UNIVERSIDADE FEDERAL DE ITAJUB ´
A
PROGRAMA DE P ´OS GRADUAC¸ ˜AO EMMATERIAIS PARA ENGENHARIA
Francisco Felipe Gomes de Sousa
An´
alise dos espa¸
cos de parˆ
ametros do circuito de
Chua experimental.
Tese submetida ao Programa de P´
os-Gradua¸
c˜
ao em
Materiais para Engenharia como parte dos requisitos
para obten¸
c˜
ao do t´ıtulo de Doutor em Ciˆ
encias dos
Materiais para Engenharia.
´
Area de Concentra¸
c˜
ao: N˜
ao Metais
Orientador: Prof. Dr. Rero Marques Rubinger
Maio de 2016 Itajub´a
UNIVERSIDADE FEDERAL DE ITAJUB ´
A
PROGRAMA DE P ´OS GRADUAC¸ ˜AO EMMATERIAIS PARA ENGENHARIA
Francisco Felipe Gomes de Sousa
An´
alise dos espa¸
cos de parˆ
ametros do circuito de
Chua experimental.
Tese aprovada por banca examinadora em 09 de Maio de 2016,
conferindo ao autor o t´ıtulo de Doutor em Ciˆ
encias em
Ma-teriais para Engenharia.
Banca Examinadora:
Prof. Dr. Rero Marques Rubinger (Orientador)
Prof. Dr. Emilson Ribeiro Viana Junior
Prof. Dr. Yvo Marcelo Chiaradia Masselli
Prof. Dr. Alan Bendasoli Pavan
Profa. Dra. Mirian de Lourdes Noronha M. Melo
Itajub´a 2016
”Por falta de um prego, perdeu-se uma ferradura. Por falta de uma ferradura, perdeu-se
um cavalo. Por falta de um cavalo, perdeu-se um cavaleiro. Por falta de um cavaleiro,
perdeu-se uma batalha. E assim, um reino foi perdido. Tudo por falta de um prego.”
A minha esposa Tatiana,
Agradecimentos
Agrade¸co ao professor Rero Rubinger pela orienta¸c˜ao e aprendizado conquistado
du-rante o desenvolvimento deste projeto. Aos professores Holokx Abreu Albuquerque da
UDESC e Jose Carlos Sartorelli da USP, pela coopera¸c˜ao no projeto. Aos colegas de
laborat´orio e ao IFSULDEMINAS - Campus Inconfidentes pela libera¸c˜ao, apoio
financeiro e principalmente pela oportunidade de aperfei¸coar meus conhecimentos para
Resumo
Neste trabalho, foram obtidos experimentalmente os espa¸cos de parˆametros
bidimensi-onais da periodicidade e do maior expoente de Lyapunov para o circuito de Chua, usando
as medidas de s´eries temporais para diferentes valores das resistˆencias rL em s´erie com
o indutor e R ligada aos dois capacitores. Este circuito apresenta o comportamento de
um material semicondutor com condutividade diferencial negativa que lembra a forma da
letra N (NNDC) acoplado a um circuito tanque. Quatro potenciˆometros digitais com 1024
passos de 0, 100 Ω, 0, 200 Ω e 1, 000 Ω foram constru´ıdos para modificar os valores destes
parˆametros. A aquisi¸c˜ao de dados e controle dos potenciˆometros digitais foram feitas
atrav´es de um programa desenvolvido em Labview R e a an´alise de dados e apresenta¸c˜ao
dos resultados com scripts em PYTHON. Os resultados obtidos foram comparados com
simula¸c˜oes feitas em FORTRAN que confirmaram a presen¸ca de cascatas de adi¸c˜ao de
per´ıodo, janelas peri´odicas, rotas de adi¸c˜ao de per´ıodos impares, coexistˆencia de atratores
e um hub de periodicidade. Confirmando a eficacia dos usos dos potenciˆometros digitais
como alternativa para variar os parˆametros resistivos de sistemas dinˆamicos el´etricos.
