Física da interação da radiação com componentes
eletrônicos e análise física dos efeitos da radiação
Odair Lelis Gonçalez e Octávio Pereira da Silva Filho (IEAv)
Sumário:
1) Introdução: grandezas físicas e fenômenos a considerar
2) Interações da radiação com o meio material
3) Correlação dos efeitos físicos (interação com o material) e
os efeitos nos parâmetros e funcionalidades dos
dispositivos eletrônicos
4) Testes acelerados dos efeitos da radiação com
componentes eletrônicos: instalações e fontes de radiação
5) Experimentos de TID realizados no Laboratório de
Radiação Ionizante do IEAv com fonte de 60Co
6) Testes de SEE com laser
1. Introdução: grandezas físicas e fenômenos
a considerar
1.1 Radiação e ambientes hostis a pessoas,
equipamentos e materiais
1.2 Considerações quanto à proteção e mitigação dos
efeitos da radiação no projeto de um veículo espacial
1.3 Efeitos ambientais no espaço e a radiação
1.4 Fontes de radiação no espaço e seus efeitos
1.5 Fenômenos e grandezas que devem ser definidos
para especificação de componentes para aplicações
espaciais
1.1 Radiação e ambientes hostis a pessoas, equipamentos e materiais
Instalações nucleares
Radiação cósmica: partículas de
alta energia (prótons, alfas, e
demais íons, até GeV)
Instalações nucleares e radiativas:
raios-X, gamas, nêutrons, betas,
prótons e radioisótopos
Meio ambiente: radioisótopos naturais e
artificiais (solo. Ar e água) e radiação cósmica
atmosférica, que aumenta com a altitude.
Cenários de operações militares: explosões
atônicas (gamas,nêutrons) e contaminação
Principais ambientes radiativos hostis à eletrônica:
Espaço
: Radiação cósmica (prótons e íons de alta energia)
Aeronáutico
: vôos acima 10 mil metros (nêutrons, prótons,etc)
Solo
: nêutrons térmicos
Instalações de radioterapia, pesquisa e nucleares:
elétrons,
gamas, nêutrons e partículas de baixa e média energia
Cenários de operações militares
: pulsos intensos de radiação
Tipos de radiação:
a) Eletromagnética (fótons)
: Raios-X e gamas
b) Particulas carregadas leves
: elétrons (β
-
) e pósitrons (β
+
)
c) Partículas carregadas pesadas
: prótons, deuterons, alfas,
fragmentos de fissão e demais ions
d) Partículas neutras
: nêutrons
e) Particulas elementares
(reações em altas energias):
diversas partículas elementares em chuveiros criados a partir
da interação de raios cósmicos com a atmosfera
Requer o conhecimento prévio das condições ambientes, previsão dos
efeitos e inserção da proteção e mitigação desses efeitos na fase de projeto.
Requer depois testes de controle de qualidade dos componentes e nos
sistemas integrados na fase de execução.
1.2 Considerações quanto à proteção e mitigação dos efeitos da
radiação no projeto de um veículo espacial: é um dos vários campos
da engenharia espacial.
