𝑚∗.

 meio dissipativo: modelado por um tempo de relaxação 𝜏.

 Equação de movimento:

𝑚∗𝑑 Ԧ𝑣

𝑑𝑡 = −𝑒𝐸 − 𝑒 Ԧ𝑣 × ℬ − 𝑚∗

(44)

Efeito Hall

 Situação estacionária: 𝑑𝑣 𝑑𝑡 = 0  Frequência cíclotron: 𝜔𝑐 = 𝑒ℬ 𝑚∗ Ԧ𝑣 = − 𝑒𝜏 𝑚∗𝐸 − 𝑒𝜏 𝑚∗ Ԧ𝑣 × ℬ

(45)

Efeito Hall

 Desenvolvendo, chega-se a (quadro):

 Então: ി 𝑟 ℬ = 𝑚∗ 𝑛𝑒2𝜏 1 𝜔𝑐𝜏 −𝜔𝑐𝜏 1 𝐽𝑥 = 𝑛𝑒 2𝜏 𝑚∗ 𝐸𝑥 − 𝜔𝑐𝜏𝐸𝑦 1 + 𝜔𝑐2𝜏2 𝐽𝑦 = 𝑛𝑒2𝜏 𝑚∗ 𝜔𝑐𝜏𝐸𝑥 + 𝐸𝑦 1 + 𝜔𝑐2𝜏2

(46)

Efeito Hall

 Magnetoresistividade longitudinal:  Magnetoresistividade transversal:  Coeficiente Hall: 𝑟𝑥𝑥 = 𝑚 ∗ 𝑛𝑒2𝜏 𝑟𝑦𝑥 = − ℬ 𝑛𝑒

(47)

Efeito Hall

 Modelo 2: dois portadores:

 elétrons: massa efetiva 𝑚1 = 𝑚1∗, densidade numérica 𝑛, tempo de relaxação 𝜏1, frequência cíclotron 𝜔1.

 buracos: massa efetiva 𝑚2 = 𝑚2∗, densidade numérica 𝑝, tempo de relaxação 𝜏2, frequência cíclotron 𝜔2.

(48)

Efeito Hall

 Magnetocondutividade: soma das duas contribuições:

 onde: ി 𝜎 ℬ = 𝐴𝐶1 −𝐶1 1 𝐴1 + 𝐴2 −𝐶2 𝐶2 𝐴2 = 𝐴1 + 𝐴2 −𝐶1 − 𝐶2 𝐶1 + 𝐶2 𝐴1 + 𝐴2 𝐴𝑖 = 𝜎𝑖 1 + 𝜔𝑖2𝜏𝑖2 𝜎𝑖 = 𝑛𝑖𝑒 2𝜏 𝑖 𝐶𝑖 = 𝜎𝑖𝜔𝑖𝜏𝑖 1 + 𝜔𝑖2𝜏𝑖2 𝜔𝑖 = 𝑒ℬ

(49)

Efeito Hall

 Magnetoresistividade longitudinal:

 Se ℬ = 0, 𝜔1 = 𝜔2 = 0, e

 Note que 𝑟𝑥𝑥 ℬ > 𝑟𝑥𝑥(0) para qualquer ℬ ≠ 0.

𝑟𝑥𝑥 ℬ = 𝜎1 + 𝜎2 + 𝜎1𝜔2 2𝜏 22 + 𝜎2𝜔12𝜏12 𝜎1 + 𝜎2 2 + 𝜎 1𝜔2𝜏2 − 𝜎2𝜔1𝜏1 2 𝑟𝑥𝑥 ℬ = 0 = 1 𝜎1 + 𝜎2

(50)

Efeito Hall

 Se ocorrer  temos

 Nesse caso, 𝑟𝑥𝑥 → ∞ se ℬ → ∞. Se 𝑛 ≠ 𝑝, 𝑟𝑥𝑥 satura quando ℬ → ∞.

𝜎1𝜔2𝜏2 = 𝜎2𝜔1𝜏1 𝑛 = 𝑝

(51)

Efeito Hall

 Para a magnetoresistividade transversal, temos

 Quando ℬ → ∞, temos (verificar)

 e o coeficiente Hall fica

𝑟𝑦𝑥 = 𝜎2𝜔2𝜏2 1 + 𝜔1 2𝜏 12 − 𝜎1𝜔1𝜏1 1 + 𝜔22𝜏22 𝜎1 + 𝜎2 2 + 𝜎 1𝜔2𝜏2 − 𝜎2𝜔1𝜏1 2 𝑟𝑦𝑥 = ℬ 𝑝 − 𝑛 𝑒 𝑅𝐻 = 1 𝑝 − 𝑛 𝑒

(52)

Efeito Hall Quântico

 Em condutores bidimensionais, em baixas temperaturas e campos magnéticos intensos, ocorre o efeito Hall quântico.

