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O m´etodo do Pseudopotencial ´e um bom recurso para o estudo de propriedades de ´atomos e mol´eculas e, portanto ´e amplamente utilizado no c´alculo de sec¸˜ao de choque de el´etrons por mol´eculas.

Os pseudopotencial substituem os el´etrons do caroc¸o e suavizam as func¸˜oes de onda. Assim, al´em de tornar os c´alculos mais simplificados, ao reduzirem o n´umero de el´etrons, possibilitam menores expans˜oes para as func¸˜oes de onda, agilizando o processo (VIANNA; CANUTO; FAZZIO, 2004).

Neste trabalho, utilizou-se os chamados pseudopotenciais de norma conservada aperfei- c¸oados por Bachelet, Hamann e Schl¨uter (BHS) (BACHELET; HAMANN; SCHL ¨UTER, 1982), que inicialmente foram propostos por Hamann, Schl¨uter e Chiang (COSTA, 2008).

Esses pseudopotenciais ´e a melhor opc¸˜ao para o tipo de processo realizado, pois s˜ao gerados de tal forma que permitem que as pseudofunc¸˜oes de onda sejam iguais as func¸˜oes de onda reais e possibilitam que os autovalores obtidos para os estados de valˆencia atˆomica sejam idˆenticos aos autovalores obtidos com o pseudopotencial, portanto, fornecem c´alculos bastantes precisos (OLIVEIRA, 1997).

Para a aproximac¸˜ao na qual s˜ao realizados os c´alculos de espalhamento, apenas s˜ao tratados explicitamente, os el´etrons de valˆencia, enquanto que os el´etrons do caroc¸o s˜ao sub- stitu´ıdos por um pseudopotencial. Este tratamento ´e justific´avel, pois boa parte das propriedades f´ısicas e qu´ımicas importantes em mol´eculas e materiais s˜ao determinadas pelos el´etrons da ca- mada de valˆencia. Uma vez que os el´etrons da camada interna atuam como um campo m´edio para os el´etrons de valˆencia (OLIVEIRA, 1997).

Al´em do mais, para o espalhamento no regime de baixas energias, os el´etrons inci- dentes n˜ao tˆem energia suficiente para excitar os el´etrons do caroc¸o e a dinˆamica de colis˜ao pode ser determinada pela interac¸˜ao entre el´etrons incidentes e de valˆencia (OLIVEIRA, 1997). A figura 4.1 foi retirada da dissertac¸˜ao de Freitas, T. C. (FREITAS, 2009) e ilustra a comparac¸˜ao entre as func¸˜oes de onda radiais reais (linhas pontilhadas) e as pseudofunc¸˜oes de onda (linhas cheias) do ´atomo de sil´ıcio.

A partir da figura, verifica-se que as func¸˜oes reais (AE), apresentam n´os, ao contr´ario das pseudofunc¸˜oes, fator que caracteriza o pseudopotencial como sendo suave. Al´em do mais, ap´os um certo raio, chamado raio de corte rc5, as func¸˜oes e pseudofunc¸˜oes coincidem, caracter- 5Segundo Vianna et al. (VIANNA; CANUTO; FAZZIO, 2004), para o Si, o orbital de valˆencia 3s tem r

Figura 4.1: Func¸˜oes radiais reais (AE) e as pseudofunc¸˜oes (PP) do ´atomo de sil´ıcio 3s (a) e 3p (b).

izando a norma conservada dos pseudopotenciais.

Os pseudopotenciais de BHS tˆem a seguinte forma anal´ıtica, ˆ

VPP= ˆVcore+ ˆVion, (4.17)

onde, ˆVPP, ´e o operador que cont´em o pseudopotencial e relaciona o potencial do caroc¸o ˆVcore, ˆ Vcore= −Zv r 2

i=1 cier fh(ρi)1/2r i , (4.18)

com o potencial dos el´etrons de valˆencia ˆVion, ˆ Vion= 1

n=0 2

j=1 3

l=0 An jlr2ne− σjlr2 1

m=−l |lmihlm|. (4.19)

sendo que a constante de decaimento ci, o decaimento linear respons´avel pela descric¸˜ao do

n´ucleo atˆomico ρi , a func¸˜ao erro erf e os demais parˆametros An jl e σjl podem ser encontrados

tabelados no artigo (BACHELET; HAMANN; SCHL ¨UTER, 1982).