1.4 Fontes de radiação no espaço e seus efeitos
Radiação cósmica:
a) Galáctica
b) Solar
c) Aprisionada
Dependendo da missão (órbita)
uma delas será a mais significativa
E os efeitos serão:
a) Acumulativos: TID, DD
b) Isolados (estocásticos ou
contáveis): SEE
- transientes (não destrutivos):
- permanentes (permanentes)
Forma com que a energia
depositada pela radiação no
meio (ionizante e não ionizante)
1.5 Fenômenos e grandezas que devem ser definidos para
especificação de componentes para aplicações espaciais
1) Qualificação e quantificação da radiação:
a) Tipos de partículas que atingem o componente:
p, e, ions, n
,
b) Energia das partículas ou espectro:
φ(E) →φ(LET)
c) Fluxo e fluência (
Taxa de dose e dose acumulada
)
2) Propriedades do componentes:
a) Tipos de materiais empregados e tecnologia (
espessura
)
b) Natureza do componente (
diodo, transistor, memória, etc
)
c) Volumes ativos ou sensíveis (
seção de choque, alcance,
concentração limiar de carga, LET, Deslocamento atômico
)
3) Interação da radiação com o meio material e como o
2. Interações da radiação com o meio
material
2.1 Natureza e propriedades das radiações
2.2 Interações da radiação com a matéria conforme
o tipo e a correlação com os efeitos observados
2.3 Poder de freamento (”Stopping power”),
transferência linear de energia (LET) e alcance
(range)
2.4 Dose (ionizante e não ionizante)
Tipo
Nome
Símbolo Carga (e)
Massa
(u.m.a)
Meia-vida
raios-X
X
0
0
Indefinida
Gamas
γγγγ
0
0
Indefinida
Elétron
e
-, ββββ
−−−−-1
0,000549
Estável
Pósitron
e
+, ββββ
+++++1
0,000549
Estável
Múon
µ
--1
0,114
2,2××××10
-6Antimúon
µ
++1
0,114
2,2××××10
-6Neutrino
υ
υ
υ
υ
0
≈
≈
≈
≈ 0
Estável
Anti-neutrino
υ
υ
υ
υ
0
≈
≈
≈
≈ 0
Estável
Puin positivo
π
π
π
π
+++++1
0,15
2,55××××10
-8Piun negativo
π
π
π
π
−−−−-1
0,15
2,55××××10
-8Pion nêutro
π
π
π
π
00000
0,15
2,55××××10
-8Kaon positivo
Κ
Κ
Κ
Κ
+++++1
0,531
1,22××××10
-8Kaon negativo
Κ−
Κ−
Κ−
Κ−
-1
0,531
1,22××××10
-8Prótons
p
+1
1,007593
Estável
Nêutrons
n
0
1,008982
Estável
Ondas
eletromagnéticas
Léptons
Bárions
Méson
e = Carga elementar = 1,6×10
-19C
1 u.m.a. = 1,661×10
-27kg = 931,5MeV
Fontes de radiação:
Naturais:
1) Raios cósmicos (várias partículas elementares e íons de alta
energia)
2) Radionuclídeos presentes na terra, água e ar: urânio, tório e
seus descendentes (emissores alfa, beta e gama), radônio do ar,
14C, 40K, etc
Artificiais:
1) Radioisótopos produzidos em aceleradores e reatores para
fins industriais e médicos (diagnóstico e terapia), como o
60
Co,
137
Cs,
90
Sr-
90
Y,
131
I e especiais para P&D, como o
252
Cf, Pu-Be,
etc.
2) Reatores nucleares: nêutrons, gamas, produtos de fissão e
radioisótopos
3) Aceleradores de partículas: elétrons, prótons, alfas e demais
íons pesados e radiação secundária gerada pelo feixe (nêutrons,
gamas, raios-X e partículas elementares
4) Aparelhos de raios-X: raios-x (espectro contínuo e/ou raios-x
característicos)
2.2 Interações da radiação com a matéria conforme o tipo
Radiação Interação Resultado Efeito no meio materialEfeito foto-elétrico
O fóton é absorvido e o elétrons ligado de uma órbita interna é ejetado do átomo (ionização primária)
O elétron ejetado perde energia por colisões (ionização do meio) e por emissão de radiação de freamento
("bremsstrahlung")
Efeito compton
Espalhamento inelástico do fóton com um elétron fracamente ligado. Elétron é
ejetado e o fóton muda de energia e de direção
O elétron ejetado perde energia por colisões (ionização do meio) e por emissão de radiação de freamento ("bremsstrahlung") e o fóton espalhado
pode interagir novamente com o meio
Produção de Pares