 Curva da resistividade Hall (𝑟𝑦𝑥) em função de ℬ exibe platôs que são múltiplos de

 Correspondentemente, 𝑟𝑥𝑥 = 0 nesses platôs.

(53)

Efeito Hall Quântico

 Os valores de 𝑟𝑦𝑥 são dados por

 ℓ ∈ ℤ: efeito Hall quântico usual.  ℓ = 𝑃

𝑄, onde 𝑃, 𝑄 ∈ ℤ, 𝑄 ímpar:

efeito Hall quântico fracionário.

𝑟𝑦𝑥 = ℎ 𝑒2

1 ℓ

(54)

Portadores em função de 𝑻

 Queremos o número de portadores por volume em função de 𝑇. Impurezas influenciam nos valores, mas é possível obter resultados gerais, que não dependem disso.

 Na BC, temos 𝑛𝑐 elétrons por volume e densidade de estados por volume 𝑔𝑐 𝜖 = 𝒟𝑐 𝑉 . Então, 𝑛𝑐 𝑇 = න 𝜖𝑐 ∞ 𝑔𝑐 𝜖 1 𝑒𝛽(𝜖−𝜇) + 1 𝑑𝜖

(55)

Portadores em função de 𝑻

 Na BV, temos 𝑝𝑣 buracos por volume e densidade de estados por volume 𝑔𝑣 𝜖 = 𝒟𝑣

𝑉 . Então,

 𝜇 é influenciado pelas impurezas. Para conhecer 𝜇, é preciso ter informações sobre elas.

𝑝𝑣 𝑇 = න

−∞ 𝜖𝑣

𝑔𝑣 𝜖 1

(56)

Portadores em função de 𝑻

 Se ocorrer

 é possível obter resultados importantes sem conhecer 𝜇 precisamente.  Se essa condição é válida, temos um semicondutor não degenerado.

Se não é valida, então o semicondutor é degenerado, e não é possível usar os resultados abaixo.

𝜖𝑐 − 𝜇 ≫ 𝑘𝐵𝑇 𝜇 − 𝜖𝑣 ≫ 𝑘𝐵𝑇

(57)

Portadores em função de 𝑻

 Considerando a condição de não degenerescência, temos (quadro):

 Definimos 𝑛𝑐 𝑇 = 𝑒−𝛽(𝜖𝑐−𝜇)න 𝜖𝑐 ∞ 𝑔𝑐 𝜖 𝑒−𝛽(𝜖−𝜖𝑐) 𝑑𝜖 𝑁𝑐 𝑇 = න 𝜖𝑐 ∞ 𝑔𝑐 𝜖 𝑒−𝛽(𝜖−𝜖𝑐) 𝑑𝜖

(58)

Portadores em função de 𝑻

 Então:

 De forma similar, temos

 e 𝑛𝑐 𝑇 = 𝑒−𝛽 𝜖𝑐−𝜇 𝑁𝑐 𝑇 𝑃𝑣 𝑇 = න −∞ 𝜖𝑣 𝑔𝑣 𝜖 𝑒−𝛽(𝜖𝑣−𝜖) 𝑑𝜖 𝑝 𝑇 = 𝑒−𝛽 𝜇−𝜖𝑣 𝑃 𝑇

(59)

Portadores em função de 𝑻

 As energias envolvidas para os elétrons e buracos são da ordem de 𝑘𝐵𝑇. Com isso, é possível escrever

 e, considerando as bandas com forma parabólica em torno da base da BC e do topo da BV, temos, para a BC,

𝑔𝑖 𝜖 = 1 2𝜋2 2𝑚𝑖 ℏ2 3/2 𝜖 − 𝜖𝑖 𝜖𝑘 = 𝜖𝑐 + ℏ 2𝑘2 2𝑚𝑐

(60)

Portadores em função de 𝑻

 Com isso, achamos (quadro)

 e 𝑁𝑐 𝑇 = 1 4 2𝑚𝑐 𝜋𝛽ℏ2 3/2 𝑃𝑣 𝑇 = 1 4 2𝑚𝑣 𝜋𝛽ℏ2 3/2

(61)