Palavras-chave
Material semicondutor NNDC, Circuito de Chua, Espa¸co de parˆametros, Potenciˆometros
Abstract
In this work, we experimentally obtained two-dimensional parameter spaces of
peri-odicity and the largest Lyapunov exponent for the Chua’s circuit, using the time series
measurements for different values of resistors rLin series with the inductor and R
connec-ting the two capacitors. This circuit has the same behavior that semiconductor material
with negative differential conductivity in N-shaped form (NNDC). Four digital
potentio-meters with 1024 steps with 0.100 Ω, 0.200 Ω and 1.000 Ω stepsize were built to modify the
values of these parameters. The data acquisition and control of the digital potentiometers
were made through a program developed in LabView R. The data analysis and the
presen-tation of results were performed using PYTHON scripts. The results were compared with
computer simulations in FORTRAN and confirmed presence of period-doubling cascade,
periodic windows, odd period-adding route,attractors coexistence and periodicity hubs.
Another finding was the deformation of shrimps caused by the breaking of symmetry of
the curve i(V ) in the linear region of operation of the operational amplifiers forming part
of the diode Chua. The digital potentiometers were efficient tools to study chaotic circuits.
Keywords
Conte´
udo
Resumo IV
Abstract V
Lista de Figuras VII
Lista de Tabela X
Introdu¸c˜ao 22
1 Aspectos Te´oricos 26
1.1 Circuito ca´otico de materiais semicondutores . . . 26
1.2 O circuito de Chua . . . 31
1.3 O diodo de Chua . . . 32
1.4 O indutor eletrˆonico . . . 39
1.5 As equa¸c˜oes diferenciais do sistema . . . 43
1.6 Os pontos de equil´ıbrio do sistema . . . 45
2 Experimentos e M´etodos de An´alise 52 2.1 O Circuito de Chua experimental . . . 52
2.2 O potenciˆometro digital . . . 55
2.3 A aquisi¸c˜ao das s´eries temporais e reconstru¸c˜ao dos atratores. . . 59
2.4 Constru¸c˜oes de diagramas de bifurca¸c˜ao . . . 63
2.5 O c´alculo do expoente de Lyapunov . . . 65
3 Resultados Experimentais e Discuss˜ao 73
3.1 Espa¸co de parˆametros da periodicidade, diagramas de bifurca¸c˜ao e
atrato-res. . . 73
3.2 O espa¸co de parˆametros do maior expoente de Lyapunov . . . 85
4 Considera¸c˜oes Finais 91
4.1 Conclus˜ao . . . 92
Considera¸c˜oes Finais 91
Bibliografia 94
Anexo A - Algoritmos em FORTRAN 102
A1 Programa para simular o espa¸co de parˆametros do maior expoente de
Lya-punov . . . 102
Anexo B - Algoritmos em PYTHON 106
B1 Programa para gerar espa¸co de parˆametros da periodicidade . . . 106
Lista de Figuras
1.1 Curvas NNDC e SNDC . . . 27 1.2 Efeito Gunn . . . 28 1.3 NDC semicondutor lumped . . . 30 1.4 semicondutores NNDC lumped . . . 30 1.5 Circuito de Chua . . . 311.6 circuito com elemento NDC . . . 33
1.7 Curva id(V ) do diodo de Chua . . . 34
1.8 Conversor de resistˆencia negativa idealizado e curva i(V ) . . . 34
1.9 Conversor de resistˆencia usando AmpOp . . . 35
1.10 Curvas i1(V ) e i2(V ) dos conversores de resistˆencia negativa NR1 e NR2 . . 38
1.11 Circuito de Chua com NR1 e NR2 em paralelo . . . 39
1.12 Circuito gyrator ideal que relaciona indutˆancia e capacitˆancia . . . 40
1.13 Indutor de Antonious . . . 41
1.14 Aplica¸c˜ao da Lei de Kirchoff no circuito de Chua . . . 44
1.15 Circuito de Chua na condi¸c˜ao de equil´ıbrio . . . 45