O fóton desaparece e a sua energia é transformada em
massa de respouso e energia cinética de um par
elétron-pósitron
O elétron e o pósitron ejetados perdem energia por colisões (ionização do meio) e
por emissão de radiação de freamento ("bremsstrahlung"). O pósitron a seguir colide com um elétron do meio ocorrendo
a aniquilação destas partículas com a emissão de dois fótons de 0,511MeV em
direções opostas Fótons
(Raios-X e gamas)
O resultado final é a ionização do meio e o desenvolvimento de uma
cascata de elétrons e fótons secundários, que se desenvolve ao
longo da espessura do meio, inicialmente subindo (build-up) e
Radiação Interação Resultado Efeito no meio material Coulombiana com
átomos do meio
Ionização dos átomos e emissão de um ou mais
elétrons
Ionização do meio ao longo de sua trajetória tortuosa. Energia depositada
caracterizada pela baixa LET Emissão de radiação de
freamento (Raios-X de "bremsstrahlung")
Os fótons emitidos atravessam e interagem com o meio
Espalhamento elástico
O elétron muda de trajetória e o núcleo sofre um recuo, deslocamento atômico e
ionização do meio Coulombiana com
átomos do meio
Ionização dos átomos e emissão de um ou mais
elétrons
Ionização do meio ao longo de sua trajetória retilínea. Energia depositada
caracterizada pela alta LET Nuclear:
espalhamento Deslocamento atômico
Mudança de posição do átomo da rede cristalina em sólidos, quabra da ligação química, ionização secundária do meio
Nuclear: reação
Formação de produtos de reação e possibilidade de
emissão de gamas, betas,nêutrons, etc
Transmutação do elemento químico do meio, quebra de ligações químicas, ionização do meio pelo reuo dos produtos
de reação e formação de nuclídeos radioativos Eletromagnética com a carga nuclear Emissão de radiação de freamento (Fótons de "bremsstrahlung")
Os fótons emitidos atravessam e interagem com o meio
Eletromagnética com a carga nuclear Eletrons e pósitrons Ions pesados (prótons, alfas, etc...)
O resultado final é a ionização do meio (principal mecanismo),
deslocamento atômico e geração de radiação secundária:
bremsstrahlung (elétrons) e produtos de reações nucleares e
espalhamentos para as partículas carregadas pesadas
Radiação Interação Resultado Efeito no meio material Espalhamento
elástico e inelástico com núcleos dos
átomos que constituem o meio
Núcleo de recuo com momento transferido pelo
nêutron na colisão.
Deslocamento atômico e ionização do meio pelo núcleo de recuo (importante para materiais de baixo número atômico,
Ex: hidrogênio)
Reação nuclear
Produtos de reação (ions) e radiação secundária (betas,
gamas, etc)
Transmutação do elemento químico do meio, quebra de ligações químicas, ionização do meio pelo reuo dos produtos
de reação e formação de nuclídeos radioativos. Ionização do meio posteriormente pelo decaimento desse nuclídeos radioativos. É muito importante a reação de captura de nêutrons térmicos
pelos núcleos dos átomos do meio. Nêutrons
O resultado final é a ionização do meio através das partículas
secundárias geradas das interações nucleares do nêutron com os
núcleos dos átomos do meio, deslocamentos atômicos dos átomos
do meio e a formação de nuclídeos instáveis (radioativos), os quais
irão decair posteriormente de acordo com as suas meias vidas
2.3 Poder de freamento ¨(”Stopping power”), alcance
(range) e transferência linear de energia (LET)
Stopping Power: Quantidade energia perdida pela partícula por
unidade de percurso no meio através de todas as interações
(colisão e radiação).É medido em MeV/g.cm
-2.. As perdas por colisão
podem resultar em ionização do meio ou interações nucleares.