Portadores em função de 𝑻

 Então, obtemos  e 𝑛𝑐 𝑇 = 1 4 2𝑚𝑐 𝜋𝛽ℏ2 3/2 𝑒−𝛽(𝜖𝑐−𝜇) 𝑝𝑣 𝑇 = 1 4 2𝑚𝑣 𝜋𝛽ℏ2 3/2 𝑒−𝛽(𝜇−𝜖𝑣)

(62)

Portadores em função de 𝑻

 A partir disso, obtemos

 que é a lei de ação de massas.  Para semicondutor intrínseco,

𝑛𝑐 𝑇 𝑝𝑣 𝑇 = 𝑁𝑐 𝑇 𝑃𝑣 𝑇 𝑒−𝛽𝐸𝑔

(63)

Portadores em função de 𝑻

 Então,

 Além disso, achamos também (quadro)

𝑛𝑖 𝑇 = 1 4 2 𝜋𝛽ℏ2 3/2 𝑚𝑐𝑚𝑣 3/4𝑒−𝛽𝐸𝑔/2 𝜇 𝑇 = 𝜖𝑣 + 𝐸𝑔 2 + 3 4𝑘𝐵𝑇 ln 𝑚𝑣 𝑚𝑐

(64)

Portadores em função de 𝑻

(65)

Portadores em função de 𝑻

 Semicondutor extrínseco:

 Lei de ação de massas é válida, e escrevemos

 Desenvolvendo, chegamos a (quadro)

𝑛𝑐 − 𝑝𝑣 = Δ𝑛 (≠ 0) 𝑛𝑐 𝑇 𝑝𝑣 𝑇 = 𝑛𝑖2 𝑛𝑐 𝑝𝑣 = Δ𝑛 2 + 4𝑛 𝑖 2 2 ± Δ𝑛 2

(66)

Portadores em função de 𝑻

 Obtemos, também,

 que indica qual a importância das impurezas para o número de portadores.

 Note que

Δ𝑛/𝑛 só é apreciável quando 𝜇 não é comparável a 𝜇

Δ𝑛

𝑛𝑖 = 2 sinh 𝛽 𝜇 − 𝜇𝑖

𝜖𝑐 − 𝜇𝑖 ≫ 𝑘𝐵𝑇 𝜇𝑖 − 𝜖𝑣 ≫ 𝑘𝐵𝑇

(67)

Portadores em função de 𝑻

 Semicondutor não degenerado: 𝜇 ∼ 𝑂(𝜇𝑖) e Δ𝑛𝑛

𝑖 ≪ 1 ⇒ níveis de

impurezas não são importantes.  Nesse caso,

 A concentração do portador majoritário é Δ𝑛𝑛

𝑖

2

vezes maior que a do outro portador. 𝑛𝑐 𝑝𝑣 = Δ𝑛 2 + 𝑛𝑖2 Δ𝑛 2 ± Δ𝑛 2

(68)

Portadores em função de 𝑻

 Se Δ𝑛 > 0, 𝑛𝑐 ≫ 𝑝𝑣, e temos um semicondutor tipo 𝑛 (excesso de elétrons).

(69)

Portadores em função de 𝑻

 Vamos agora estimar a influência de 𝑇 nos níveis das impurezas.

 Os níveis das impurezas doadoras ficam em 𝜖𝑑, logo abaixo de 𝜖𝑐. Os níveis aceitadores ficam em 𝜖𝑎, logo acima de 𝜖𝑣.

 Há 𝑁𝑑 impurezas doadoras por volume, e 𝑁𝑎 impurezas aceitadoras por volume.

(70)

Portadores em função de 𝑻

 Cada nível doador pode estar vazio, ter um elétron ou dois elétrons. Essa última configuração tem energia muito alta, e é pouco provável.  Número médio de ocupação de um nível qualquer (Termodinâmica:

grande-canônico)

𝑛 = σ 𝑁𝑗𝑒

−𝛽(𝐸𝑗−𝜇𝑁𝑗)

(71)

Portadores em função de 𝑻

 Para um dado nível doador, temos 𝑁𝑗 = 0 ou 𝑁𝑗 = 1 (↑ ou ↓).

 Assim, o número médio de elétrons nos níveis doadores é

𝑛 = 1

1 + 12 𝑒𝛽(𝜖𝑑−𝜇)

𝑛𝑑 = 𝑁𝑑

(72)

Portadores em função de 𝑻

 Para os níveis aceitadores, a ideia é similar, trocando-se elétrons por buracos. Assim,

 Queremos generalizar a condição 𝑛𝑐 = 𝑝𝑣 válida para equilíbrio térmico em semicondutores intrínsecos.