1.16 Intersec¸c˜ao da linha de carga com a curva id(V ) . . . 46
1.17 Exemplos em 3-dimens˜oes de pontos de equil´ıbrio em que todos os autova-lores s˜ao reais . . . 49
1.18 Exemplos em 3-dimens˜oes de pontos de equil´ıbrio com apenas um autovalor real. . . 51
2.1 Esquem´atico do circuito de Chua . . . 52
2.3 Ajuste da curva id(X) . . . 54
2.4 Esquem´atico do potenciˆometro digital . . . 55
2.5 Programa para calibra¸c˜ao dos potenciˆometros . . . 57
2.6 Curva de calibra¸c˜ao do potenciˆometro de 1, 000Ω . . . 57
2.7 Curva de calibra¸c˜ao do potenciˆometro de 0, 200Ω . . . 58
2.8 Curva de calibra¸c˜ao do potenciˆometro de 0, 100Ω . . . 58
2.9 Programa de aquisi¸c˜ao de dados e controle dos potenciˆometros . . . 60
2.10 Informa¸c˜ao mutua . . . 61
2.11 Atratores reconstru´ıdos para diferentes delay . . . 62
2.12 Diagramas de bifurca¸c˜ao . . . 64
2.13 Diagrama em bloco do script utilizado para constru¸c˜ao dos diagramas de bifurca¸c˜ao . . . 65
2.14 Diagrama em bloco do script utilizado para calcular o maior expoente de Lyapunov . . . 67
2.15 Escolha do n´umero de vizinhos k . . . 69
2.16 Diagrama em bloco do script utilizado para calcular a periodicidade . . . . 71
2.17 M´aximos da s´erie de extremos em fun¸c˜ao do tempo de retorno . . . 72
3.1 Espa¸co de parˆametros experimental da periodicidade. . . 74
3.2 Diagrama de bifurca¸c˜ao experimental para rL = 38, 000 Ω . . . 75
3.3 Diagrama de bifurca¸c˜ao experimental para rL = 23, 000 Ω . . . 75
3.4 Coexistˆencia de atratores no diagrama de bifurca¸c˜ao . . . 77
3.5 Proje¸c˜ao dos atratores durante bifurca¸c˜ao de Hopf . . . 77
3.6 Proje¸c˜ao dos atratores reconstru´ıdos . . . 78
3.7 Rota de adi¸c˜ao de per´ıodo . . . 81
3.8 Rela¸c˜ao exponencial entre o per´ıodo P e o largura da janela peri´odica . . . 82
3.9 Espa¸co de parˆametros da periodicidade experimental e simulado . . . 84
3.10 Espa¸cos de parˆametros experimental do maior expoente de Lyapunov . . . 85
3.12 Amplia¸c˜ao dos espa¸cos de parˆametros do maior expoente de Lyapunov
experimental e simulado . . . 87
3.13 Simula¸c˜ao do espa¸co de parˆametros do maior expoente de Lyapunov para ε = 0, 81590 e ε = 0, 82590 . . . 89
3.14 Simula¸c˜ao do espa¸co de parˆametros do maior expoente de Lyapunov para ε = 0, 82890, 0, 82990 e 0,83590 . . . 90
A1 Subrotina Runge Kutta . . . 102
A2 Programa Principal . . . 103
A3 Subrotina das equa¸c˜oes diferenciais e fun¸c˜oes da curva i(V ) e derivada . . . 104
A4 Vari´aveis Globais . . . 105
B1 Parte 1: Espa¸co de arˆametros da periodicidade . . . 106
B2 Parte 2: Espa¸co de parˆametros da periodicidade . . . 107
B3 Parte 1: Vari´aveis Globais . . . 108
B4 Parte 2: Vari´aveis Globais . . . 109
Lista de Tabelas
1.1 As tens˜oes de entrada e Vin e sa´ıda Vout em termos das caracter´ısticas do
amplificador operacional . . . 35
2.1 Valores dos componentes utilizadas no circuito de Chua . . . 53
Introdu¸
c˜
ao
Os materiais semicondutores possuem um papel importante no desenvolvimento
tec-nol´ogico da sociedade moderna. A aplicabilidade deste tipo de material possibilitou a
substitui¸c˜ao de v´alvulas por transistores e o desenvolvimento dos circuitos integrados,
avan¸cos tecnol´ogicos que possibilitaram a populariza¸c˜ao dos equipamentos eletrˆonicos e o
desenvolvimento das telecomunica¸c˜oes.
