HAL Id: jpa-00233094
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Submitted on 1 Jan 1932
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Diffraction des électrons par des cristaux uniques
J.-J. Trillat, Th. V. Hirsch
To cite this version:
J.-J. Trillat, Th. V. Hirsch. Diffraction des électrons par des cristaux uniques. J. Phys. Radium,
1932, 3 (5), pp.185-204. �10.1051/jphysrad:0193200305018500�. �jpa-00233094�
LE JOURNAL DE PHYSIQUE
ET
LE RADIUM
UIFFRACTION
DESÉLECTRONS
PAR DES GR STAUXUNIQUES
Par J.-J. TRILLAT et TH. v. HIRSCH.
Sommaire. 2014 L3 présent travail a eu pour but principal d’étudier la diffraction des électrons par des cristaux uniques. On s’est adressé dans ce but à des feuilles d’or et de platine battues; ces feuilles ont été examinées au moyen d’un appareillage décrit dans la première partie.
On a trouvé que les feuilles d’or battu donnent soit des diagrammes ordinaires de
Debye-Scherrer (anneaux), soit des
diagrammes provenant
de la diffraction par un seul cristal. Des recherches systématiques ont montré que le traitement thermique (recuit)améliorait beaucoup la netteté des interférences; ceci a permis de confirmer notre inter-
prétation, suivant laquelle la déformation plastique résultant du martelage de l’or joue
un rôle essentiel dans la production des phénomènes de diffraction.
Les feuilles de platine battu ont donné lieu à de très belles interférences monocristal-
lines, qui ressemblent à celles observées par Kikuchi avec des cristaux naturels de mica, lesquelles ont été interprétées comme provenant de réseaux croisés à deux dimensions.
Des expériences effectuées en faisant tourner la feuille de platine autour d’un axe per- pendiculaire au faisceau électronique, ont prouvé au contraire qu’il s’agit, dans notre cas, d’un effet de diffraction par le réseau à trois dimensions d’un cristal unique déformé
plastiquement .
SÉRIE
VII. TOME III. MAI 1932. Ni 5.Introduction. - On sait
qu’un
nombredéjà
assez considérable de recherches ont été effectuées sur la diffraction desélectrons, principalement
dans le but de vérifier les théo- ries de Louis deBroglie.
On s’est aperçuégalement
que cesphénomènes
de diffractionprésentaient
un intérêt considérable pour un certain nombred’études,
telles que la déter- mination du facteur de forme del’atome,
lepotentiel
interne desréseaux, l’adsorption
desgaz par les
métaux,
les modificationssuperficielles,
etc...La diffraction des électrons
permet
d’obtenir desrenseignements
d’ungrand
intérêtdans de nombreux domaines où
l’emploi
des rayons X se montreinfructueux ;
cecitient,
d’une
part,
à la nature même desélectrons,
pourlesquels
lepourcentage d’énergie
diffractéeest
beaucoup plus
considérable que pour les rayonsX, et,
d’autrepart,
à latechnique.qui
diffère assez sensiblement de celle utilisée en
spectrographie
X.C’est en vue de ces études que nous avons été amenés à établir un
appareil permettant
l’utilisation de la diffraction des électrons dans un domaine aussi étendu quepossible.
Une
première application
en a été faite relativement à la diffraction par des cristauxuniques
demétaux;
unedeuxième, qui
feral’objet
d’un autretravail,
à lapolarisation
desélectrons.
(voir Bibliographie
en fin d’article n° 1 et10.)
La
première partie
de cet article sera consacrée à ladescription
de cetappareil
ainsique des méthodes
utilisées,
et la deuxièmepartie,
à l’étude et àl’interprétation
de la diffrac-tion par des cristaux
uniques.
Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphysrad:0193200305018500
PREJIIÈRB PARTIE. -
Appareillage
pour la diffraction des électrons.Nous nous sommes
proposés
de construire unappareil répondant
aux conditions sui-tantes (1) :
1. Obtention de poses très
courtes,
et bonne visibilité desphénomènes
de diffractionsur un écran fluorescent.
5. Possibilité de faire
plusieurs
clichés sans avoir à ouvrirl’appareil.
3. Possibilité d’atteindre des tensions
élevées,
de l’ordre de 100 à 1. ~O kilovolts.4. Fonctionnement soit avec une cathode
incandescente,
soit avec un tube à gaz.5. Possibilité d’utiliser diverses méthodes
(transmission, réflexion, déplacement
despréparations
dans le vide pour enpermettre l’exploration, goutte tangente, diagrammes
degaz,
etc.).
,L’ensemble
del’appareil
estreprésenté
sur lafigure
1 et lafigure
a,planche
I.A. Partie
cathodique. -
Lapartie cathodique,
où estproduit
le faisceau d’électronsprimaires,
diffère suivant que l’on utilise comme source d’électrons un filamentporté
àl’incandescence
(tube Coolidge),
oul’impact
d’ionspositifs
sur une cathode en aluminium’(tube
àgaz).
1. Cathode
Coolidge.
- Cette ca tholle est destinée à fonctionnerjusqu’à
une tension del’ordre de 70 kilovolts. Le meilleur résultat nous a été donné par le
dispositif représenté
sur1~ ig. 1. - Schéma de l’appareil pour la diffraction des électrons.