Para os c´alculos utilizando o m´etodo Hartree-Fock, os pseudopotenciais s˜ao introduzi- dos fazendo-se a substituic¸˜ao 6 das integrais de trˆes centros do potencial nuclear entre dois

pr´oximo a 0.972 u.a., e o 3p pr´oximo a 1.436 u.a.. O raio de corte, geralmente ´e escolhido estando entre o ´ultimo n´o e o ´ultimo pico do orbital soluc¸˜ao da eq. de Schr¨odinger ou Kohn-Sham para o sistema envolvendo uma configurac¸˜ao na qual est˜ao presentes todos os el´etrons.

orbitais atˆomicos, Vµ νnucl = Z d~rφµ  −Zc r  φν, (4.20)

por integrais de trˆes centros do pseudopotencial entre dois orbitais atˆomicos (BETTEGA, 1993), Vµ νPP=

Z

d~rφµVˆPPφν. (4.21)

E para os c´alculos no m´etodo de multicanal de Schwinger, s˜ao substitu´ıdas as chamadas integrais h´ıbridas do potencial nuclear entre uma onda plana e um orbital atˆomico (BETTEGA, 1993), Vnucl= Z d~re−i~k~r  −Zc r  φν. (4.22)

pelas integrais h´ıbridas do pseudopotencial entre uma onda plana e um orbital atˆomico, VPP=

Z

d~re−i~k~rVˆPPφν. (4.23)

Dessa maneira, uma vez que os el´etrons do n´ucleo n˜ao s˜ao utilizados durante o pro- cesso, base menores s˜ao utilizadas durante o c´alculo das integrais, fator que possibilita um menor custo computacional.

5 RESULTADOS

5.1 Considerac¸˜oes Iniciais

Neste cap´ıtulo s˜ao apresentados e comparados com os resultados encontrados atrav´es de dados te´oricos e experimentais dispon´ıveis na literatura (DILLTON et al., 1994; BETTEGA et al., 1998; SZMYTKOWSKI; MOZEJKO; KASPERSKI, 2001), os resultados obtidos para o espalhamento el´astico de el´etrons a baixas energias por mol´eculas de Hexa-hidreto de Disil´ıcio (Si2H6) e Hexa-hidreto de Digermˆanio (Ge2H6), na aproximac¸˜ao est´atico-troca (SE) e de n´ucleo

fixo.

Na figura 5.1, uma representac¸˜ao pict´orica da estrutura geom´etrica das duas mol´eculas em estudo ´e apresentada. Para a obtenc¸˜ao dessas estruturas, mol´ecula de Si2H6, `a esquerda e

Ge2H6, `a direita, foram utilizados os softwares livres GAMESS (General Atomic and Mole-

cular Eletronic Structures Systems) (SCHMIDT et al., 1993) e Molden (Molecular Density) (SCHAFTENAAR; NOORDIK, 2000). As esferas centrais representam os dois ´atomos de Sil´ıcio (Si), em Si2H6 e de Germˆanio (Ge), em Ge2H6, e as demais esferas menores repre-

sentam os seis ´atomos de Hidrogˆenio (H), para cada uma das mol´eculas.

Observe que na mol´ecula `a direita (Ge2H6), as distˆancias interatˆomicas e, at´e mesmo os

´atomos de hidrogˆenio (H) parecem menores que na mol´ecula da esquerda (Si2H6). Isto ocorre

porque o ´atomo de germˆanio, que possui 32 el´etrons, ´e maior que o ´atomo de sil´ıcio, com 14 el´etrons e a figura ´e otimizada, isto ´e, as duas mol´eculas n˜ao est˜ao representadas na mesma escala. O grupo de simetria das mol´eculas representadas ´e o D3d.

O software GAMESS foi desenvolvido e ´e mantido pelo Mark Gordons Quantum The- ory Group, da Iowa State (GAMESS, 2010), e consiste num pacote com capacidade para di- versos para diversos c´alculos ab initio1 e de propriedades importantes para ´area da qu´ımica quˆantica computacional e f´ısica atˆomica e molecular, possibilitando, por exemplo, o c´alculo

1Do Latim “do in´ıcio/primeiros princ´ıpios

´e um grupo de m´etodos puramente te´oricos nos quais as estruturas moleculares podem ser calculadas atrav´es da utilizac¸˜ao da Equac¸˜ao de Schr¨odinger, valores das constantes fundamentais e dos n´umeros atˆomicos dos ´atomos.

Figura 5.1: Estrutura geom´etrica das mol´eculas de Si2H6, `a esquerda e Ge2H6, `a direita.

de estrutura eletrˆonica molecular que ´e realizado via m´etodo de Hartree-Fock-Roothaan, ap- resentado anteriormente. O Molden processa a estrutura eletrˆonica molecular possibilitando a obtenc¸˜ao das representac¸˜oes geom´etricas das estruturas moleculares, conforme mostram as figuras 5.1 e 5.2.