∫
−
=
0
)
(
1
inicialE
dx
dx
dE
R
O alcance (ou “range”)
da partícula no meio é
a distância percorrida
até perder a totalidade
de sua energia
Transferência linear de energia (LET): energia que é
transferida na forma de ionização do meio
ionização
dx
dE
LET
=
Ion
Energia
(MeV)
LET
(MeV.cm
2/mg)
Alcance
(mm)
12C
102
1,4
193
19F
141
3,4
126
35Si
186
7,9
85,3
35Cl
210
11,4
65,8
48Ti
227
18,8
47,5
58Ni
266
26,6
41,9
79Br
290
37,2
39
127I
320
59,7
34
197Au
350
82,3
27,9
2.4 Dose (ionizante e não ionizante)
Massa
Energia
Dose
=
A dose absorvida, ou simplesmente
dose, é a energia depositada pela
radiação por unidade de massa do
meio
Unidades de medida:
Si = J/kg
Especial: Gy
Antiga rad
1Gy = 100rad
TID está relacionada à dose devida à
ionização
DD está relacionada à dose não
ionizante (NIEL)
2.4 Conceito de fluxo e de secção de choque
Fluxo é a quantidade de partículas que atravessa uma
unidade de área na unidade de tempo Em geral expresso
em partículas/cm
2
.s. O fluxo integrado no tempo é
O fluxo pode ser escrito também na forma diferencial em energia:
dE
d
φ
ou simplesmente φ(E) que é expresso em part/cm
2
.MeV.s
A secção de choque para um determinado evento num
componente é dada pela razão entre o taxa de eventos
observados e o fluxo de partículas incidentes no componente:
φ
σ
=
n
A seção de choque depende da energia e do tipo de partícula
incidente. Para SEE a seção de choque depende do LET.
Conhecendo-se a seção de choque e o fluxo de partículas
incidentes, o número de eventos esperado é calculado por:
∫
=
MAX thLET
LET
LET
d
LET
LET
n
φ
(
).
σ
(
).
(
)
4. Correlação dos efeitos físicos (interação com o
material) e os efeitos nos parâmetros e funcionalidade
dos dispositivos eletrônicos
1) Efeitos acumulativos: efeitos provenientes de várias
partículas (ionização e deslocamentos atômicos) que
dependem da
dose total acumulada de radiação
(ionizante e não ionizante)
→
→
→
→ aumenta continuamente
com o tempo
a) TID (Total Ionizing Dose) →
→
→
→ Associado ao
aprisionamento e acúmulo de cargas em estruturas ou
regiões sensíveis do componente
b) DDD (Displacement Damage Dose) →
→
→
→ Associado a
danos na estrutura do material por deslocamentos
atômicos (NIEL - Non-ionizing Energu Loss)
2) Efeitos de partícula isolada (SEE – Silgle Event
Effects): são efeitos de natureza estatística (contáveis) e
associados à interação de cada partícula do feixe com
regiões sensíveis do componente. Quando a partícula
ionizante provoca uma concentração de cargas
suficiente para causar um sinal elétrico anômalo.
Depende do
LET (lLinear Energy Transfer) e Alcance
(Range) da partícula
. Pode ser:
a) Transitório (recuperável): SET (Sigle Event
Transiente), SEU (Single event Upset),
b) Permanente (irrecuperável): SEL (Single Event
Letchup), SEB (Single Event Burnup). SEGR (Single
Event Gate Rupture), etc
* Taxa de ocorrência
depende do Fluxo incidente e da
5 Ensaios e testes acelerados dos efeitos da radiação em
componentes eletrônicos: instalações e fontes de radiação
Os ensaios e testes acelerados de irradiação de
componentes eletrônicos são realizados para medir a
dependência de parâmetros funcionais com a dose de
radiação e para medir a probabilidade de SEE (LET limiar e
seção de choque em função do LET), simulando em curto
tempo as doses baixas e fluxos recebidos pelo componente
exposto por longo tempo no espaço. Cuidado deve ser
tomado na escolha das taxas de dose devido a componentes
que apresentam ELDR).