𝑝𝑎 = 𝑁𝑎

(73)

Portadores em função de 𝑻

 Conservação de carga:

 Condição para semicondutor não degenerado:

𝑛𝑐 + 𝑛𝑑 − 𝑝𝑣 + 𝑝𝑎 = 𝑁𝑑 − 𝑁𝑎

𝜖𝑑 − 𝜇 ≫ 𝑘𝐵𝑇 𝜇 − 𝜖𝑎 ≫ 𝑘𝐵𝑇

(74)

Portadores em função de 𝑻

 Se esta condição é verificada, ocorre

 Assim, praticamente todos os níveis de impurezas estão ionizados (vazios – doadores, com elétrons – aceitadores).

 Conservação de carga fica

𝑛𝑐 + 𝑛𝑑 = 𝑁𝑑 − 𝑁𝑎 = Δ𝑛 𝑛𝑑 ≪ 𝑁𝑑 , 𝑝𝑎 ≪ 𝑁𝑎

(75)

Portadores em função de 𝑻

 Então,  e 𝑁𝑑 − 𝑁𝑎 𝑛𝑖 = 2 sinh 𝛽 𝜇 − 𝜇𝑖 𝑛𝑐 𝑝𝑣 = 1 2 𝑁𝑑 − 𝑁𝑎 2 + 4𝑛𝑖2 1/2 ± 1 2(𝑁𝑑 − 𝑁𝑎)

(76)

Portadores em função de 𝑻

 Regime intrínseco: 𝑛𝑖 ≫ |𝑁𝑑 − 𝑁𝑎|:  Regime extrínseco: 𝑛𝑖 ≪ |𝑁𝑑 − 𝑁𝑎|: 𝑛𝑐 𝑝𝑣 = 𝑛𝑖 ± 1 2(𝑁𝑑 − 𝑁𝑎) 𝑛𝑐 𝑝𝑣 = 1 2 𝑁𝑑 − 𝑁𝑎 + 𝑛𝑖2 𝑁𝑑 − 𝑁𝑎 2 𝑁𝑑 − 𝑁𝑎 ± 1 2 𝑁𝑑 − 𝑁𝑎

(77)

Portadores em função de 𝑻

 Se 𝑁𝑑 > 𝑁𝑎:  Se 𝑁𝑑 < 𝑁𝑎: 𝑛𝑐 = 𝑁𝑑 − 𝑁𝑎 , 𝑝𝑣 = 𝑛𝑖 2 𝑁𝑑 − 𝑁𝑎 𝑛𝑐 = 𝑛𝑖 2 𝑁𝑎 − 𝑁𝑑 , 𝑝𝑣 = 𝑁𝑎 − 𝑁𝑑

(78)

Portadores em função de 𝑻

 Em baixas temperaturas, ou para altas concentrações de impurezas, uma das frações 𝑛𝑑

𝑁𝑑 ou

𝑝𝑎

𝑁𝑎 (não ambas) pode deixar de ser desprezível

⇒ nível não está totalmente ionizado.

(79)

Portadores em função de 𝑻

 Outro efeito em 𝑇 baixa é a possibilidade de ocorrer tunelamento entre os níveis de impurezas, por causa da superposição das funções de onda ⇒ hopping.

(80)

Portadores em função de 𝑻

(81)

Junção 𝒑𝒏

 Vamos agora investigar um dispositivo formado por semicondutores: junção pn.

(82)

Junção 𝒑𝒏

 Hipóteses:

1. Semicondutor tipo n: apenas níveis doadores, tipo p: apenas níveis aceitadores.

2. 1D (direção x).

3. Junção ocorre em 𝑥 = 0. Região de depleção: −𝑑𝑝 < 𝑥 < 𝑑𝑛. 4. Impurezas tipo n: densidade 𝑁𝑎(𝑥). Tipo p: densidade 𝑁𝑑(𝑥). 5. Densidades dadas por

6. Impurezas ionizadas ⇒ saturação longe da junção.

𝑁𝑑 𝑥 = ቊ𝑁0 ,𝑑 , 𝑥 > 0𝑥 < 0 𝑁𝑎 𝑥 = ቊ𝑁0, 𝑥 > 0

(83)

Junção 𝒑𝒏

 Considere os semicondutores separados:

 Tipo 𝑛: 𝜇 entre 𝐸𝑐 e 𝐸𝑑.  Tipo 𝑝: 𝜇 entre 𝐸𝑣 e 𝐸𝑎.  Diferença: 𝑒Δ𝜙.