Figura 5.2: Outra representac¸˜ao da estrutura geom´etrica das mol´eculas de Si2H6, `a esquerda e

Ge2H6, `a direita.

A modelagem matem´atica do estudo de colis˜oes envolve dificuldades formais e exige grandes esforc¸os computacionais (VARELLA, 2000). Uma abordagem poss´ıvel e utilizada aqui, para a soluc¸˜ao de problemas de espalhamento, ´e o M´etodo Multicanal de Schwinger (SMC) com pseudopotenciais (SMCPP) de norma conservada de Bachelet et. al (BACHELET; HAMANN; SCHL ¨UTER, 1982). Este m´etodo foi adequadamente descrito em cap´ıtulo antecedente.

5.2 Sec¸˜oes de Choque Diferenciais para o Espalhamento de El´etrons por Mol´eculas de Si2H6

e Ge2H6

Nesta sec¸˜ao est˜ao expostas as sec¸˜oes de choque diferenciais, obtidas via simulac¸˜oes computacionais, para o espalhamento el´astico de el´etrons a baixas energias por mol´eculas de

Hexa-hidreto de Disil´ıcio (Si2H6), conhecidas por disilano e tamb´em por mol´eculas de Hexa-

hidreto de Digermˆanio Ge2H6, conhecida por digermano2.

As sec¸˜oes de choque diferenciais foram calculadas para el´etrons incidentes com ener- gias entre 0, 5 e 60, 0 eV, na aproximac¸˜ao est´atico-troca (SE) com n´ucleo fixo. Para tal, utilizou- se o m´etodo multicanal de Schwinger com pseudopotencial (SMCPP).

Na literatura, para as mol´eculas de Si2H6e Ge2H6, encontra-se o trabalho te´orico de

M. H. F. Bettega, et al (BETTEGA et al., 1998), que utiliza a mesma aproximac¸˜ao est´atico- troca, assim, foi poss´ıvel verificar que os resultados obtidos neste trabalho se mostraram em bom acordo com aquele, o que demonstra uma “boa calibragem (input)” para as simulac¸˜oes efetuadas. Existem tamb´em resultados experimentais de sec¸˜oes de choque de espalhamento de el´etrons por mol´eculas de Si2H6 (DILLTON et al., 1994; SZMYTKOWSKI; MOZEJKO;

KASPERSKI, 2001), os quais est˜ao reproduzidos nas figuras a seguir a t´ıtulo de comparac¸˜ao. Entretanto, n˜ao existem ainda resultados experimentais publicados na literatura para a mol´ecula de Ge2H6.

As sec¸˜oes de choque diferenciais s˜ao mostradas apenas para alguns valores da energia do el´etron incidente na aproximac¸˜ao est´atico-troca (SE) para as mol´eculas de Si2H6e Ge2H6.

Os resultados obtidos a partir das simulac¸˜oes s˜ao representados pela linha cheia de cor preta. Enquanto que os resultados de medidas experimentais, quando dispon´ıveis, s˜ao indicados pelos pontos em vermelho. A abscissa indica o ˆangulo de espalhamento (em graus) e a ordenada a sec¸˜ao de choque diferencial em unidades de 10−16cm2/sr. Para melhor comparac¸˜ao dos resultados, a ordenada dos gr´aficos ´e sempre colocada em escala logar´ıtmica.

Conforme pode ser observado, as sec¸˜oes de choque diferenciais apresentam um com- portamento caracter´ıstico, pois para pequenos e grandes valores do ˆangulo de espalhamento, mais part´ıculas s˜ao espalhadas, enquanto que, para valores intermedi´arios, o n´umero de part´ıculas espalhadas cai consideravelmente, dependendo do valor da energia do el´etron incidente.

Vale ainda ressalva de que os c´alculos das sec¸˜oes de choque diferenciais, conseguidos atrav´es de simulac¸˜oes computacionais, ou seja, de forma te´orica, s˜ao fundamentalmente impor- tantes, pois al´em de possibilitarem a obtenc¸˜ao das sec¸˜oes de choques integrais, (de onde podem ser obtidas informac¸˜oes relevantes acerca das poss´ıveis ressonˆancias), s˜ao as que efetivamente podem ser medidas em laborat´orio, permitindo-se assim uma comparac¸˜ao. Portanto, atrav´es deste trabalho e diante dos resultados obtidos ´e que se verifica a confianc¸a deste m´etodo te´orico de simulac¸˜ao computacional.