A, Partie anodique. - B, pai tic cathodique.
a, aimant; b, rodage porte préparation; c, collimateur refroidi par une chambre d’eau; d, d,
d,
rodages;e, porte-plaques; f, vitre en verre au plomt~; q, desséchant; h, pompe moléculaire Holweck ; 1, pompe à huile ; j, récipient pour rentrée d’air à travers le capillaire k, lorsque l’appareil fonctionne en
tube à gaz.
la
figure a, planche
I(partie droit)
il consiste en un ballon de verre rodé aux deux extré-mités, d’u ne capacité
de deux litresenviron,
et dont l’une des extrémités est fixée sur lerodage
de lapartie anodique
au moyen degraisse Ramsay,
oumieux,
depicéine ;
l’autreextrémité
supporte
latige portant
lefilament, gràce
à unrodage simplement graissé,
lelispositif
devant en effet ètre mobile en vue desréglages.
.
(i) Cet app:1re il a été construit par la maison Beaudoin, à Paris.
Le filament en
tungstène
a la forme d’unespirale plate
trèsserrée,
de 3spires
seule-ment ;
il est fixé au moyen de vis dans lesupport
terminal de latige précédente,
et estentouré d’une
cupule
de concentrationhémisphérique
ennickel,
l’extrémité de celle-ci étant à 15 millimètres de l’anticathode(collimateur).
Dans cesconditions,
lefoyer
tombealors sur l’orifice d’entrée
percé
dans l’anticathode(collimateur),
et onpeut régler
le maxi-mum d’intensité du
spot
par ledéplacement
de lacupule
et la rotation duporte-filament.
Les
régimes
ordinairement utilisés dans nosexpériences
étaient, pour ce modèle detube,
de 1 à 3milliampères
sous 30 à 50 kilovolts(tension constante).
2. Cathode à gaz. - Nous avons
également
construit différents modèles de tubes à gaz destinésprincipalement
au fonctionnement à des tensionsplus élevées,
ceciprincipalement
en vue
d’expériences
sur lapolarisation
desélectrons, qui
ferontl’objet
d’uneprochaine publication
dans cejournal.
On utilise dans ce cas des cathodes de forme
spéciale,
dont l’une estreprésentée
sur lafigure 1,
une autre sur lafigure
2, cette dernièreayant
pour bot de concentrer le faisceaupositif
et de marcher enrégime plus
dur.Fig. 2. - Schéma de cathode pour tube à gaz (régime clur~.
A. Cathode en aluminium.
B. Bouchon rodé en fer.
C. Tube réglable portant les arrivées d’eau.
1). joint à la picéine.
On
peut régler
l’enfoncement de la cathodeplane
en aluminium A pardéplacement
deson
support,
lejoint
étant réalisé au moyen depicéine;
ceréglage permet
de modifier à volonté la dureté du tube.Le refroidissement de la face
postérieur
de la cathode se fait aa moyen d’une pompe à eauisolée;
la stabilité de ladécharge
est obtenue par une rentrée d’air à travers un tubecapillaire
en verre, relié à un ballon de 10 litres dont on amène lapression
à la valeur con-venable au moyen de la pompe à huile
préliminaire (voir schéma, fig. I ).
Il est
nécessaire,
pour des tensionsélevées,
deprotéger l’appareil
contre les effluves et lesétincelles;
on yparvient
d’unepart d’après
la forme et les dimensions dutube,
d’autre,part
enimmergent
celui-ci dans une cuve enbois,
contenantcinquante
litres d’huile de transformateur. Dans cesconditions,
nous avons réussi à obtenir unrégime
de marche de135 kilovolts avec un débit de l’ordre de
0,1
à0,~ milliampères.
Enfin, quel
que soit le mode deproduction
du faisceauélectronique,
il estindispen-
sable d’entourer toute la
partie cathodique
d’une caisse àparois plombées (fig.
a,pl. I)
destinée à
protéger l’opérateur
contre lesrayons X
émis parl’iinpact
des électrons surl’anticathode.
Aliueentatiorz. - Une condition essentielle pour observer nettement la diffraction des électrons est de
pouvoir produire
des faisceauxélectroniques Iiioîîociîl étiq îles.
Dans cebut,
nous avonsemployé
ungénérateur
à tensionconstante;
pour lesrégimes utilisés,
laconstance de la tension était de l’ordre de 1 pour 100. La finesse des raies des
diagrammes
montre d’ailleurs clairement que cette condition se trouve bien réalisée
(Voir planches
IIet
suivantes).
B. Partie
anodique (chambre
dediffraction).
- Lapartie anodique
où se pro- duisent lesphénomènes
de diffractiond’électrons,
estinspirée
dans sesgrandes lignes
del’appareillage
décrit par Ponte(~);
nous y avonsapporté
un certain nombre de modifica- tisons que nous allons décrire brièvement(fin. 1
etfig.
a,planche I).
La chambre de
diffraction, qui
est constituée par un tube de laiton de 8 cm de dia- mètre et de 40 cm delong,
se compose essentiellement dudiaphragme
ou collimateur servant à définir unpinceau d’électrons,
de lapréparation
étudiée et de sessupports,
et enfin du
dispositif
pourl’enregistrement photographique
ou sur écranfluorescent;
elle est naturellement mise au sol pour
permettre les manipulations
et lesréglages.
a) Porte-plaque.
- Leporte-plaque
a étéaménagé
defaçon
à recevoir 3plaques photo- graphiques
6 cm X 6 cm et unécran;
lesplaques
sont mises enplace
par enlèvement d’une vitre auplomb épaisse
fermantl’appareil
à sapartie postérieure.
b) Rodages.