(84)

Junção 𝒑𝒏

(85)

Junção 𝒑𝒏

 A diferença no potencial químico gera fluxo de elétrons do lado 𝑛 para o 𝑝.

O lado 𝑝 fica negativo

na região da junção. O

lado 𝑛 fica positivo.

Surge campo elétrico na

junção.

BV e BC na região 𝑝 são

mais altos que na região

𝑛. Diferença: 𝑒Δ𝜙.

(86)

Junção 𝒑𝒏

 O campo elétrico orienta-se de 𝑛 → 𝑝. O potencial elétrico correspondente aumenta de 𝑝 → 𝑛.

 Eles aparecem numa região chamada de região de depleção. Fora dela o potencial é constante e o campo é nulo.

(87)

Junção 𝒑𝒏

 Num dado instante, algum elétron da BV na região 𝑝 é excitado termicamente à BC da região 𝑝.

 Posteriormente, ele pode seguir para a BC da região 𝑛. Isso dá origem à corrente térmica.

 Noutro instante, algum elétron num nível da BC do lado 𝑛 abaixo da BC do lado 𝑝, pode sofrer flutuação em energia e atingir energia

compatível com a BC-𝑝, passando para ela. Essa é a corrente de recombinação.

(88)

Junção 𝒑𝒏

 No equilíbrio térmico, sem potencial externo, a corrente total é nula.

 A aplicação de uma tensão externa modifica o

comportamento da corrente de recombinação, sem alterar a corrente térmica.

(89)

Junção 𝒑𝒏

 O potencial elétrico altera o hamiltoniano do sistema da seguinte forma:

 Com isso, temos

 e

𝑛 = ℰ𝑛 𝑘 − 𝑒𝜙 𝑥

𝑛𝑐 𝑥 = 𝑁𝑐 𝑇 𝑒−𝛽(𝜖𝑐−𝑒𝜙 𝑥 −𝜇)

(90)

Junção 𝒑𝒏

 Saturação (longe da junção):

 Graficamente

𝑁𝑑 = 𝑛𝑐 ∞ = 𝑁𝑐 𝑇 𝑒−𝛽(𝜖𝑐−𝑒𝜙 ∞ −𝜇)

(91)

Junção 𝒑𝒏

 Definindo:

 temos a condição (quadro)

 que é uma condição de contorno para o problema.

Δ𝜙 = 𝜙 ∞ − 𝜙(−∞)

𝑒Δ𝜙 = 𝐸𝑔 + 𝑘𝐵𝑇 ln 𝑁𝑎𝑁𝑑 𝑁𝑐𝑃𝑣

(92)

Junção 𝒑𝒏

 Para achar 𝜙 𝑥 , é preciso trabalhar com a equação de Poisson (em 1D):

 Na saturação:

 Em princípio, combinar estas equações resulta numa equação diferencial solúvel numericamente.

𝛻2𝜙 = 𝑑 2𝜙 𝑑𝑥2 = − 𝜚 𝑥 𝜖 𝜚 𝑥 = −𝑒[𝑛𝑐 𝑥 − 𝑝𝑣 𝑥 + 𝑁𝑎 𝑥 − 𝑁𝑑(𝑥)

(93)

Junção 𝒑𝒏

 Estimativa mais útil (quadro): potencial só varia na região de depleção: −𝑑𝑝 ≤ 𝑥 ≤ 𝑑𝑛. A densidade fica

 Para 𝑥 < −𝑑𝑝 e 𝑥 > 𝑑𝑛, o campo é nulo, e o potencial é constante.

𝜚 𝑥 = ൞

0, 𝑥<−𝑑𝑝 −𝑒𝑁𝑎, −𝑑𝑝<𝑥<0

𝑒𝑁𝑑, 0<𝑥<𝑑𝑛 0, 𝑥>𝑑𝑛

(94)

Junção 𝒑𝒏

 Após resolver a equação de Poisson, o potencial fica

𝜙 𝑥 = 𝜙 −∞ , 𝑥 < −𝑑𝑝 𝜙 𝑥 = 𝜙 ∞ , 𝑥 > 𝑑𝑛 𝜙 𝑥 = 𝜙 −∞ + 𝑒𝑁𝑎 2𝜖 𝑥 + 𝑑𝑝 2 , −𝑑𝑝< 𝑥 < 0 𝜙 𝑥 = 𝜙 ∞ − 𝑒𝑁𝑑 2𝜖 𝑥 − 𝑑𝑛 2 , 0 < 𝑥 < 𝑑𝑛

(95)

Junção 𝒑𝒏

(96)

Junção 𝒑𝒏

 A continuidade do campo e do potencial em 𝑥 = 0 fornece

 e

 Com isso, é possível determinar a largura da região de depleção.

