Referência de Tensão Bandgap
- Dalton Colombo - Prof. Gilson Wirth
Porto Alegre - 06/06/07
Programa de Pós-Graduação em
Microeletrônica
Programação
• Referência de tensão
• Referências de tensão simples
• Conceito Bandgap
• Topologia nº 1
• Topologia nº 2
• Topologia nº 3
• Variabilidade nos circuitos Bandgap
• Ruído na tensão de referência
Referência de tensão
• “Referência” x “fonte”: Tensão ou corrente mais precisa.
• Características desejadas:
Independência de VDD.
Independência e previsibilidade em relação a Temperatura.
Independência do processo de fabricação.
Independência da carga conectada. (Uso de Buffer isolador) Low power – Low voltage.
Baixo ruído de saída.
Referências de tensão simples (1/2)
∂ ∂ = VDD VREF VREF VDD S VREF VDD * + = 2 1 2 * R R R VDD VREF 1 = VREF VDDS 2 2 VDD VGS VREF = ≡ 1 = VREF VDDS ≈ = IS R VDD q T K V VREF BE * ln . * 036 . 0 ln 1 ≈ = IS I S VREF VDD + = 1 2 1 * R R R V VREF BE β . 2 R VDD VT VREF = + + = 1 2 1 R R VGS VREF 26 . 0 . 2 . 1 5 . 0 ≈ + = VDD R VT S VREF VDD βReferências de tensão simples (2/2)
Coeficiente de temperatura (TC) ≈ 3 mV/º C (Avalanche)
VB ≈ 6.5 a 7.5 V 0044 . 0 * ≈ + = Rz R Rz VB VDD S VREF VDD VDD R Rz Rz VREF + =
Supply-Independent Biasing
+ = Ron R VDD IREF 1 ( ) ( )12 1 / 1 1 W L L W gm R VDD Iout ⋅ + ∆ = ∆ + = Ron R VDD IREF 1(
)
2 2 1 1 1 2 − ⋅ ⋅ ⋅ ⋅ = K R L W C I S N ox n out µ Independência de VDD! ↑ L ↓ Efeito de corpo IREF é “Bootstrapped”Conceito Bandgap (1/5)
2 12
1
V
V
V
REF=
α
⋅
+
α
⋅
T V T V ∂ ∂ + ∂ ∂ ⋅ = 1 2 . 2 1 0 α α negativa T V = ∂ ∂ 1 positiva T V = ∂ ∂ 1 Como gerar V1 e V2?Tensão VBE do Bipolar é bem reprodutível e definida.
Também é possível gerar V1 e V2 a partir:
(a) ≠ de VT entre transistores de enriquecimento e depleção.
(b) ≠ de VT de PMOS e NMOS do tipo enriquecimento.
( ii )
Conceito Bandgap (2/5)
− ⋅ ⋅ = T G BE C V V V T A J γ exp 0 0 ln C G T BE V T A J V V + ⋅ ⋅ = γ ⋅ − + − = ∂ ∂ = q k T V V T V BE G T T BE ) ( 0 0 0 α γ mV C T V k T BE ≈ − ° ∂ ∂ =300 2.2 / ⋅ ⋅ ⋅ = ⋅ = − = ∆ 2 1 2 1 2 1 2 1 ln ln I I I I VT J J V V V V S S C C T BE BE BE T mV C V T VT T ° + ≈ = ∂ ∂ / 087 . 0 A tensão VBE tem T.C negativoConceito Bandgap (3/5)
(
)
0 0 0 0 0 2 0 0 ln " 0 T V T V V J J T V K BE G T C CI T + − + − ⋅ = α γ 0 0 0 2 ) ( ln " G BE T C CI V V V J J K = − + − ⋅ ⋅ γ αFazendo α1 = 1, e sabendo os valores de
Fisicamente... Portanto, ".ln 25.2 2 2 ≈ ≈ α C CI J J K T BE REF V V V =
α
1 ⋅ +α
2 ⋅Em (ii), fazendo V1 = VBE e V2 = ∆VBE temos:
T VBE ∂ ∂ T VBE ∂ ∆ ∂ e
α2≈ 25.2 que satisfaz (i).
T BE REF
V
V
V
=
+
α
2⋅
, encontramos (iii) Equação clássicaConceito Bandgap (4/5)
Encontrado α2, podemos substituí-lo em (iii) e encontrar o valor de
VREF para temperatura de operação T0:
)
(
0 0=
+
γ
−
α
=T GO T T REFV
V
V
00
V
REFV
GT
→
∴
→
Para O porquê do nome “Bandgap”
Geração da corrente IPTAT
(Proportional To the Absolute
Temperature) e da tensão VT:
γ ≈ 3.2 ; α ≈1;VG0 = 1.205 V
Conceito Bandgap (5/5)
Curvatura típica da curva Vref x Temp
Variando T
0, modifica-se
o ponto de derivada zero
da curva V
REFx Temp.
n n BE
T
a
T
a
T
a
a
V
+
+
+
+
=
...
2 2 1 0Topologia BGR1 (1/2)
T BE REF V R R n V V ⋅ + ⋅ + = 3 2 1 ) ln( 2 T BE REF n V R R V V = + ⋅ln( )⋅ 3 2 1 ouRealimentação negativa garantida
pois βN > βP; preferencialmente por
um fator 2.
