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MESTRADO PROFISSIONAL EM METROLOGIA E QUALIDADE BANCO DE SUGESTÕES DE TEMAS PARA DISSERTAÇÕES

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Academic year: 2021

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Pós-Graduação do Inmetro

SUGESTÃO DE TEMAS ÁREAS DE

CONCENTRAÇÃO

LINHAS DE PESQUISA

01 Tema: Incertezas nos jogos olímpicos.

A ideia seria investigar algumas das modalidades olímpicas, com foco na estimativa da incerteza de medição e como ela poderia influir comprometendo os resultados de algumas disputas nas modalidades olímpicas selecionadas. Profissionais formados em educação física, física, engenharia mecânica, engenharia da produção, e outros.

Prof. Marco Antônio Nabuco de Araújo

Metrologia dos Fenômenos Ondulatórios

Metrologia Científica

02 Tema: Incerteza dos mapas de predição de níveis de ruído em áreas habitadas no Brasil.

A ideia é estudar e aplicar três dos softwares mais conhecidos de predição de níveis de ruído, os quais vêm sendo utilizados cada vez mais no país, e calibrá-los para a realidade do tráfego de veículos no Brasil.

Prof. Marco Antônio Nabuco de Araújo

Metrologia dos Fenômenos Ondulatórios

Metrologia Científica

03 Tema: Qualidade acústica de eletrodomésticos.

Esse tema poderia ser oferecido aos profissionais na área de fonoaudiologia. A ideia é procurar uma correlação entre o ruído emitido por aparelhos eletrodomésticos e novas métricas subjetivas, utilizando processos de auralização (na forma popular, realidade virtual acústica).

Prof. Marco Antônio Nabuco de Araújo

Metrologia dos Fenômenos Ondulatórios

Metrologia Científica

04 Tema: Aquecimento gerado por transdutores ultrassônicos terapêuticos segundo a norma ABNT NBR IEC 60601-2-5:2013.

Orientador: André Victor Alvarenga Candidata: Raquel Monteiro Souza

Metrologia dos Fenômenos Ondulatórios

Metrologia Científica

05 Tema: Uso do ultrassom na determinação do teor de sais e água em emulsões do tipo água em óleo.

Orientador: Rodrigo Pereira Baretto da Costa Félix Candidato: Pâmella Assunção Oliveira

Metrologia dos Fenômenos Ondulatórios

Metrologia Científica

06 Tema: Técnica tempo de voo da onda difratada (ToFD) para utilização em Ensaio Não Destrutivo (END) por ultrassom.

Orientador: Rodrigo Pereira Baretto da Costa Félix Candidato: Ruan Carvalho Mayworm

Metrologia dos Fenômenos Ondulatórios

Metrologia Científica

(2)

07 Tema: Retroespalhamento fotoacústico por ultrassom em ossos esponjosos sintéticos e avaliação dos impactos metrológicos. Orientador: Rodrigo Pereira Baretto da Costa Félix

Candidato: Douglas dos Santos Braz

Metrologia dos Fenômenos Ondulatórios

Metrologia Científica

08 Tema: Impacto do Novo SI (2018) no ensino médio e superior em física e engenharia.

Orientador: Rodrigo Pereira Baretto da Costa Félix Candidato: Artur Maurício Coelho de Jesus

Metrologia dos Fenômenos Ondulatórios

Metrologia Científica

09 Tema: Polarimetria Aplicada - Montagem de um Módulo para Ensaios de Rotação Óptica em Líquidos.

Prof.ª Ana Paula Dornelles De Alvarenga

Metrologia dos Fenômenos Ondulatórios/Óptica

Metrologia Científica

10 Tema: Técnicas Computacionais para Controle de Fraude em Organismos Acreditados

Prof. Luiz Fernando Rust da Costa Carmo/ Prof.ª Luci Pirmez

Metrologia Elétrica e de TIC

Acreditação

11 Tema: Usando os frameworks de segurança ARM TrustZone e Intel SGX no desenvolvimento de software para aplicações em

metrologia.