Há também os testes de qualificação de lote para a
aceitação de componentes, onde uma amostra do lote é
submetida à dose e à fluência de partículas previstas na
missão para fins de aprovar ou não o lote, medindo-se os
parâmetros e funcionalidades do componente na sua
TID – Gamas (60Co), raios-X e elétrons
(irradiadores, fontes e aceleradores)
DD – elétrons, nêutrons, prótons, ions
(aceleradores, fontes, reatores)
SEE – prótons, ions, nêutrons
(aceleradores, fontes e laser, mas há
alguns trabalhos com reatores
Efeito da Radiação em Fibra Óptica Utilizada em
Giroscópio à Fibra Óptica
)]
exp(
1
.[
)]
exp(
1
.[
)
(
dB
P
1P
2t
P
3P
4t
A
=
−
+
−
2 4 2 2 3 1 2 1 1 11
1
T
P
T
D
C
P
T
P
T
D
C
P
=
=
=
=
0,00 0,10 0,20 0,30 0,40 0,50 0,60 0,70 0,80 0,90 1,00 1,10 1,20 0 50 100 150 Tempo de irradiação (h) in te n si d ad e n o rm al iz ad a HB1500G HB1500G-RT 0 0,2 0,4 0,6 0,8 1 1,2 0 200 400 600 Tempo de recuperação (h) In te n si d a d e n o rm al iz ad a HB1500G HB1500G-RTRedução da transmissão
durante a irradiação
Recuperação da fibra após a
irradiação
Modelo do comportamento
Estudo dos Efeitos da Radiação Ionizante no Conversor
de Tensão DC/DC LM2596
Multímetro Osciloscópio Fonte 0-60V/50A GPIB BUS Fonte Co60 GPIB-LAN Plataforma Virtual VEE Multímetro Osciloscópio Fonte 0-60V/50A GPIB BUS Fonte Co60 GPIB-LAN Plataforma Virtual VEE 0 1 2 3 4 5 6 0 5 10 15 20 25 30 35 40 45Dose Total Absorvida [krad(Si)]
T en sã o d e S aí d a (V ) 6 V 10 V 15 V 20 V 25 V 30 V 35 V 40 V Tensão de Entrada (V) Limiar de dose acumulada [krad(Si)] 6 19,1 10 21,9 15 23,7 20 25,1 25 26,5 30 27,9 35 29,4 40 31,3
FIM da PRIMEIRA PARTE!
1
SINGLE EVENT
EFFECTS
MsC Octavio Pereira da Silva Filho
EFA – A
Instituto de Estudos Avançados
CTA
2
Single Event
Effects
Instalações de teste
e
3
Visão Geral
Ambientes Radioativo
Conceitos de Single Event Effects
Caracterização do SEE
Método de teste de SEE
Acelerador de Partículas
Fonte de Californium 252
Laser Pulsado
4
Ambiente Radioativo Espacial
Cinturão de radiação
– Electrons até 7 MeV
– Protons até 400 MeV
Espaço
– Raios cósmicos
–Íons pesados (ions com extrema energia)
– Labaredas solares (primariamente protons
5
Ambiente Radiativo na Atmosfera
Cosmic Ray Interactions in the Air
Chuveiro de
partículas entre o
topo da atmosfera
e o nível do mar
Composição:
~85% protons
~14% α, ~1% núcleos pesados
a maior parte até 10 GeV/amu.
Mas alguns até 10
11GeV(16 J)
6
A Eletrônica no Ambiente Radioativo
A eletrônica embarcada num satélite, por
exemplo, está sujeita a ação da radiação
SEE
É o efeito causado pela ionização de regiões sensíveis
de um dispositivo eletrônico causado por uma única
partícula, acarretando na falha de operação do mesmo,
temporariamente ou permanentemente.
7
Single Event Effects
Íons de alta energia têm a velocidade
diminuída através de perda de energia por
colisão elástica (nuclear) e inelástica
(eletrônica)
Colisão Elástica
Colisão Inelástica
Si(
n
,αααα)Mg, Si(n
,p
)Al Si(p
,2p
)Al, Si(p
,p
αααα)
)MgInteração Nuclear
Direta / Indireta interação
através de reação nuclear
Ions
8
Classification of the Single Event Effects
Efeito no
dispositivo
Poder de
atuação
Tipo de
dispositivo
9
Single Event Gate Rupture
Permanente falha do óxido
Power Mosfets são mais suscetíveis
Dependente do campo elétrico no óxido
do gate
10
Single Event Burnout
Causado por corrente excessiva dentro
da estrutura do dispositivo
Power transistors
Alguns tipos de circuitos integrados
lineares
11
Single Event Latchup
Envolve elementos parasitas
do circuito que formam o SCR
(silicon controlled rectifier)
A corrente do dispositivo
pode destruí-lo se não for
limitada ou removida a tempo.