Δ𝜙 = 𝑒

2𝜖 (𝑁𝑎𝑑𝑝2 + 𝑁𝑑𝑑𝑛2) 𝑁𝑎𝑑𝑝 = 𝑁𝑑𝑑𝑛

(97)

Junção 𝒑𝒏

 Para 𝑑𝑝, temos

 e, para 𝑑𝑛, ficamos com

𝑑𝑝 = 𝑁𝑑 𝑁𝑎 1 𝑁𝑑 + 𝑁𝑎 2𝜖Δ𝜙 𝑒 1/2 𝑑𝑛 = 𝑁𝑎 𝑁𝑑 1 𝑁𝑑 + 𝑁𝑎 2𝜖Δ𝜙 𝑒 1/2

(98)

Junção 𝒑𝒏

 Largura total:

 Ex.: para Δ𝜙 ∼ 1 V, 𝜖 = 10−10 F/m e 𝑁𝑎, 𝑁𝑑 na faixa 1014 a 1018 portadores/cm3, temos 𝑤 ∼ 102 − 104 Å e campos da ordem de

105 − 107 V/m. 𝑤 = 𝑑𝑛 + 𝑑𝑝 = 𝑁𝑎 + 𝑁𝑑 𝑁𝑎𝑁𝑑 2𝜖Δ𝜙 𝑒 1/2

(99)

Junção 𝒑𝒏

 Na junção pn usual, 𝑁𝑎 ∼ 𝑁𝑑 e ambos não são muito grandes.

 É interessante considerar o caso onde 𝑁𝑎, 𝑁𝑑 ou ambos são grandes. Temos as junções

 p+n:𝑁

𝑎 ≫ 𝑁𝑑.

 pn+: 𝑁

𝑑 ≫ 𝑁𝑎.

(100)

Junção homopolar

 Podemos combinar portadores de mesmo tipo, formando junções homopolares, onde apenas um tipo de portador é relevante.

 p+p: acúmulo de buracos no lado p.  n+n: acúmulo de elétrons no lado n.

(101)

Junção sob Tensão Externa

 Vamos agora considerar o efeito da aplicação de uma tensão externa à junção.

 Ocorre deslocamento do equilíbrio sob tensão externa.

 Recordando, na junção elétrons passam naturalmente do lado 𝑛 para o 𝑝.

(102)

Junção sob Tensão Externa

 Ao conectar o terminal (+) no lado 𝑛 e o (-) no 𝑝, o campo elétrico na região da junção fica mais intenso.

 A altura da barreira de potencial aumenta.

 O efeito é dificultar a passagem de elétrons no sentido 𝑛 → 𝑝.  Com isso, a corrente de recombinação diminui.

(103)

Junção sob Tensão Externa

 A corrente térmica não é alterada, pois depende apenas de 𝑇.  Assim, elétrons vão de 𝑝 → 𝑛, e corrente flui de 𝑛 → 𝑝.

(104)

Junção sob Tensão Externa

 Conectando o terminal (+) ao lado p e o (-) ao n, a situação se inverte.  A altura de barreira diminui, o campo elétrico fica menos intenso, e a

corrente de recombinação cresce muito.

 Há corrente elétrica no sentido 𝑝 → 𝑛. Esta é a corrente de

polarização direta, que é 4-5 ordens de grandeza maior que a reversa (tipicamente).

(105)

Junção sob Tensão Externa

 Vamos considerar que 𝑉 > 0 corresponde à polarização direta, e 𝑉 < 0 à reversa.

(106)

Junção sob Tensão Externa

 Diferença de potencial na junção sob tensão externa:

 Δ𝜙0: ddp para 𝑉 = 0 (situação de equilíbrio).