-- A lapartie
voisine de lacathode,
le tubecomporte
deux groupes dequatre rodages placés
àangle droit;
cesrodages
sont destinés à recevoir lespièces
néces-saires à la mise en oeuvre des diverses méthodes
expérimentales.
On a ainsi lapossibilité
de réaliser un très
grand
nombre demontages
variés.En
particulier,
dans lesexpériences qui
fontl’objet
de cetarticle,
nous avons utiliséFig. 3 - Rodage permettant le dé- placement eL l’orientation des
préparations.
un
dispositif représenté
sur lafigure 3,
etqui
est destiné àpermettre l’exploration
d’une surfaceétendue,
en diverspoints
et sous diversangles.
Le film étudié(feuille
d’orbattu,
parexemple)
estplacé
sur undisque
de laitonpercé
d’un trou de 2 à 5 millimètres dediamètre;
cedisque
est fixé à unepièce capable
de recevoir un mouve-ment de translation dans le sens
vertical,
et dans le senshorizontal,
ainsiqu’un
mouvement de rotation autour d’un axevertical;
tous ces mouvements sont commandés de l’extérieur au moyen de cônes ou dejoints plats grais-
sés. Un tel
dispositif permet d’explorer
en tous sens lapréparation, l’appareil
étant enmarche;
on voitainsi,
dans le cas des films
métalliques
dont onparlera plus
loin
(lIe Partie) apparaître
sur l’écran fluorescent des dia- grammes différents suivant lepoint frappé
par lepinceau
d’électrons.
Lorsqu’on
a trouvé unerégion intéressante,
on
procède
alors àl’enregistrement photographique.
Les autres
dispositifs expérimentaux
que l’onpeut
réaliser avec
l’appareil (double
diffraction - réflexion -goutte tangente
- étude de la structure des gaz et vapeurs,etc.)
seront décrits dans despublications
ulté-rieures.
c)
Collinzatear,~~. - Le tubeprincipal
en laiton com-porte
à sapartie
antérieure(fig. 4 )
unrodage supportant
le verre de
l’ampoule (Coolidge
ou àgaz);
le collimateurse trouve
placé
au centre dutube,
et est refroidi par une circulation d’eau.Il est essentiel de réaliser un faisceau
parallèle
d’électrons aussi fin quepossible.
Comme on le verra dans la lIe
partie,
cecipermet
en effet de faire des observationsqui
seraient
impossibles
autrement. Une des conditions pour obtenir de tels faisceaux est d’avoir un collimateur bienconditionné; après
de nombreuxessais,
nous nous sommesarrêtés à un tube en laiton de 3 mm de diamètre
intérieur,
de ~~ cm delongueur
et terminépar deux trous de
9 j i0
demillimètre, percés
sur un millimètre deprofondeur.
Ces troussont forés dans deux bouchons
également
en laitonqui peuvent
se visser aux extrémités du tubeprincipal,
de telle sortequ’on peut
leschanger
à volonté ou lesremplacer
éventuelle- ment par des trousplus
fins ouplus
gros. Onpeut
encore diminuer la dimension duspot
observé sur l’écran fluorescent au moyen de l’aimant
représenté
en a sur lafigure 1;
dansce
but,
celui-ci est monté sur unsystème
decollier, glissières
et rotulesqui permet
sonorientation dans une direction
quelconque.
On arrive de la sorte, à réduire lespot
à desdimensions extrêmement
faibles,
tout en lui conservant une intensité suffisante.L’influence de la finesse du
pinceau
d’électrons est mise en évidence par le cliché de lafigure
b,planche
1. Ce clichéreprésente
àgauche
undiagramme
d’un « tissu »d’oxyde
dezinc
obtenu d’après
latechnique
de Ponte(loc. cit.),
avec un faisceauélectronique
de~j10 m/m
dediamètre; la partie
droitereprésente
lediagramme
de la mêmepréparation,
mais en utilisant un faisceau extrêmement fin
(de
l’ordre de1/10 mm.)
Le
pinceau électronique
étant devenuplus étroit,
le nombre de cristauxparticipant
àla diffraction est
plus faible,
cequi
se traduit parl’apparition
de taches de diffraction isoléesréparties
sur les mêmes cercles que ceux donnés par ungrand
nombre decristaux;
On
peut
donc ainsi avoir une idée de la grosseur de cristaux trèspetits,
d’unefaçon
assezsimple.
C’est
grâce
àl’emploi
depinceaux
d’électrons très fins que nous avons pu obtenir lesdiagrammes
de cristauxuniques reproduits
dans la deuxièmepartie
de cet article.d) Pon7page. -
Toutl’appareil
est monté directement sur unepompè
moléculaire Holweck àgrand débit, préférable
à une pompe à diffusion par suite de l’absence d’undispositif
decondensation ;
cette pornpe est reliée à une pompe double àpalettes
fonction-nant dans l’huile. -
e)
Ecransfluorescents
etplaques photographiques.
- Nous avons cherché à obtenirdes écrans aussi lumineux que
possible; après
diversessais,
nous nous sommes arrêtés à des sulfures de zincspéciaux,
que l’on fixe en couche mince ethomogène,
au moyen d’un peu decolle,
sur uneplaque
de verre de 6cm X 6
cm. Ces écrans réalisent un grosavantage
sur ceux à la willémite et au
tungstate
decalcium;
il est ainsipossible
de rendrevisible,
en
»lei>ee lun7ière,
laplupart
desphénomènes
de diffractionélectronique;
dans lamajorité
des c~,s, on
peut
ainsi observerdirectement,
sans aucuneprécaution,
un trèsgrand
nombrede taches ou
d’anneaux,
même à une certaine distance del’appareil.
