• Nenhum resultado encontrado

О. В. Константинов, О. А. Мезрин, Изменение заряда в структуре металл–диэлектрик–полупро- водник при изменении магнитного потока в усло- виях квантового эффекта Холла, Физика и техни- ка полупроводников, 1983, том 17, выпуск 6, 1120–

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2023

Share "О. В. Константинов, О. А. Мезрин, Изменение заряда в структуре металл–диэлектрик–полупро- водник при изменении магнитного потока в усло- виях квантового эффекта Холла, Физика и техни- ка полупроводников, 1983, том 17, выпуск 6, 1120–"

Copied!
4
0
0

Texto

(1)

Math-Net.Ru

Общероссийский математический портал

О. В. Константинов, О. А. Мезрин, Изменение заряда в структуре металл–диэлектрик–полупро- водник при изменении магнитного потока в усло- виях квантового эффекта Холла, Физика и техни- ка полупроводников, 1983, том 17, выпуск 6, 1120–

1122

Использование Общероссийского математического портала Math- Net.Ru подразумевает, что вы прочитали и согласны с пользователь- ским соглашением

http://www.mathnet.ru/rus/agreement Параметры загрузки:

IP: 139.59.245.186

2 ноября 2022 г., 22:30:37

(2)

ной в [3]) найдены значения N.=Nd-\-Na (см. таблицу). При учете того, что кри­

вая K=f (пе) рассчитана для условий полного истощения и отсутствия компен­

сации (N = nf), можно было надеяться, что найденные таким способом значения N- должны переводить по горизонталям ( Z = c o n s t ) экспериментальные точки в соответствующие крестики на кривой. Полное подтверждение этих ожиданий (см. положения крестиков па кривой 1 рисунка) свидетельствует о том, что зна­

чения р^/ро (см. рисунок, 2), а следовательно, и значения К всецело определя­

ются сумлгарными значениями ионизированных центров Nf в исследуемых об­

разцах, а не электронной концентрацией. Это утверждение и ранее предположи­

тельно высказывалось в монографии [3] , однако лишь в приведенных здесь экспериментах оно получило вполне убедительные и надежные обоснования.

U риложение

28.5 Г т / 190 ,п отЛ/ 190\ l / 190 Т

+

1260

J [У х + — + e*-]0'TQ (*, — ) у х _ — (П1>

причем

в (х, а) — \

(П2) О при х < а,

Ъ0 = 2.99 . 1 0 "п - ^ г ( з 2 . 0 + 2 In Г + 1п ~ г + 1 0 ~1 4 - j ^ - ) ,

Ьх = 1.G2 • Ю-1 о у т ^ 3 1 . 4 + 2 In Г + In дГ + 1.46 • Ю "1 4- ^ - ] . (TI3).

Л и т е р а т у р а

[1] П. И. Баранский, В. М. БаСич, 10. П. До цепко, В. В. Коломосц, В. П. Ш а п о в г л а ФТП, 14, 1546 (1980).

[2] А. Г. Самойлович, И. Я . Корсиблнт, И. В. Даховскшг, В. В. Коломосд. ФТТ, 3, 2(39 (1961); 3, 3285 (19151).

[3] П. И. Баранский, П. С. Б уда, И. В. Даховскпп, В. В. Коломоед. Электрические и гальЕаномапштные явления в анизотропных полупроводниках. «Наукова думка», Киев- (1977).

Институт полупроводников Поступило в Редакцию АН УССР 4 января 1983 г.

Киев Принято к печати 13 января 1983 г.

Вып. 6 УДК G21.31tJ.02

ИЗМЕНЕНИЕ ЗАРЯДА

В СТРУКТУРЕ МЕТАЛЛ-ДИЭЛЕКТРИК-ПОЛУПРОВОДНИК ПРИ ИЗМЕНЕНИИ МАГНИТНОГО ПОТОКА

В УСЛОВИЯХ КВАНТОВОГО ЭФФЕКТА ХОЛЛА О. В. Константинов, О. А. Мезрин

1. Введение. В квантовом эффекте Холла [1"ь] объектом измерения явля­

ется холловское сопротивление двумерного электронного газа. Характерная особенность этой величины состоит в том, что она не зависит от размеров струк­

туры и определяется только микроскопическими характеристиками двумерного электронного газа. В настоящей работе обращается внимание на то, что можно

1120

(3)

измерять изменение заряда в структуре МДП, которым обменивается канал с за­

твором, если изменяется напряжение на затворе или магнитное поле. В первом случае измеряется, очевидно, электрическая емкость системы затвор—полупро­

водник, во втором случае за счет изменения магнитного поля возникает изме­

нение контактной разности потенциалов между двумерным электронным газом и затвором, в результате чего между ними происходит обмен электрическим за­

рядом. Благодаря этому можно ввести специфическую «магнитную» емкость системы МДП. Отношение ее к обычной электрической емкости также не зави­

сит от размеров структуры и будет определяться микроскопическими параме­

трами двумерного электронного газа.