 A aplicação da tensão externa altera os limites da região de depleção:

Δ𝜙 = Δ𝜙0 − 𝑉 𝑑𝑝 = 𝑁𝑑 𝑁𝑎 1 𝑁𝑑 + 𝑁𝑎 2𝜖 Δ𝜙0 − 𝑉 𝑒 1/2 𝑑𝑛 = 𝑁𝑎 𝑁𝑑 1 𝑁𝑑 + 𝑁𝑎 2𝜖 Δ𝜙0 − 𝑉 𝑒 1/2

(107)

Junção sob Tensão Externa

 Largura total:

 Interessa-nos investigar as correntes na região da junção pn.  Convenção:

 𝑗: densidade de corrente elétrica.  𝒥: densidade de corrente numérica.

𝑤 = 𝑑𝑛 + 𝑑𝑝 = 𝑁𝑎 + 𝑁𝑑 𝑁𝑎𝑁𝑑

2𝜖 Δ𝜙0 − 𝑉 𝑒

(108)

Junção sob Tensão Externa

 Relação entre as densidades:

 Quando 𝑉 = 0, 𝒥𝑒 = 𝒥 = 0 ⇒ compensação entre corrente térmica e de recombinação.

 Para elétrons:

𝒥term: densidade numérica de corrente térmica em 𝑉 = 0.

𝑗𝑒 = −𝑒𝒥𝑒 , 𝑗 = 𝑒𝒥

(109)

Junção sob Tensão Externa

 Para buracos:

 𝒥𝑒term: densidade numérica de corrente térmica em 𝑉 = 0.  Densidade resultante (vetorial):

 Como determinar os coeficientes? Outra abordagem.

𝒥 = 𝒥term 𝑒𝛽𝑒𝑉 − 1

(110)

Junção sob Tensão Externa

 Correntes podem ser geradas por campos elétricos ou por gradientes de concentração de portadores (correntes de difusão). Em 1D:

 Estas equações combinam as relações

𝒥 = 𝜇𝑝𝑣𝐸 − 𝐷𝑝 𝑑𝑝𝑣 𝑑𝑥 Ԧ𝑗 = 𝜎𝐸 𝒥𝑒 = −𝜇𝑒𝑛𝑐𝐸 − 𝐷𝑛𝑑𝑛𝑐 𝑑𝑥 Ԧ𝑗 = −𝐷𝛻ϱ

(111)

Junção sob Tensão Externa

 𝜇𝑒 e 𝜇: mobilidade de elétrons e buracos (𝜇𝑖 > 0).  A mobilidade é dada por

 De  sai 𝜇 = Ԧ𝑣 𝐸 Ԧ𝑗 = 𝜚 Ԧ𝑣 𝜎𝑒 = 𝑒𝑛𝜇𝑒 𝜎 = 𝑒𝑝𝜇 𝜎 = 𝜎 + 𝜎𝑒 = 𝑒(𝜇𝑒𝑛 + 𝜇𝑝)

(112)

Junção sob Tensão Externa

 𝐷𝑝 e 𝐷𝑛: coeficientes de difusão para buracos e elétrons.

 São grandezas positivas, e relacionadas com 𝜇𝑖 pelas relações de Einstein:

𝜇𝑒 = 𝑒𝐷𝑛

𝑘𝐵𝑇 𝜇ℎ =

𝑒𝐷𝑝 𝑘𝐵𝑇

(113)

Junção sob Tensão Externa

 A condutividade pode ser modelada por

 Com isso, a mobilidade pode ser escrita como

 𝜏𝑖col: tempo médio de colisões para o portador i.  𝑚𝑖: massa efetiva do portador i.

𝜎 = 𝑛𝑒2𝜏 𝑚 𝜇𝑒 = 𝑒𝜏𝑒 col 𝑚𝑒 𝜇ℎ = 𝑒𝜏col 𝑚

(114)

Junção sob Tensão Externa

 Equação de continuidade:

 Escrevendo em termos das densidades numéricas, temos

 Entretanto, estas equações não consideram a transferência de cargas entre as bandas. 𝛻 ⋅ Ԧ𝑗 + 𝜕𝜚 𝜕𝑡 = 0 𝜕𝑛𝑒 𝜕𝑡 = − 𝜕𝒥𝑒 𝜕𝑥 𝜕𝑝𝑣 𝜕𝑡 = − 𝜕𝒥 𝜕𝑥

(115)

Junção sob Tensão Externa

 Levando em conta as transferências de cargas, obtemos

 Índice g-r: geração – recombinação. Modelo para essas taxas:

 𝑛𝑖0: valores de equilíbrio.

 𝜏𝑖: tempo médio de recombinação.

