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Open Otimização genética de sequências de padrões de teste para circuitos VLSI.

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Academic year: 2018

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FIGURA 2.1 – ETAPAS DO PROCESSO DE MANUFATURA EM QUE SE REALIZAM TESTES.
FIGURA 2.2 ARQUITETURA BÁSICA DO SCAN-TEST.
FIGURA 2.3 - ARQUITETURA BÁSICA BOUNDARY-SCAN TEST.
FIGURA 2.5 - CONTADOR EMPREGADO COMO TPG EXAUSTIVO.
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