Por alguns anos a hist´oria dos materiais semicondutores era focada na descoberta
de duas propriedades importantes: a retifica¸c˜ao e a sensibilidade do semicondutor a luz
[1]. No entanto, al´em destas propriedades bem conhecidos os materiais semicondutores
podem comportar-se como sistemas complexos apresentando instabilidades el´etricas como:
chaveamentos entre estados condutores e n˜ao condutores, e oscila¸c˜oes espontˆaneas de
corrente e tens˜ao. Oscila¸c˜oes deste tipo em semicondutores s˜ao conhecidas desde a d´ecada
de 60 e podem ocorrer de forma peri´odica ou ca´otica, apresentando rotas de bifurca¸c˜ao
que s˜ao objetos de estudo da teoria do caos que podem ser aplicada em diferentes ´areas
da ciˆencia, como: as ciˆencias biol´ogicas, engenharias, economia, dentre outras [2, 3],
conferindo a teoria um car´ater multidisciplinar.
Com rela¸c˜ao a teoria do caos aplicada aos materiais semicondutores, existem poucos
trabalhos experimentais com diagramas de bifurca¸c˜oes1 ou espa¸co de parˆametros2. A carˆencia deste tipo de trabalho, provavelmente, n˜ao se deve a falta de interesse pela ´area
j´a que os materiais semicondutores s˜ao a base da tecnologia eletrˆonica atual e
possivel-mente do futuro, como por exemplo, o uso das super-redes semicondutoras que apresentam
1Representa¸c˜ao gr´afica do comportamento qualitativo das ´orbitas a partir da varia¸c˜ao de um dos parˆametros do sistema[4].
2Mapas bidimensionais descritos por dois parˆametros de controle do sistema a e b em que para cada resposta f (a, b) do sistema a uma dada condi¸c˜ao inicial, atribui-se uma cor de acordo com o valor num´erico.
comportamento ca´otico e tˆem a expectativa de operar na faixa de THz [5]. Portanto,
pos-sivelmente a carˆencia de trabalhos experimentais envolvendo materiais semicondutores
n˜ao devido ao desinteresse pela ´area mas, sim, pela dificuldade na realiza¸c˜ao dos
expe-rimentos, principalmente pela falta de instrumenta¸c˜ao que permita variar os parˆametros
do sistema de forma precisa.
Diante disso, o objetivo desta tese foi avaliar a efic´acia do uso de potenciˆometros
di-gitais constru´ıdos e precisamente calibrados como alternativa para variar os parˆametros
resistivos de um sistema dinˆamico eletrˆonico, que simula o comportamento de um material
semicondutor que apresenta uma curva i(V ) caracter´ıstica que lembra a forma da letra N
(NNDC). O circuito de Chua ´e um circuito que, atrav´es da aproxima¸c˜ao lumped3,
repre-senta um material semicondutor NNDC acoplado a um circuito oscilador do tipo tanque.
Al´em disso, este sistema ´e integr´avel por partes, exibe uma variedade de fenˆomenos e
ainda n˜ao possu´ıa o espa¸co de parˆametros experimental do maior expoente de Lyapunov
utilizando parˆametros resistivos, outro objetivo desta tese.