Tous les clichés repro- duits dans cet article ont donné lieu ainsi à de très brillantes apparences surl’écran;
ceciest intéressant t non seulement pour les
réglages qui
se trouvent ainsi considérablementfacilités,
mais aussi aupoint
de vue de la dèmonstrationpratique
de ces beauxphénomènes.
Lorsqu’on
a obtenu sur l’écranl’image désirée,
cequi
est réalisé au moyen durodage spécial
décritplus
haut et del’aimant,
on passe àl’enregistrement photographique.
Il estnécessaire pour cela de
supprimer
lepinceau
d’électronspendant
que l’onprocède
à lamise en
place
de laplaque;
dans ce but, un électro-aimant se trouve fixé au-dessous du collimateur :lorsqu’il
estexcité,
lepinceau électronique primaire
se trouve dévié et nepasse
plus
par lecollimateur,
cequi permet
de passer d’un cliché à l’autre sansrisque
detaches. On
peut
utiliser aussi un écran deplomb mobile,
commandé par l’un desrodages.
Les
temps
de pose pour l’obtention de bons clichés sur desplaques
ordinaires sont extrêmement courts(de
l’ordre de~/L0
àI~i()0
deseconde); mais,
comme il y a en mêmetemps
émission de rayons X voilant lesplaques,
et que deplus
celles-ci nécessitent lechargement
et lesréglages
à la lumière rouge, nous avons cherché des émulsions moinssensibles, permettant
lechargement
à la lumièrejaune,
etimpressionnées
surtoutpar les
électrons.
Nous avons trouvé
expérimentalement
quel’enlploi
depapiers
« }Íelo.1Jllégular
»hodalc,
au chloro-bromured’argent,
réalisait très bien cettecondition ;
lestemps
de pose sont un peuplus longs (de
une seconde àquelques
minutes suivant lescas),
mais lesclichés obtenus sont extrèmement purs, et très peu voilés par les rayons X. Ce mode
opéra-
toire
simplifie
considérablement lesmanipulations, qui
se font à la lumièrejaune,
et l’onobtient ainsi directement des
originaux
surpapier.
Mesure de la tension ou de la
longueur
d’onde. - La mesure de la tensionspeut
s’effectuer au moyen d’uo voltmètreélectrostatique,
tel que celui de Schroder et Starke que nous avonsutilisé ;
pour calculer lalongueur
d’ondeassociée,
on utilise la rela- tion fondamentale de L. deBroglie :
bjointe à la
relation :Ces relations sont valables pour des électrons dont la vitesse n’est pas
trop
gran dans le cascontraire,
on doit introduire une correction derelativité,
et les formules et(2)
deviennent :cm
(expression
en fonction de latension). (3)
Des tables donnant les
longueurs
d’onde associées en tenantcompte
des corrections derelativité,
ont été données parRupp ~A~anale~2
derPh!lsi~-,
t.10,
H 8(1931 ),
page9451
pour des électrons
jusqu’à
1 000 000 de volts.Il est encore
plus précis d’opérer
par mesure directe du diamètre des anneaux de diffraction fournis par une substance dont le réseau est connu(Z n
0 ou Au parexemple),
et que l’on
place
sur l’un desrodages.
Dans ce cas, la conditiongéométrique :
r = /
tg26 (î-
= rayon d’un anneau, 1 = distanceplaque-substance,
0 =
angle
dediffraction), (4) jointe
à la formule deBragg :
n i, = 2 d sin 0
(d
= distanceréticulaire)
,fournit immédiatement la valeur de la
longueur
d’onde associée.Il’ PAETIE. - Diffraction des électrons par des cristaux
uniques.
Le
présent
travail a eu pour butprincipal
d’étudier la diffraction des électrons par des cristauxuniques ;
nous, avons trouvé que les feuilles d’or et deplatine
battus seprêtaient particulièrement
bien à cesrecherches,
à conditiond’utiliser,
comme nous l’avonsindiqué
dans la
première partie,
despinceaux
d’électronsmonocinétiques
de très faible diamètre etun
dispositif permettant d’explorer
les feuillesmétalliques
en touspoints.
Nous avonscherché
également
à déterminer la structure de ces feuilles obtenues parmartelage
en vuede
préciser
les déformationsproduites
par le travailmécanique
et l’intluence du recuit.Composition
etépaisseur
des feuilles étudiées. -a)
Feuilles d’or battu. -L’or battu s’obtient parmartelage
d’unalliage
Or - Cu -Ag.
Il existe différentescompositions
de ces
alliages, qui
varient d’ailleurs d’un fabricant àl’autre ;
dans nosrecherches,
nousavons utilisé
principalement
desalliages
à 915 pour 1000 et à 973 pour 1000 d’or.L’alliage
à 915 pour 1000 donne des feuilles d’une teinte vert clair partransparence;
l’épaisseur
moyenne des feuilles étudiées est de l’ordre de 60 iny. Lacomposition
del’alliage
est la suivante :Ces feuilles
peuvent
être utilisées tellesquelles
et donnent lieu à de bonsdiagrammes
de diffraction
électronique.