Ação Inicial do trigger:
Corrente induzida pelo íon flui do contato
até o substrato e alimenta diretamente o
transistor bipolar vertical e parasita. O
resultado é que o circuito do SCR é
acionado totalmente e causa um curto
através do dispositivo.
12
Single Event Transient & Upset
A ionização da região
sensível do dispositivo
leva ao acionamento de
um transistor mudando o
estado lógico de células
de memória (upset).
Static random access
memory SRAM
13
Single Event Similar to SEU
SEFI
MBU
MBU é um problema para:
-códigos de detecção de erro de um bit (EDAC)
-DRAMs e certas SRAMs
-coloca o dispositivo num modo de teste, parada temporária ou
estado indefinido
-SEFI requer reset para recuperar o funcionamento do dispositivo
Multiple Bit Upset
→
→
→
→
Upset em dois ou mais bits causando simultâneos erros
Single Event Functional Interrupt
→
→
→
→
14
15
Dinâmica da Coleta de Cargas
Ao longo do percurso, a partícula produz uma distribuição radial densa de pares de elétrons-buraco Fora da região de depleção, a distribuição de carga fora do equilíbrio induz uma distorção temporária em forma de funil ao longo da trajetória do evento (componente de deriva) O funil colapsa. A componente de difusão então domina o processo de coleta
até que todo o excesso de carga tenha sido coletado, recombinado ou difundido para fora da área de junção
Corrent vs Tempo para ilustrar a processo
DINÂMICA
Afunilamento e Difusão
x
16
Caracterização do SEE
Circuitos são caracterizados pela sua
sensibilidade ao SEE através:
da medida da seção de choque em
função da transferência linear de
energia (LET).
17
LET & Seção de Choque
FLUXO
φ = partículas/(área x tempo)
FLUÊNCIA
Φ = ∫φ dt = partículas/área
18
Cálculo da Taxa de Eventos
TAXA DE EVENTOS = FLUXO
X SEÇÃO DE CHOQUE = EVENTOS / TEMPO
A determinação do volume
sensível, requer suposições
sobre a construção do
19
20
Métodos Padrões de Teste
ASTM F-1192 -Standard Guide for the Measurement of
Single-Event Phenomena from Heavy Ion Irradiation of
Semiconductor Devices
EIA/JESD57 -Test Procedures for the Measurement of
Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy
Ion Irradiation
SINGLE EVENT EFFECTS TEST METHOD AND
21
Instalações para o Teste de SEE
Acelerador de Párticula
Califórnio 252
22
Típico Setup do Acelerador de Partícula
VANTAGEM
Simula o ambiente agressivo do
espaço razoavelmente bem
23
Desvantagens
•
Danifica o circuito;
•
O dispositivo precisa ser testado numa câmara
de vácuo;
•
Oneroso e consome tempo;
•
Precisa de precausões especiais de segurança
24
25
Esquema da Instalação da fonte de
Califôrnio 252
1 – 252 Cf source
2 – Iris
3 – Attenuator
7 – SBD
8 – Source shield
9 – Light bulb
4 – Scintillator
5 – Light pipe
6 – DUT
26
Instalação da fonte de Califôrnio 252
Câmara de vácuo para irradiação com íons pesados pertencente ao
Laboratório de Radiação Ionizante do Instituto de Estudos Avançados
27
Espectro de Energia dos Íons de Califôrnio
Measured Energy Spectrum of
252Cf
28
Seção de Choque dos Íons de Califôrnio
Dificuldades
Estimativa da energia absorvida nas regiões sensíveis do
dispostivo (espectro de energia);
Limitada penetração das partículas emitidas pelo califôrnio 252.