Prof. Luiz Fernando Rust da Costa Carmo/ Prof. Wilson de Souza Melo Junior

Metrologia Elétrica e de TIC

Avaliação da Conformidade

12 Tema: Requisitos de segurança da informação e de proteção de software para dispositivos inteligentes.

Prof. Raphael Carlos Santos Machado

Metrologia Elétrica e de TIC

Metrologia Científica

13 Tema: Métodos e técnicas para análise de software embarcado em dispositivos inteligentes.

Prof. Raphael Carlos Santos Machado

Metrologia Elétrica e de TIC

Metrologia Científica

14 Tema: Análise de segurança de mecanismos de verificação de integridade de software baseados em reflexão.

Prof. Raphael Carlos Santos Machado

Metrologia Elétrica e de TIC

Metrologia Científica

15 Tema: Gestão da segurança da informação em laboratórios envolvidos com análise de software de terceiros.

Prof. Raphael Carlos Santos Machado

Metrologia Elétrica e de TIC

Metrologia Científica

16 Tema: Metrologia em Imagens.

Prof. Charles Bezerra do Prado

Metrologia Elétrica e de TIC

Metrologia Científica

17 Tema: Metodologia de verificação de segurança em hardware para dispositivos inteligentes.

Prof. Charles Bezerra do Prado

Metrologia Elétrica e de TIC

Metrologia Científica

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Pós-Graduação do Inmetro

18 Tema: Termometria de ponto fixo. Projeto e construção de células de ponto fixo. Pontos fixos de ligas eutéticas: projeto,

construção e modelagem matemática do processo de fusão e solidificação de células de ponto fixo. Prof. Amaury Roteger de Oliveira

Metrologia Física (Térmica)

Metrologia Científica

19 Tema: Termometria de radiação. Desenvolvimento de metodologia para a calibração de termômetros clínicos timpânicos.

Calibração de câmeras de termo imagem, avaliação das grandezas de influência para o cálculo da incerteza de calibração. Prof. Amaury Roteger de Oliveira

Metrologia Física (Térmica)

Metrologia Científica

20 Tema: Termometria de contato. Construção de termopares especiais, de metais puros, avaliação da melhor capacidade de

medição desse tipo de termômetro Construção de termômetros de resistência de platina padrões. Prof. Amaury Roteger de Oliveira

Metrologia Física (Térmica)

Metrologia Científica

21 Tema: Propriedades térmicas. Medição de condutividade e emissividade térmica.

Prof. Amaury Roteger de Oliveira

Metrologia Física (Térmica)

Metrologia Científica

22 Tema: Medição de temperatura industrial. Envolve medição na indústria cerâmica, de vidros, siderurgia, de tratamentos térmicos,

farmacêutica e química.

Prof. Amaury Roteger de Oliveira

Metrologia Física (Térmica)

Metrologia Científica

23 Tema: Higrometria. Calibração de estações meteorológicas. Desenvolvimento de sensores de umidade.

Prof. Amaury Roteger de Oliveira

Metrologia Física (Térmica)

Metrologia Científica

24 Tema: Mapeamento das demandas e ofertas por programas brasileiros de produção de materiais de referência no contexto da

acreditação de laboratórios e produtores pela Coordenação Geral de Acreditação (Cgcre).

Prof.ª Renata Martins Horta Borges

Metrologia Química e da Vida

Acreditação

25 Tema: Cálculo de incerteza de medição em análises químicas.

Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

26 Tema: Produção de matérias de referências certificados: uma abordagem estatística.

Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

27 Tema: Validação de métodos analíticos.

Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

(4)

28 Tema: Planejamento de experimentos em Química, Biologia e áreas afins. Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

29 Tema: Calibração multivariada em ciências.

Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

30 Tema: Métodos de classificação em ciências.

Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

31 Tema: Estatística inferencial paramétrica e não-paramétrica para comparação interlaboratorial.

Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

32 Tema: Uso de Quimiometria em técnicas analíticas.

Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

33 Tema: Cartas de controle univariadas e multivariadas para controle de processos.

Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

34 Tema: Estudo de imagens hiperespectrais.

Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

35 Tema: Métodos Espectroscópicos (UV-VIS, Raman, infravermelho e etc..) para análises químicas através de Quimiometria.

Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

36 Tema: Desenvolvimento de uma sistemática para mapeamento de demandas e ofertas por Materiais de Referência e Ensaios de

Proficiência.