Toutefois,
on obtient encore de meilleurs résultats en diminuant leurépaisseur,
en leslaissant flotter durant
quelques
instants à la surface d’une solution étendue de cyanure depotassium ;
l’examen de la teinte partransparence
permetfacilement,
avec un peu d’habi-tude,
de reconnaître le moment oùl’épaisseur
désirée est atteinte. Les films sont ensuitelavées à l’eau pure,
puis
fixés sur undisque
en nickelpercé
d’un trou etqui
sert desupport
pour l’examen aux électrons.
L’alliage
à 975 pour 1000 a lacomposition
suivante :Les feuilles sont ici
plus épaisses
et presque opaques par transmission. Il estindispen-
sable alors de les amincir à l’aide de la
technique
ci-dessus.Les deux
alliages
utilisés donnent lieu à desdiagrammes identiques
en cequi
concerneles
points
essentiels.b)
p"eu£lles deplatine
battu. - Elles sont constituées par duplatine
pur et sontégale-
ment obtenues
par martelage ;
ellesprésentent
partransparence
une teintegrisâtre.
Il n’apas été utile ici de les
amincir,
car lesphénomènes
de diffraction observés sont extrêmement intenses. Ces feuilles n’étant pas trèshomogènes,
il estcependant
nécessaire de ne choisir que lesrégions présentant
laplus grande transparence ; l’épaisseur
moyenne est encore de l’ordre de 60 ID[J..Méthode
expérimentale. -
Dans toutes cesrecherches,
on a utilisé lemontage
avectube
Coolidge
et cathode incandescente décrit dans lapremière partie;
tous les clichés ont été obtenus avec la même tension constante de 40 kilovolts afin de les rendrecomparables,
les débits étant de 1 à 5
milliampères
suivant les cas.Les feuilles
métalliques
à étudier sont fixées sur undisque
de nickelpercé
d’un trou de2 à 5 mm de
diamètre ;
cedisque s’adapte
au moyen d’unetige
sur lerodage
àexploration
décrit dans la
première partie.
Cedispositif permet d’explorer
la feuille en tous sespoints,
ce
qui
estcapital
dans nosexpériences ;
nousrappelons qu’il
estégalement indispensable
d’utiliser des
pinceaux
d’électrons très fins et très bien définis ainsi que des écrans degrande
luminosité.Les
phénomènes
de diffraction obtenus sont alors extrêmement intenses et visibles enpleine
lumière sur l’écran : lesdispositifs
décritspermettent
de les suivre dans tous leurs détails avec unegrande
netteté.L’enregistrement photographique
a été effectué directementsu r des
papiers
Kodak « VeloxRegular
» ; lestemps
de pose sont de l’ordre dequelques
secondes à
quelques
minutes.Sauf dans les cas
qui
serontspécialement
mentionnés(Platine),
lesfeuilles 1nétall’£ques
ont
toujours
étéplacées perpendiculairel1zent
aufaisceau
d’électrons sor"tant du collimateur.Comme on le serra
plus loin,
l’étude des films deplatine complète
l’étude des filmsd’or, particulièrement
en cequi
a trait à la diffraction des électrons par des cristauxuniques.
Aussi pour
plus
declarté,
nous diviserons ces recherches en deuxparagraphes principaux.
A. Etude des feuilles d’or battu.
B. Etude des feuilles de
platine
battu.A. Etude de feuilles d’or battu
(’).
Lorsqu’on
examine sur l’écran fluorescent lesdiagrammes
fournis par un film d’orbattu,
on voit immédiatement que les diverspoints
du film donnent desfigures
de diffrac- tion différentes. Cesfigures
de diffractionpeuvent
se classer en deuxcatégories principales comprenant
entre elles la gamme des cas intermédiaires :(1) Voir J.-J. TRILLAT et TH. ~-. HiRscH. G’. R. Acad. Sciences, 19 oct. 1931, p. 649.
1. Dans le
premier
cas, l’intensité diffractée estrépartie
d’unefaçon
à peuprès
uni-forme sur des cercles
concentriques (anneaux
deDebye-Scherrer).
2. Dans le deuxiéme cas, l’intensité se trouve localisée sur des secteurs isolés situés sur
les anneaux
précédents.
Lesfigures
de diffraction révèlent alors unesymétrie
qua- ternaire.Nous allons maintenant examiner
séparément
chacun de ces deux cas.1. Cas où les
diagrammes
sont formés d’anneaux.Diffraction par un
grand
nombre de cristaux.Les
figures d
àf,
PlancheII, représentent
des anneaux deDebye-Scherrer,
obtenusen diffractant par une feuille d’or battu des électrons de 40 kilovolts. En vue des
interprétations,
on areproduit
sur lafigure
c, PlancheII,
lediagramme donné,
pour la même tension de 40kilovolts,
par une feuille mince d’orpréparée électrolytiquement d’après
un
procédé
décrit par C. Muller(1).
Ce dernier
diagramme
estidentique
audiagramme
normal d’orobtenu par
la méthodede
Debye-Scherrer,
au moyen des rayons X. Comme l’onsait,
une tellefigure correspond
à la diffraction par un
grand
nombre depetits
cristauxrépartis
absolument auhasar,1,
sans aucune
espèce
d’orientation.Les
diagrammes
d’or battu(fig. d
àf )
sont constitués par des anneaux de même dia- mètre que ceux de l’orélectrolytique (fig. c) (1),
mais l’on voit immédiatement que larépartition
des intensités pour les cercles successifs estdifférente; par exemple
leplus petit
anneau de lafigure
c est debeaucoup
leplus
fort tandis que l’anneaucorrespondant
des
figures d
et e estfaible,
et que même il manque totalement dans lafigure f.
