Software Test Universe

De modo a possibilitar a interface entre o utilizador e a mala de ensaios, a OMICRON for- nece o Test Universe, que põe à disposição do utilizador, uma vasta gama de módulos de teste especializados em ensaios automatizados de dispositivos de proteção.

Figura 2.5: Interface principal do software Test Universe

As funcionalidades do Test Universe incluem [9]: • Ensaio manual conveniente;

• Ensaio com módulos de software otimizados para funções específicas dos equipamentos sob teste (DUT, do inglês: Device Under Test);

• Ensaios genéricos permitindo a criação de ensaios para necessidade especial; • Combinação de todos os elementos anteriores em planos de ensaios completos; • Utilização de modelos de ensaios pré-definidos.

É através deste software que se parametrizam as configurações de hardware e a partir dos quais se desenvolve a criação do modelo de ensaios apresentado nesta secção. A configuração de

Figura 2.6: Configuração de hardware

O catálogo geral dos produtos da OMICRON [10] contém toda a informação acerca do soft- ware, no entanto, serão apresentados de seguida os módulos relevantes para a realização deste trabalho.

i) QuickCMC

O módulo QuickCMC permite um ensaio rápido ‘plug and play’ através de ajustes dos valores de corrente, tensão, ângulo de fase e da frequência, numericamente ou no diagrama vetorial. Além disso, este módulo executa cálculos do sistema de potência, permitindo a entrada dos dados em componentes de sequência, valores de potência e impedância. O módulo mostra os sinais de entradas binárias e executa medidas de tempo.

Atualmente é este o módulo utilizado pela Operadora da Rede Nacional de Distribuição, no- meadamente na execução dos ensaios às funções de sobreintensidade, instantâneo ou temporizado, dos IED’s. Idealmente, o QuickCMC apenas deveria ser utilizado numa fase inicial, para confirma- ção dos módulos e fases das correntes. Assim sendo, para contornar as limitações desta ferramenta, torna-se necessário cada vez mais, recorrer ao módulo OMICRON Control Center [4].

ii) State Sequencer

O State Sequencer é um módulo de testes bastante simples e flexível, capaz de certificar o cumprimento dos tempos de operação de qualquer tipo de defeito da rede.

Caracteriza-se pela correlação entre vários estados podendo dar origem a uma sequência de teste. A parametrização de cada estado poder ser ajustada de uma forma independente em termos de amplitude, fase ou frequência. A transição entre eles depende de uma temporização pré-definida ou da condição de estado de uma qualquer variável que esteja configurada no hardware de entradas binárias externas.

Esta dependência de vários fatores confere uma grande flexibilidade aos ensaios e permite uma adaptação dos mesmos às especificidades que o comissionamento requer ao SPCC [9] .

Figura 2.8: Ambiente gráfico do Módulo de Teste State Sequencer [11]

iii) Ramping

O módulo de teste Ramping, como o nome indica, gera rampas de amplitude, fase ou frequên- cia para as saídas de corrente e tensão. Atendendo aos valores de atuação definidos pelos settings da proteção, definem-se o valor inicial e final para a rampa, considerando o tempo de permanência da variável por cada passo incrementado. Este aspeto é relevante na medida em que, caso o tempo de atuação da função seja inferior ao tempo de permanência dum determinado estado da rampa, o valor obtido para avaliação não será o pretendido. Além disso, este módulo permite ao operador controlar as variáveis de saída em qualquer momento do teste.

Figura 2.9: Ambiente gráfico do Módulo de Teste Ramping [11]

A avaliação deste módulo é verificada através da criação de dependências na alteração do valor lógico das variáveis de estado com os valores nominais associados a esses valores.

Esta funcionalidade de teste é adequada para a verificação de zonas de operação e desoperação das funções.

iv) OMICRON Control Center

O projeto multifuncional para o ensaio das funções de proteção dos IED’s, normalmente requer o uso de vários módulos, de modo a ser possível testá-los exaustivamente.

Por questões de eficiência e conveniência, é preferível que os parâmetros do relé não sejam definidos separadamente, para cada módulo individual. Para além disso, a utilização de múltiplos módulos de teste não deve resultar em múltiplos relatórios de ensaio. Para essas aplicações, existe a tecnologia OMICRON Control Center (OCC). A tecnologia OCC permite combinar qualquer número de módulos de teste num único documento, originando, desde modo, um plano de testes completo que corresponda aos requisitos das funções a serem ensaiadas.

Os parâmetros do IED são especificados uma única vez, manualmente ou por importação de dados através do software de configuração do IED. Ao executar o plano de testes OCC, todas as funções de teste definidas num determinado módulo, são executadas, verificadas e validadas (se for o caso) de acordo com critérios definidos pelo utilizador antes que o programa passe para o módulo seguinte. O programa termina quando forem executados todos os testes de todos os módulos. Com o término do programa, o software apresenta os resultados na forma de um relatório de ensaios global.

Após o processo de teste, o OCC ainda contém todas as configurações definidas inicialmente, nomeadamente, os parâmetros do IED e os módulos de teste utilizados. Assim sendo, é possível voltar a utilizar o mesmo OCC para repetir os ensaios numa data posterior, tornando-se imperativo limpar os resultados obtidos anteriormente. Com isso, é possível reduzir o tempo necessário para os ensaios de manutenção, uma vez que o modelo de ensaios já utilizado, por exemplo na fase

de comissionamento, possa ser reutilizado. Para além da economia de tempo, o OCC garante a mesma qualidade de teste, permitindo uma comparação direta dos resultados dos ensaios.

Figura 2.10: Ciclo de reaproveitamento do plano de testes OMICRON Control Center [10]