Следует отметить, что при изменении магнитного поля происходит обмен электронами не только между каналом и затвором, но и между каналом и лока­

лизованными состояниями. Наибольший интерес представляет случай, когда магнитное поле изменяется таким образом, чтобы уровень Ферми находился вблизи середины расстояния между двумя уровнями Ландау. Это отвечает вы­

бору магнитного поля вблизи середины плато квантового эффекта Холла. Тогда полное изменение заряда (соответствующее переходу как на затвор, так и на локализованные состояния) будет равно

^Q^eM-—, ДФ = £ Д Я . ^ )

Здесь АН — изменение магнитного поля, S — площадь структуры,

= 2яЛс/в J (2)

— лондоновский квант магнитного потока, М — число заполненных уровней Ландау. Интересно отметить, что поток квантуется с лондоновским квантом, при­

чем, когда поток изменяется на один квант, в канал входит сразу М электронов.

2. Основные у равнения. Уравнения, описывающие данную задачу при наличии резервуара связанных электронов в постоянном магнитном поле, приведены в работе [6] . Они состоят из уравнения для электрического поля в диэлектрике

4га? / О, \

(3)

ж уравнения, связывающего уровень Ферми электронов в канале £ и приложен­

ное напряжение Vд,

eVff+^ = r+ — -[ e ( N + Na)^Qe + enAW]j (4)

где I — уровень Ферми электронов в истоке, Q8 «встроенный» заряд на гра­

нице полупроводник—диэлектрик, eD и d— диэлектрическая проницаемость и толщина диэлектрика. Размер истощенного слоя W между каналом и объемом полупроводника определяется выражением

1/ е (еОг 5 + С)

W® = \ йеЧА • (5)

где Uс — контактная разность потенциалов между сильно легированным исто­

ком и базой полупроводника. Концентрации Ns и N электронов на связанных состояниях и в канале соответственно определяются выражениями [6]

Л . = Р. ( С - С о ) . N = TM% M=2if[—kT J' (6)

где sW ) s=hQ (nJr1/2)+sgixBH — энергия уровня Ландау с квантовым числом п и спиновым s= + V 2 , С0 — уровень Ферми в канале в отсутствие Vд и Н, ps поверхностная плотность связанных состояний на интервал энергии, Г =

=еН/2тъНс — кратность вырождения любого уровня Ландау, s — диэлектриче­

ская проницаемость полупроводника, / — фермиевская функция заполнения.

Система уравнений (3)—(6) полностью описывает исходную задачу.

3. Вычисление «магнитной» емкости. Будем предполагать, что напряжение между затвором и истоком поддерживается постоянным, а магнитное поле изме-

1121

(4)

няется на величину АН, причем значение Н таково, что при его изменении от IT до # + АН уровень Ферми С находится между двумя уровнями Ландау. Тогда, из уравнений (4)—(6) можно найти связь приращения химпотенциала Д£

с приращением АН

eh ДЯ

где параметр а

характеризует плотность состояний трех резервуаров: затвора ад, базы полупро­

водника aw 1 и локализованных состояний о^; pu — m/nh2— плотность состояний' на интервал энергии электронов в канале, aB-=eh2jme2—боровский радиус- в полупроводнике.

Учитывая, что перетекший на затвор заряд AQg вызван током смещения Jс : S — — ED, получим

bQ9 = \jcdt = S^LEL. (9)' Используя выражение (3) для приращения АЕв и связь (7) между ДС и АН,.

можно найти AQg

М LE\C

где \c = hjmc — комптоновская длина волны, Сг = е.р£,/4™2 — емкость затвор—ка­

нал. В частности, если других резервуаров, кроме затвора, нет, то AQg = AQy

где AQ дается соотношением (1).

Если теперь определить «магнитную» емкость выражением

Си = 2Д(^/ДЯлс, ( И )

то можно получить

CJC==Mja. со­

измеряя «магнитную» емкость См и емкость структуры С в отсутствие магнит­

ного поля, можно экспериментально находить а.

Л и т е р а т у р а

[1] К. V. Klitzing, G. Dorda, М. Pepper. Phys. Rev. Lett., 45, 494 (1980).

[2] D . G . T s u i , H . L . Stormer, A. C. Gossard, W. W. Wiegmann. Phys. Rev. B, 2 1 , 158»

(1980).

[3] H. L. Stormer, D . G. Tsui, A. C. Gossard. Surf. Sci., 113, 32 (1982).

[4] R. B. Psalanen, D . C. Tsui. Phys. Rev. B, 25, 5566 (1982).

|5] G. Ebert, К. V. Klitzing, C. Probst, K. Ploog. Sol. St. Commun., 44, 95 (1982).

[6] О. В. Константинов, О. А. Мезрин, А. Я . Шик. ФТП, 17, 1073 (1983).

Физико-технический институт Поступило в Редакцию им. А. Ф. Иоффе АН СССР 16 февраля 1983 г.

Ленинград Принято к печати 18 февраля 1983 г..

1 Заметим, что выражение (5) справедливо лишь при наличии квазиравновесия электро­

нов во всем полупроводнике для очень низких температур, когда носители «выморожены»„

W не зависит от С и aw= 0 . 1122

Referências

Documentos relacionados

Исследования поверхности тонких ∼5 нм тестовых слоев нитрида кремния на сапфире методами AFM и оптической интерференционной микроскопии показали, что при in situ росте в реакторе MOCVD