𝜕𝑛𝑒 𝜕𝑡 = 𝑑𝑛𝑐 𝑑𝑡 𝑔−𝑟 − 𝜕𝒥𝑒 𝜕𝑥 𝑑𝑛𝑐 𝑑𝑡 𝑔−𝑟 = − 𝑛𝑐 − 𝑛𝑐0 𝜏𝑛 𝜕𝑝𝑣 𝜕𝑡 = 𝑑𝑝𝑣 𝑑𝑡 𝑔−𝑟 − 𝜕𝒥 𝜕𝑥 𝑑𝑝𝑣 𝑑𝑡 𝑔−𝑟 = − 𝑝𝑣 − 𝑝𝑣0 𝜏𝑝

(116)

Junção sob Tensão Externa

 Note que, em geral, 𝜏𝑖 ≫ 𝜏𝑖col, pois as colisões são intrabandas e as recombinações são interbandas.

 Tipicamente, 𝜏𝑖col ∼ 10−12 - 10−13 s, e 𝜏𝑖 ∼ 10−3 - 10−8 s.  Com isso, temos

𝜕𝑛𝑒 𝜕𝑡 = − 𝑛𝑐 − 𝑛𝑐0 𝜏𝑛 − 𝜕𝒥𝑒 𝜕𝑥 𝜕𝑝𝑣 𝜕𝑡 = − 𝑝𝑣 − 𝑝𝑣0 𝜏𝑝 − 𝜕𝒥 𝜕𝑥

(117)

Junção sob Tensão Externa

 Situação estacionária para 𝑉 ≠ 0:

 Caso particular: Ԧℰ pequeno e concentração de portadores majoritários constante: 𝜕𝒥𝑒 𝜕𝑥 + 𝑛𝑐 − 𝑛𝑐0 𝜏𝑛 = 0 𝜕𝒥 𝜕𝑥 + 𝑝𝑣 − 𝑝𝑣0 𝜏𝑝 = 0 𝐷𝑛𝑑 2𝑛 𝑐 𝑑𝑥2 − 𝑛𝑐 − 𝑛𝑐0 𝜏𝑛 = 0 𝐷𝑝 𝑑2𝑝𝑣 𝑑𝑥2 − 𝑝𝑣 − 𝑝𝑣0 𝜏𝑝 = 0

(118)

Junção sob Tensão Externa

 Comprimentos de difusão: distâncias características em que as concentrações voltam aos valores de equilíbrio.

 Solução considerando que estamos do lado 𝑛 da junção:

𝐿𝑛 = 𝐷𝑛𝜏𝑛 𝐿𝑝 = 𝐷𝑝𝜏𝑝

(119)

Junção sob Tensão Externa

 Estimativa para as densidades numéricas de corrente:

 A densidade de corrente fica

 Lembrar que 𝒥𝑡𝑒𝑟𝑚 = 𝑛𝑖 2 𝑁𝑑 𝐿𝑝 𝜏𝑝 𝒥𝑒𝑡𝑒𝑟𝑚 = 𝑛𝑖2 𝑁𝑎 𝐿𝑛 𝜏𝑛 𝑗 = 𝑒𝑛𝑖2 𝐷𝑛 𝑁𝑎𝐿𝑛 + 𝐷𝑝 𝑁𝑑𝐿𝑝 𝑒𝛽𝑒𝑉 − 1 𝑛𝑖2 = 1 4 2𝑚𝑐 𝜋𝛽ℏ2 3/2 1 4 2𝑚𝑣 𝜋𝛽ℏ2 3/2 𝑒−𝛽𝐸𝑔

(120)

Junção sob Tensão Externa

 Corrente de saturação: 𝑉 → −∞: 𝑗 = −𝑒𝑛𝑖2 𝐷𝑛 𝑁𝑎𝐿𝑛 + 𝐷𝑝 𝑁𝑑𝐿𝑝

(121)

Junção sob Tensão Externa

 Se 𝑉 > 0 → polarização direta: corrente apreciável.  Se 𝑉 < 0 → polarização reversa: corrente baixa.

(122)

Transistor

 𝑝+: altamente dopada: emissor.  𝑛: fracamente dopada e fina: base.  𝑝: moderadamente dopada: coletor

𝑉

𝐸

> 0:

polarização

direta

emissor-base.

𝑉

𝐶

≪ 0:

polarização

(123)

Transistor

 Praticamente toda a corrente que entra no emissor segue para o coletor: 𝐼𝐶 ∼ 𝐼𝐸.

Referências

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