Les deuxsortes de
diagrammes -
orélectrolyüque -
or battu -présentent
donc une différenceessentielle
quant
aux intensités relatives des divers anneaux; en aucun cas on n’obtient avecl’or battu de
diagrammes présentant
unerépartition
d’.intensité normale comme cela a lieu pour l’orélectrolytique.
Interprétation.
Structure fibreuse. - L’étude desfigures
de diffraction(fig. d
àf )
nous amène aux conclusions suivantes :
1. La diffraction est
produite
dans ce cas par ungrand
nombre de cristaux(anneaux complets).
2. Les différences d’intensités relatives des anneaux obtenues avec une feuille d’or battu
_
et un film
préparé
parl’électrolyse (diagramme normal) indique
évidemment une orienta- tiongénérale
des cristaux dans la feuille d’or battu. Deplus,
le fait que l’intensité estrépartie
d’unefaçon
sensiblement uniforme suivantchaque
cercle prouve que l’orientation doit êtresymétrique
parrapport
à la direction normale à la feuille(c’est-à-dire
à la directionparallèle
au faisceaud’électrons);
la distribution des Lristaux est donc telle que ceux-cipossèdent
un axecristallographique
orientéparallèlement
à la normale à lafeuille,
autourduquel
ilspeuvent
tourner. Cecisignifie
que toutes les directions contenues dans leplan
de la feuille d’or sont
équivalentes;
on a donc affaire à une sti-ucturefibreuse,
dont l’axeest
perpendiculaire
à la surface de la feuille. ’Bien
entendu, l’arrangement
réel des cristatix necorrespond
pas entièrement au cas d’une structure fibreuseparfaite ;
il faut en effet tenircompte
de certains écarts parrapport
à la
position
idéale.Détermination de la direction
d’orientation.
- Onpeut
déterminer de lafaçon
sui-vante la direction
cristallographique parallèle
à l’axede fibre,
ou direction «paratrope
».(1) Les alliages qui constituent l’or battu sont constitués par des cristaux homogènes, ayant le même
réseau que celui de l’or pur (cubique à faces centrées) ; leur constante réticulaire diffère de moins de 1 pour 100 de celle de l’or pur.
D’après
la relation de Louis deBroglie,
ontrouve
que, pour des électrons accélérés par une différence depotentiel
de 40kilovolts,
lalongueur
d’onde associée î, estégale
à
0,06 Angstrôms.
A cettelongueur d’onde, correspondent
desangles
deBragg
0(tirés
dela relation A ~ ~ d sin
0)
de l’ordre dequelques degrés seulement ;
pour;les
réflexionssur les faces du cube
(200),
on a parexemple :
0 = 51 minutes.Pour
pouvoir
réfléchir des ondes associées aux électrons de 40kilovolts,
lesplans
réti-culaires doivent donc être presque
parallPles
à la direction d’incidence des électrons(1).
Comme dans toutes ces
expériences,
le faisceauélectronique
estperpendiculaire
auplan
dela feuille d’or
battu,
doncparallèle
à l’axe defibre,
les seulsplans
réticulairescapables
dedonner lieu à une réflexion seront ceux
qui
serontplacés
à peuprès parallèlement
à cet axe.Or on observe sur la
figure f
trois anneaux intensesprovenant
de réflexions sur lesplans (002), (022)
et(024) ;
ces troisplans
sontparallèles
à l’arête du cube ou direction[100~.
Parconséquent,
cette direction[1 OOJ
constitue la direct£oltparatrope.
Ainsi les cristaux sont orientés de
façon
que la direction[100J
ou arête du cube soitperpendiculaire
auplan
de la feuille.Ce cas d’une structure fihreuse
idéale,
estreprésen(é
par lediagramme
de lafigure f (ce diagramme
a été obtenu avec une feuille recuite - voirplus loin).
Lesfigures d
et ereprésentent
des cas intermédiaires entrel’arrangement complètement
désordonné(fig. c)
et la structure fibreuse
parfaite (fig. f);
d’unefaçon générale,
ledegré
d’orientationdépend
de laqualité
de la feuille et de lacomposition
del’alliage d’or,
et varieégalement
dans de
larges
limites pour les diverspoints
d’une mêmefeuille,
cequi peut s’expliquer
étant donnée la nature du travail de
martelage qui
nepeut
êtreparfaitement régulier.
Structure fibreuse considérée co-nme résultat du travail
mécanique. -
Comme onvient de le
voir,
la structure fibreuse se déduit immédiatement desdiagrammes
de diffrac-tion. Il est intéressaut de donner brièvement
quelques précisions
sur lerapport
existantentre la
disposition
des cristaux et le travailmécanique.
On sait que dans les métaux déformés
plastiquement (par exemple
les tôleslaminées,
les fils
étirés),
les cristauxprésentent
des orientationsprivilégiées
considérables. Lasymétrie
de ces orientationsdépend
engrande partie
de l’ensemble des forcesagissant
lorsdu travail
mécanique.
Dans le cas de feuilles obtenues parmartelage,
l’ensemble des forcespossède
un axe desymétrie perpendiculaire
auplan
de lafeuille ;
l’orientation résultant dumartelage
a nécessairement la mêmesymétrie.
Et de toutes les structures dedéformation,
cette condition est satisfaite
uniquement par la
structure fibreuse que nous avons décriteavec son axe de fibre
parallèle
à la normale à la feuille(Classe d’anisotropie
7 deWeissenberg) 1’).