Necessidade de detalhado conhecimento da profundidade das
29
30
Características do Feixe de Laser
Distribuição da intensidade
do feixe
Feixe Gaussiano
Largura do feixe
Alcance de Rayleigh
Distância confocal
Raio de curvatura
Divergência do feixe
31
Limite de Difração
D
f -focal length of the lens l -the wavelength of light D -the diameter of the lens
Difração de uma onda plana
incidindo numa fenda
Difração de uma onda plana
incidindo numa fenda circular
Intensidade da luz
de duas fontes
Gráfico e imagem de
difração de uma única fenda
Diametro (w
0) no limite de
difração da área iluminada
32
Simulação com Laser dos Efeitos
dos Raios Cósmicos
33
Característica do Feixe do Laser no
Semicondutor
Distância confocal no
semicondutor
Perfil longitudinal do foco do feixe
do laser, distância confical e o
diâmetro da focalização
Largura do feixe do laser
ω ω ω
ω0
-the minimum diameter
λλλλ
- the wavelength of light
ηηηη
- the index of refraction
Diâmetro da focalização
34
Cálculo da Distância Confocal
O aumento do diâmetro do
feixe do laser faz a densidade
35
Absorção do Feixe do Laser
Lei de Beer-Lambert
SILÍCIO
Gap = 1,1 eV
Seção de choque de absorção
Probabilidade do processo de absorção
N – no de fótons penetrando na profundidade x
n - partículas absorvidas por unidade de volume
σ σ σ
36
Efeitos Não Lineares
Luz de alta intensidade provaca mecanismos de absorção adicionais que
modificam a relação entre a intensidade da luz e a densidade de portadores
Bandgap Narrowing
37
Reflexão do Feixe de Laser
É necessário calcular a porção de luz que é refletida, de
maneira a relacionar os efeitos do pulso do laser
diretamente com a quantidade de energia depositada no
material semicondutor.
38
Estrutura da Plataforma de
Teste com Laser
39
40
41
42
43
44
45
46
Vantagens do Laser
•
Teste não destrutivo
•
Relativamente barato
•
Resolução espacial
•
Resolução Temporal
47
Teste Não Destrutivo
Excessão
•
A energia do fóton seja menor do que aquela necessária para
provocar tunelamento assistido da carga no óxido.
•
A energia do pulso necessária para produzir um upset seja menor do
que aquela para fundir o semicondutor
Energia do fóton <2 eV ( Si)
Campo elétrico suficientemente
pequeno
48
Teste Destrutivo
O feixe do laser provoca Latchup
49
Relativamente Barato
Todo o custo de montagem de uma plataforma LASER é muito mais
barato do que o custo de um ACELERADOR DE PARTÍCULAS.
Accelerator
Laser
50
Resolução Espacial
O uso de um diâmetro largo
permite identificar
rapidamente regiões sensíveis
O pequeno diâmetro de focalização e o posicionamento com precisão
micrométrica permitem testar nós sensíveis nos dispositivos com muita acurácia
A sensitividade individual de
um transistor pode ser medida
51
Resolução Temporal
Pela sincronização do laser em relação ao clock do circuito, é
possível medir a dependência temporal do upset no circuito lógico
52
Facilidade de Determinar o LET threshold
Resposta de um transistor a diferentes quantidades
de energia depositada pelo laser
53
Ajuste Simples do Alcance
(Range)
54
Limitações do Laser
Não mede o valor absoluto do SEE
threshold
Não mede diretamente a seção de
choque
55
Não mede o valor absoluto
do SEE threshold
Em razão da luz e dos íons não interagirem da mesma
forma com o semicondutor, há diferenças significantes
no perfil de ionização dentro do dispositivol.
56
Não Mede Diretamente a Secão de Choque
Comparação entre a seção de choque
do feixe de ions e do laser
57
58
Acesso Ótico
59
60
O Laser não Atravessa o Metal
Os dois picos duplos representam a
incidência do laser nos contatos de metal
61
Uso do Laser
Correntemente, o laser é usado:
•
Para simular os efeitos transientes de partículas
energéticas;
•
Para diagnosticar projetos de aumento de tolerância a
SEE;
•
Para pre-selecionar candidatos ao teste no acelerador de
partículas;
•
Para gerar mapas de bits:
•
Para verificar os códigos de deteção e correção de erros
62
Radiation Sensitivity Mapping of ICs
63