Instrumentação métodos de análise 1 Difratômetro de Raios

Um difratômetro de Raios X é um equipamento desenvolvido para realizar medidas de difração de Raios X sendo este equipamento específico para medidas de monocristais ou amostras em pó.

Um difratômetro de Raios X de pó é constituído de uma fonte de Raios X que é um tubo de Raios X, de um porta amostra, de fendas colimadoras e um detector como mostrado na Figura 20 [30]. Nem todo equipamento possui um monocromador sendo este um acessório opcional. Esse equipamento pode se encontrar em dois tipos de geometrias uma chamada de geometria θ-2θ e na geometria θ-θ. Esses difratômetros da forma como apresentados são chamados de difratômetros de Bragg-Brentano [30].

Figura 20: Diagrama esquemático de um difratômetro de Raios X de pó, figura reproduzida da referência [36].

A geometria θ-2θ é a mais comum e mais utilizada, uma vez eu os equipamentos possuem menor custo quando comparado com um equipamento compatível de geometria θ-θ. Nesta geometria a fonte de Raios X possui uma posição fixa [26]. O ângulo de incidência que é o ângulo do feixe com o porta amostra é θ. Para variar o ângulo de incidência um movimento é realizado apenas pelo detector e pelo porta amostra sendo este movimento realizado de forma acoplada. Isto é para cada passo em θ do detector o porta amostra gira em metade de θ [26]. A Figura 21 mostra um desenho esquemático de um difratômetro de Raios X de geometria θ-2θ.

Figura 21: Desenho esquemático de um difratômetro de Raios X de pó com geometria θθθθ-θθθθ e θθθθ- 2θθθθ.

Na geometria θ-θ o ângulo de incidência varia devido ao movimento realizando tanto pela fonte de Raios X como pelo detector de modo que o porta amostra é estático. Este movimento também é acoplado de forma que ambos movem com mesma velocidade em θ. A Figura 21 mostra um esquema de um difratômetro de Raios X de pó com geometria θ-θ [26].

1.3.5.5.2. Método da difração de pó

Este método se baseia na incidência de um feixe de Raios X sobre uma amostra policristalina, ou seja, na forma de pó de uma substância química ou mistura. Uma amostra policristalina é constituída de pequenos cristalitos que difratam a radiação incidente, independentemente de acordo com sua orientação no porta amostra e o ângulo de incidência dos Raios X em relação à sua posição no feixe [26, 27].

Os resultados de um experimento de difração de Raios X de pó são apresentados na forma de um gráfico de intensidade da radiação difratada versus 2θ. Esse gráfico é chamado de padrão de difração ou difratograma e nele a radiação difratada é mostrada na forma de picos em que a sua largura a meia altura deve coincidir com o ângulo 2θ referente à difração para um determinado plano cristalino, conforme já mostrado pela lei de Bragg [26, 27]. A Figura 22 mostra um exemplo de difratograma de uma amostra de quartzo.

Figura 22: Difratograma de uma amostra de quartzo.

Para que uma análise de difração de pó seja bem realizada uma etapa de suma importância é o preparo da amostra. Uma amostra para análise não deve possuir orientação preferencial, deve ter a superfície lisa e deve estar no mesmo nivelamento do porta amostra. Caso esses fatores não estejam controlados podem contribuir para aumento da intensidade de um determinado pico, aumento da radiação difusa e deslocamento de picos de difração e etc.

As amostras para análise de rotina são preparadas através da compactação do pó em um porta amostra com uma cavidade [26]. A compactação é feita com o uso de uma lâmina de vidro ou um bastão próprio para prensagem de forma que a superfície

fique lisa e nivelada as bordas do porta amostra. Esse tipo de preparação, entretanto pode levar a orientação preferencial o que em uma análise quantitativa pode determinar resultados completamente errôneos. Entretanto para análises qualitativas de identificação de fases na maioria dos casos isto não é um grande problema [26, 27].

Outros métodos podem ser utilizados, a dispersão do pó em um solvente volátil como álcool isopropílico e então uma deposição da suspensão no porta amostra. Há outro método onde há formação de uma suspensão com o particulado a qual é filtrada e então depositada sobre uma membrana. Esses métodos possuem a vantagem de minimizar a orientação preferencial, porém podem gerar rugosidade na superfície e tornar o nivelamento com porta amostra não ideal.

1.3.5.5.3. Métodos de incidência normal

O modo de incidência do feixe de Raios X pode influir diretamente na qualidade dos dados obtidos de um experimento de difração de Raios X. Dependendo do tipo de amostra a ser analisado um determinado tipo de incidência será mais adequado.

A incidência normal é o tipo mais utilizado em análises de rotina e este se caracteriza pela incidência direta da radiação da fonte com um ângulo θ. Este ângulo é varrido à medida que o experimento é executado seja através do movimento acoplado do porta amostra e do detector ou da fonte de Raios X e do detector [26].

Esse tipo de experimento se caracteriza pela alta penetração do feixe na amostra já que a incidência é direta, porém oblíqua em relação ao plano da amostra [26]. Esse tipo de incidência é mais adequada no caso da utilização de quantidades mais altas de amostras que são prensadas no porta amostra, pois a grande penetração do feixe de Raios X irá levar em conta uma quantidade maior dos cristalitos que estão sob a superfície e gerando resultados mais consistentes, já que não apenas a superfície será responsável pela difração [26]. Entretanto, caso a quantidade de amostra seja muito pequena ou a amostra esteja depositada em forma de um filme sob um substrato muito cristalino, esse tipo de incidência, a normal, pode mascarar e muito os resultados, pois a alta penetração atingirá o substrato que nesse caso está em uma proporção muito superior a amostra de interesse e assim os picos de difração da amostra estão mascarados pelos picos ou pela radiação de background do substrato ou porta amostra [26].