Ainsi,
la considération de lasymétrie
des forcesmécaniques permet
de déduire àpriori
la nature de l’orientation résultant du
martelage ;
l’étude desdiagrammes deo
diffraction, amène à la mêmeconclusion,
maispermet
en outre cle déterminer l’axecristallographique qui
estparallèle
à l’axe defibre,
c’est-à-dire la directionparatrope.
Glissements et déformations
plastiques.
- L’étude des cristauxuniques
degrandes
dimensions montre que le mécanisme de la déformation
plastique
des métaux consiste en unglissement,
lelong
deplans déterminés,
des diverses couchescristallines, glissement accompagné
en mêmetemps
d’une courbure de ces dernières(Biegegleitung) (5).
Tandis
qu’un
cristalunique
déformé par unglissement
pur etsimple
donne nécessai- rement les mêmesimages
de diffractionqu’un
cristal nondéformé,
un cristalunique
déforméplastiquement
par unglissement accompagné
decourbure, produit
les mêmes effets de dif- fractionqu’un
certain nombre de cristauxuniques
nondéformés, qui
auraient subi unelégère
rotation les uns parrapport
aux autres.Cette remarque
présente
unegrande importance
pourl’interprétation
desdiagrammes
de la deuxième
catégorie
dont nous allons nous occuper maintenant.(1) Il n’en serait plus de même pour les rayons X, dont les longueurs d’ondes sont beaucoup plus grandes.
II. Cas où les
diagrammes
sont formés d’arcs de cercle Diffraction par un cristalunique
déforméplastiquement.
Comme nous l’avons
signalé
audébut,
on observe trèssouvent,
avec des feuilles d’orbattu,
un autre genre dediagrammes
danslesquels
les anneauxcomplets
se réduisent à des secteurs isolés(fig. y
eth,
Pl.II).
I,asymétrie
de cesfigures permet
d’affirmerqu’il
existe un axe de
symétrie quaternaire parallèle
au faisceau d’électrons(donc perpendicu-
laire au
plan
de la feuilled’or), et quatre plans
desymétrie
secoupant
à 45°. Si l’on compareplusieurs
de cesdiagrammes provenant
deplusieurs points
différents du film d’orbattu,
on constate que les
images
restentidentiques,
maispeuvent
être décalées d’unangle
arbitraire les unes par
rapport
auxautres,
comme lereprésente
lafigure
4.Fi g. 4.
On
pourrait
croire àl’aspect
de cesclichés, qu’il s’agit
dediagrammes
de fibres pour les-quels
il existerait un axe d’orientationplacé perpendiculairement
à la direction desélectrons,
c’est-à-dire contenu dans le
plan
de lafeuille,
comme cela seproduirait
pour une feuille laminée examinée normalement à la direction delaminage
ou pour un fil étiré examiné normalement à l’axe du fil. Ceci est absolumentincompatible
d’unepart
avec le fait que lesdiagrammes
obtenus pour diverspoints
sont décalés d’unangle variable,
d’autrepart
avec l’orientation des cristaux résultant du
martelage,
telle que nous l’avonsexposée plus
haut.
De tels
diagrammes
sont aucontraire,
comme on va ledémontrer,
dus à la diffraction des électrons par un cristalunique
déforméplastiquement,
dont la direction[1UU]
ou arêtedu cube est normale à la surface de la feuille.
On a en effet
indiqué plus
haut que le processus demartelage
donne lieu à unestructure
fibreuse,
les cristauxayant
tous un axe[100]
ou arête du cubeperpendicu-
laire à la surface de la feuille
et pouvant
occuper d’ailleurs uneposition quelconque
résultant de leur rotation autour de cet axe. Un seul cristal occupera donc une
position
telle que l’arête du cube élémentaire soit normale à la
feuille,
et s’il est suffisamment gros, il pourra ètre seul rencontré par lepinceau
d’électrons. Or les éléments desymétrie
desdiffractions obtenues ici sont
identiques
à ceuxqui
se trouvent dans un cristalcubique d’or, parallèlement
à l’arête du cube.Mais ceci ne suffit pas à
expliquer
entièrement lediagramme ;
il est en effetessentiel,
pour l’obtention de diffraction, que le cristal
unique envisagé
soitdéfoî-iiié 1>lasliqie>iie>it (voir plus haut).
Un cristal non déformé nepourrait
pas en effet donner lieu silnultané- ment à des réflexions sélectives pour des groupes deplans
réticulairesdifférents,
enutilisant,
comme c’est le casici,
un faisceau d’électronsmonocinétiques.
Lesplans
de lazone
[0()Ij qui
sontparallèles
à l’arête ducube,
seraientparallèles
à la direction desélectrons,
etl’angle
d’incidence serait nul.Au
contraire,
dans un cristalunique
déforméplastiquement (glissement accompagné
de
courbure), l’angle
d’incidence du faisceau d’électrons avec un certain groupe deplans
réticulaires
peut
varier entre certaines limites déterminées par la courbure de cesplans.
Entre ces
limites,
on pourra trouver unangle
6correspondant
à la réflexion sélective :c’est,
en homme,quelque
chosed’analogue
à cequi
se passe dans la méthode du lnica courbé ou de lagoutte tangente
décrite par l’un de nous(tT.
J. Trillat - Journal dePhysique janvier
19?9, et Annales dePhysique,
avril1931 ).