A1 garante a mesma tensão nos
pontos X e Y. Curto circuito virtual
entre as entradas de A1.
Fazendo R1 = R2, temos I1 = I2=IREF
≈ 25,2 2 3 2 3 2 1 1 R R g R g m m N + + + = β 1 1 1 1 1 R g g m m P + = β 3 R V IREF = ∆ BE
Topologia BGR1 (2/2)
Transistor Bipolar PNP Vertical Curvatura típica VREF(V) @ 27ºC ∆VREF_TEMP (mV) Line Regulation (%/V) @ 27ºC Supply Voltage (V) Supply Current (µA) BGR 1.20640 2.37 (34 ppm/°C) 0.46 3.3 358 Limitação: Como o coletor é o próprio substrato, deve-se conectá-lo ao Terra ou VSS 0.35 µmTopologia BGR2 (1/2)
T BE REFm
V
R
R
V
V
=
+
⋅
ln(
)
⋅
1
2
3• Uso de uma polarização independente de VDD • Nós A e B têm tensões iguais 1 R V IREF = ∆ BE
Topologia BGR2 (2/2)
Não aplica técnicas de minimização do impacto da variabilidade.
Ex: Configuração centróide comum!
0.35 µm VREF (V) @ 27ºC ∆VREF_TEM P (mV) Line Regulation (%/V) @ 27ºC Supply Voltage (V) Supply Curren t(µA) BGR 1.20816 2.05 (33 ppm/°C) 0.93 3.3 56 Layout Didático
Topologia BGR3 (1/2)
⋅ ⋅ ⋅ = T GS D D V n V I L W I 0 exp No regime subthreshold(inversão fraca), ID tem
comportamento exponencial.
ID0 = parâmetro que depende do
processo, VSB e VT
N = fator de inclinação
subthreshold.
Em subthreshold, ID é pequena,
ocasionando pouca dissipação de potência - sendo útil para
Topologia BGR3 (2/2)
⋅ ⋅ ⋅ ≈ T GS D D V n V I L W I 0 exp ⋅ = 3 2 4 1 1 . ln . S S S S V VR T ⋅ ⋅ ⋅ ⋅ ⋅ = 3 2 4 1 1 3 6 ln S S S S R S V S IE T ⋅ ⋅ ⋅ ⋅ ⋅ ⋅ + = ⋅ + = 3 2 4 1 3 1 6 2 5 2 5 ln S S S S S R V S R V R I V VREF BE E BE TVariabilidade em BGR´s (1/4)
• As principais fontes de erro que afetam os circuitos Bandgap são: Descasamento dos Espelhos de corrente
Descasamento e Tolerância de Resistores
Variação de VBE
Erro devido ao processo de encapsulamento (Package)
• Essas fontes de erro ocasionam valor de VREF diferente do nominal e
uma pior performance no intervalo de temperatura.
• Devido o Mismatching e as tolerâncias do processo de fabricação, o
Amp. Op. tem tensão de Offset (VOS), que varia com a Temp. e
Variabilidade no BGR1 (2/4)
(
T OS)
BE REF n V V R R V V ⋅ ⋅ − + + = ln( ) 3 2 1 2 VOS é amplificado por 1+ (R2/R3)!!! ( T OS ) BE REF mn V V R R V V ⋅ ⋅ − + + ⋅ = 2ln( ) 3 2 1 2 2 VREF ≈ 2,5 VI
1≈I
2Variabilidade no BGR2 (3/4)
Simulação Monte Carlo de VREF
Simulação Monte Carlo de ∆VREF
Estima-se o impacto do processo da fabricação e Mismatching através da Simulação Monte Carlo.
Parâmetros como VT0, U0, Tox
são variados de acordo com a tolerância da fabricação. Monte Carlo BGR2 VREF(V) (mean ± σ) 1.2091 ± 0.0145 ∆VREF_TEMP (mV) (mean ± σ) 4.893 ± 2.737 ∆VREF_TEMP (mV)
(worst case) mean ± 3σ
Variabilidade no BGR2
(4/4)
Circuito de Ajuste (Trim circuit): Técnica usada para minimizar o impacto do processo de fabricação.
T BE BE REF m V R R V R I V V = + ⋅ = + ⋅ln( )⋅ 1 2 3 2 1 3 1 R V IREF = ∆ BE
Conectando Mx e/ou My, estamos alterando o coeficiente
Ruído na Tensão de Referência
Device % Device % Device %
OA.MN1 (fn) 19.27 OA.MN0 (id) 11.61 MP0 (id) 1.72 OA.MN0 (fn) 19.11 MP0 (fn) 11.61 MP1 (id) 1.72 OA.MP3 (id) 12.36 R3 3.16 Q8 1.11 OA.MP0 (id) 12.35 MP0 (fn) 1.81 OA.MP3 (fn) 0.53 OA.MN1 (fn) 11.68 MP1 (fn) 1.81 Others 1.23
Flicker Noise dos NMOS´s (OpAmp) maior contribuição! Ruído = 0.172 mV em 500k de BW