Figura 5.3: Sec¸˜oes de choque diferenciais para o espalhamento de el´etrons de 2, 3, 4 e 5 eV por mol´eculas de Si2H6.

5.3 Sec¸˜oes de Choque Integrais e de Transferˆencia de Momentum para o Espalhamento de El´etrons por Mol´eculas de Si2H6e Ge2H6

Esta sec¸˜ao ´e reservada `a apresentac¸˜ao dos resultados obtidos nas simulac¸˜oes computa- cionais para as sec¸˜oes de choque integrais e de transferˆencia de momentum para o espalhamento de el´etrons com energias de 0.5 a 60.0 eV, por mol´eculas de Si2H6e de Ge2H6(figura 5.6).

Na figura 5.6, as linhas preta e verde indicam os resultados obtidos com o c´alculo SE, preta para a sec¸˜ao de choque integral e verde para a sec¸˜ao de choque de transferˆencia de mo- mentum. A linha vermelha mostra os dados experimentais publicados em (SZMYTKOWSKI; MOZEJKO; KASPERSKI, 2001), dispon´ıvel apenas para a mol´ecula de Si2H6. A ordenada

mostra as sec¸˜oes de choque em unidades de a20, onde a0 ´e o raio atˆomico de Bohr, e a abscissa

indica a energia do el´etron incidente, em el´etron-Volt. Os dados experimentais, expostos em unidades de 10−20m2(SZMYTKOWSKI; MOZEJKO; KASPERSKI, 2001) foram convertidos para unidades de a20para fins de melhores comparac¸˜oes.

Figura 5.4: Sec¸˜oes de choque diferenciais para o espalhamento de el´etrons de 10, 15, 20 e 40 eV por mol´eculas de Si2H6.

Observa-se que pr´oximo `a origem, o comportamento assint´otico das curvas te´oricas (resultados obtidos via simulac¸˜ao computacional) divergem de seu valor esperado e tamb´em do resultado experimental (dispon´ıvel apenas para a mol´ecula de Si2H6). Esta ´e uma deficiˆencia do

m´etodo empregado e pode ser melhorado via aplicac¸˜ao de um procedimento conhecido como “procedimento de Bohr”, que otimiza o comportamento das sec¸˜oes de choque nas proximidades de 0 eV, para a energia do el´etron incidente.

Na figura 5.7, est˜ao explicitadas as regi˜oes de energias mais baixas (≤ 10eV ) que in- dicam uma poss´ıvel ressonˆancia de forma em ' 3, 0 eV, para o Si2H6e ' 3, 5 eV, para o Ge2H6.

A determinac¸˜ao da ressonˆancia ´e de crucial importˆancia, pois a mesma pode indicar a faixa de energia na qual o fenˆomeno da dissociac¸˜ao por anexac¸˜ao do el´etron (DEA) pode ocorrer. Entre- tanto, um resultado mais conclusivo a respeito da existˆencia e posic¸˜ao de eventuais ressonˆancias somente ´e poss´ıvel quando os efeitos de polarizac¸˜ao do alvo s˜ao levados em considerac¸˜ao.

Apesar disso, analisando os dados experimentais (linha vermelha), pode-se verificar que ´e prov´avel a ocorrˆencia de ressonˆancia, inclusive para menores energias do el´etron in-

Figura 5.5: Sec¸˜oes de choque diferenciais para o espalhamento de el´etrons de 2, 3, 4, 5, 10, 15, 20 e 40 eV por mol´eculas de Ge2H6.

Figura 5.6: Sec¸˜ao de choque integral e de transferˆencia de momentum para o espalhamento de el´etrons com energias de 0.5 a 60.0 eV por mol´eculas de Si2H6, `a esquerda e Ge2H6, `a direita.

Figura 5.7: Sec¸˜ao de choque integral e de transferˆencia de momentum para o espalhamento de el´etrons com energias de 0.5 a 10.0 eV por mol´eculas de Si2H6, `a esquerda e Ge2H6, `a direita.

cidente, ou seja, ' 2, 0 eV, para o Si2H6. Uma caracter´ıstica not´avel do m´etodo utilizado

´e que, quando efeitos de polarizac¸˜ao do alvo s˜ao levadas em considerac¸˜ao nos c´alculos, as ressonˆancias, aqui indicadas apenas qualitativamente pelo c´alculo est´atico-troca, migram para menores valores de energia e, portanto se aproximam bastante quando comparadas com as obti- das experimentalmente.

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