Etant donné que pour des électrons de 40
kilovolts,
lesangles
de réflexion sélective sont trèspetits,
un cristalunique
déforlné comme il vient d’êtreindiqué,
et dont l’arête du cube(direction !i00))
est en moyenneparallèle
au faisceau d’électrons(1),
donnera lieu à des réflexionssur
tous lesplans de
la zone~100J J (c’est-à-dire
lesplans qui
sontparallèles
àl’arête du cube dans un cristal non
déformé).
Si la courbure estplus accentuée,
il se pro- duiraégalement
des réflexions pour desplans
faisant unangle
assezpetit
parrapport
àcette direction
~~00].
L’angle a
entre unplan quelconque Ch k 1)
et la direction[100]
est donné par la rela- tio 0 : :Les
plans
de la zone[100
ont des indices de la forme(0
~;1)
et lesplans
les moinsinclinés par
,rapport
à la direction[100]
auront les indices(1 k 1).
Comme on a affaire àun réseau
cubique
à facescentrées,
les seulsplans qui
réfléchiront seront ceux à indicesou tous
pairs
ou tousimpairs.
Le tableau suivant donne les valeurs de x pour tous les
plans répondant
à cette condi-tion,
etqui
sont inclinés de moins de 20° parrapport
à la directionL100].
TABLEAU I.
A. l’aide de ce
tableau,
onpeut construire,
au moyen de la méthode desprojections stéréographiques,
lesdiagrammes théoriques
de diffraction. Lafigure 5
est obtenue enadmettant que la courbure du cristal est de l’ordre de
~0°;
dans ce cas tous lesplans
men-tionnés dans le tableau 1 donnent alors lieu à des réflexions. La
figure
6 est obtenue enadmettant seulement une courbure de
quelques degrés ;
parconséquent,
seuls lesplans
dela zone
[100] (indices
0 k1)
donneront lieu à desréflexions, puisque l’angle
aqui
est nul (~) La feuille d’or battu elant toujours placée perpendiculairement au faisceau ~’électron5.dans un cristal non
déformé,
se trouveracompris
entre 0° etquelques degrés
suivant la courbureenvisagée,
et encadrera alors la valeur del’angle
0 de réflexion sélective.Fig. 5. - Schéma du diagramme de diffraction donné par un cristal- unique d’or fortement déformé. Direction
[100]
parallèle au fais-ceau d’électrons.
Fig. 6. - Schéma du diagramme de diffrac- tion donné par un cristal unique d’or peu déformé. Direetion
[100]
parallèle au fais-ceau d’électrons.
On voit que la
figure i
est en bon accord avec lesdiagrammes g
et it obtenusexpéri-
mentalement avec une feuille d’or
battu;
ce résultat confirme donc bienqu’il s’agit
ici dediffraction d’électrons par un cristal
unique
déforméplastiquement
etpermet
dedéfinir,
d’unefaçon approchée,
la valeur de la courbure ducristal.
,Il
peut paraître
étonnant que l’onpuisse
observer aussifacilement,
avec une feuillepolycristalline,
des diffractions données par un cristalunique.
Nousrappelons
que ceci est rendupossible grâce
à lafinesse
dupinceau
d’électronsutilisé;
d’autrepart,
ilconvient d’observer que le
martelage
d’un cristalunique
a pour résultatd’augmenter
consi-dérablement sa surface. Cette
augmentation peut
être suffisante pourpermettre
en denombreux
points
de lafeuille,
l’obtention dediagrammes
de cristauxuniques (1).
Etude des transformations dues au recuit. - Influence de la
température. -
Onsait que le recuit d’un métal a pour résultat d’atténuer et même de
supprimer complète-
ment les effets du travail
mécanique.
Il était intéressantd’essayer
de saisir les transforma- tions amenées par divers recuits d’une feuille d’orbattu,
au moyen de la diffraction desélectrons;
enoutre,
onpouvait espérer
obtenir ainsi des cristauxuniques
moins déformés que ceux existant dans la feuille non recuite..Des essais
préliminaires
ont montré qne le recuit del’alliage
dans l’air ilpartir
deenviron, s’accompagne
d’une modificationprofonde
dudiagramme;
celui-ci se compose alorsuniquement
d’ungrand
nombre d’anneaux deDebye-Scherrer qui
necorrespondent
pas au réseau de l’or. Cette modification
peut
être attribuée à l’action de l’air(sans
doute àune
oxydation),
car elle ne seproduit plus
dans le vide.ll est donc nécessaire
d’opérer
le recuit à l’abri del’air;
pourcela,
la feuilled’or, supportée
sur undisque
en nickelpercé
d’un trou de 2 mm., estplacée
dans un tube enPyrex
relié à un manomètre et à une pompe à huile. Le tube enPyrex
est chauffé au moyen d’un bain de nitrates depotassium
et de sodiumfondus;
la durée del’opération
est de2 heures. La feuille d’or est alors sortie avec
précautions
del’appareil
et examinée auxélectrons.
(1) Les résultats que nous avons trouvés pour l’or ont été confirmés par Kirchner, dans une note (9)
parue plusieurs mois après notre premier mémoire. (C. R. Acad. Sciences, 19 oct. 1931.)
On constate
alors,
directement sur l’écranfluorescent,
une action très nette du recuit àpartir
de 350B Au-dessus d’unetempérature
voisine de 5000 commence la recristallisa- tionproprement
dite, c’est-à-dire laformation,
auxdépens
des gros cristauxorientés,
depetits
cristauxprésentant
toutes les orientationspossibles.
On obtient alors en tous lespoints
de la feuille desdiagrammes composés unique