Prof.ª Vanderléa de Souza

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

37 Tema: Desenvolvimento de ferramentas para avaliação do modelo de governança da Rede de Metrologia Química do Inmetro.

Prof. Vanderléa de Souza candidata: Fernanda Bernardi

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

38 Tema: Produção e Certificação de Materiais de Referência.

Prof. Vanderléa de Souza

Metrologia Química e da Vida

Metrologia Científica

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Pós-Graduação do Inmetro

39 Tema: Acreditação e a Temática Ambiental: Mudanças Climáticas, Poluição Ambiental, Gestão Ambiental na Indústria,

Desenvolvimento Sustentável. Acordos Regionais e Internacionais Ambientais. Políticas públicas voltadas para o paradigma ambiental.

Prof. Ricardo Kropf Santos Ferman

Qualidade Acreditação

40 Tema: Acreditação e Competitividade: Competição na Indústria. Inovação Tecnológica. Gestão da Inovação Tecnológica. O papel

da acreditação na competitividade industrial/nacional e na inovação. Acreditação e acesso a mercados por parte de produtos e serviços nacionais.

Prof. Ricardo Kropf Santos Ferman

Qualidade Acreditação

41 Tema: Acreditação de organismos de avaliação da conformidade. Estudo e aprimoramento do processo/sistemática de

acreditação. Novos programas de acreditação.

Prof. Ricardo Kropf Santos Ferman

Qualidade Acreditação

42 Tema: Avaliação do desempenho de edificações e espaços construídos.

Prof. Luiz Roberto Mayr

Qualidade Avaliação da

Conformidade

43 Tema: Avaliação do desempenho de tecnologias e sistemas construtivos.

Prof. Luiz Roberto Mayr

Qualidade Avaliação da

Conformidade

44 Tema: Avaliação do desempenho de sistemas de produção de serviços.

Prof. Luiz Roberto Mayr

Qualidade Avaliação da

Conformidade

45 Tema: Avaliação do desempenho ambiental de produtos e processos.

Prof. Luiz Roberto Mayr

Qualidade Avaliação da

Conformidade

46 Tema: Avaliação do desempenho ambiental das organizações.

Prof. Luiz Roberto Mayr

Qualidade Avaliação da

Conformidade

47 Tema: Boas Práticas de Medição aplicadas a produtos pré-embalados.

Prof. Marcos José Hoffmann de Senna

Qualidade Metrologia

Legal

48 Tema: Controle Estatístico de Processo aplicado a produtos pré-embalados.

Prof. Marcos José Hoffmann de Senna

Qualidade Metrologia

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49 Tema: Estimativa da incerteza de medição associada ao exame metrológico legal de produtos pré-embalados. Prof. Marcos José Hoffmann de Senna

Qualidade Metrologia

Legal

50 Tema: Gestão de Medição de produtos pré-embalados.

Prof. Marcos José Hoffmann de Senna

Qualidade Metrologia

Legal

51 Tema: Regulamentação técnica e metrológica de produtos pré-embalados.

Prof. Marcos José Hoffmann de Senna

Qualidade Metrologia

Legal

Áreas de Concentração:

1. Metrologia dos Fenômenos Ondulatórios = Concentra as subáreas de Óptica, Acústica, Ultrassom e Vibração.

2. Metrologia Elétrica e de TIC = Concentra as subáreas de Elétrica, Tecnologia da Informação, Telecomunicações e Tempo-Frequência. 3. Metrologia Física = Concentra as subáreas de Materiais, Mecânica, Térmica e Dinâmica de Fluídos.

4. Metrologia Química e da Vida = Concentra as subáreas de Química e Ciências da Vida. 5. Qualidade = Centrada nos conceitos de normalização e regulamentação.

Linhas de Pesquisa:

a) Acreditação = Visa os aspectos de reconhecimento formal por um organismo independente especializado em normas técnicas daquele setor de que uma instituição atende a requisitos previamente definidos e demonstra ser competente para realizar suas atividades com segurança.

b) Articulação Internacional = Visa as atividades de suporte ao comércio exterior que envolvem questões de regulamentação técnica, normalização e procedimentos de avaliação da conformidade.

c) Avaliação da Conformidade = Trata dos procedimentos para provimento de um adequado grau de confiança em um determinado produto, mediante o atendimento de requisitos definidos em normas ou regulamentos técnicos.

d) Metrologia Científica = Enfoca os processos de análise, desenvolvimento dos padrões de medição e inovação tecnológica que embasam a metrologia nos seus diferentes alcances. e) Metrologia Legal = Visa os aspectos técnicos e metrológicos dos instrumentos de medição e medidas materializadas relacionados às áreas de saúde, segurança, meio ambiente e

Referências

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