No cap´ıtulo 1 ser´a feita uma introdu¸c˜ao sobre a causa do comportamento ca´otico em
materiais semicondutores e a possibilidade de correlaciona-los com um circuito el´etrico
semelhante ao circuito de Chua. Em seguida, ´e feita a apresenta¸c˜ao do circuito de Chua,
sua origem e seus principais componentes: o indutor eletrˆonico e o diodo de Chua, al´em
do sistema de equa¸c˜oes diferenciais que descrevem esse sistema e as alternativas para
determinar seus pontos de equil´ıbrios e a influˆencia destes nas caracter´ısticas dos atratores.
No cap´ıtulo 2 s˜ao descritos os aspectos pr´aticos, como a constru¸c˜ao do circuito de
Chua, do potenciˆometro digital e dos programas desenvolvidos para o controle dos
po-tenciˆometros, aquisi¸c˜ao dos dados e simula¸c˜oes, assim como a metodologia utilizada, que
inclui a t´ecnica de reconstru¸c˜ao dos atratores, a constru¸c˜ao dos diagramas de bifurca¸c˜ao
e os c´alculos do maior expoente de Lyapunov e da periodicidade.
Finalmente, no cap´ıtulo 3 s˜ao apresentados os resultados obtidos a partir das
si-mula¸c˜oes do sistema e da an´alise das s´eries temporais medidas. Os resultados incluem:
os espa¸cos de parˆametros da periodicidade e do maior expoente de Lyapunov, os
diagra-3Elementos de circuito lumped s˜ao utilizados como representa¸c˜oes abstrata ou modelo discretos para representar o comportamento interno complicado de materiais [6]
mas de bifurca¸c˜oes, as proje¸c˜oes dos atratores reconstru´ıdos, a rota de adi¸c˜ao de per´ıodo
impar observada, a rela¸c˜ao exponencial entre o per´ıodo e a largura da janela peri´odica e
a poss´ıvel causa da deforma¸c˜ao dos shirimps4.
4S˜ao estruturas peri´odicas auto-similares presentes no espa¸co de parˆametros cujo formato lembra um camar˜ao com corpo, antenas e cauda.
Cap´ıtulo 1
Aspectos Te´
oricos
1.1
Circuito ca´
otico de materiais semicondutores
Na teoria dos sistemas dinˆamicos a presen¸ca de caos ´e caracterizada pela forte dependˆencia
das condi¸c˜oes iniciais do sistema, no entanto a compreens˜ao dos fenˆomenos ca´oticos tem
como ponto de investiga¸c˜ao principal o papel das instabilidades, que de acordo com
Kel-lert, permite definir a Teoria do Caos como o estudo qualitativo de comportamentos
aperi´odicos e inst´aveis em sistemas dinˆamicos n˜ao lineares determin´ısticos [7].
Neste contexto ´e poss´ıvel incluir o comportamento de alguns materiais
semicondu-tores, cujas instabilidades s˜ao de natureza el´etrica, causadas pela presen¸ca de um forte
campo el´etrico externo, irradia¸c˜ao intensa ou inje¸c˜ao de corrente el´etrica alta.
Amos-tras de materiais semicondutores nestas condi¸c˜oes experimentais fora do equil´ıbrio
ter-modinˆamico apresentam propriedades de transporte que diferem fortemente do
compor-tamento ˆohmico, caracterizado pela rela¸c˜ao linear entre a corrente e a tens˜ao.
A presen¸ca de fortes est´ımulos externos colocam o sistema fora do equil´ıbrio
termo-dinˆamico, ocasionando o processo de gera¸c˜ao e recombina¸c˜ao de el´etrons e buracos livres,
fazendo com que o sistema apresente caracter´ısticas espaciais n˜ao uniformes em termos de
distribui¸c˜ao de campos e cargas livres. Tem-se ent˜ao a forma¸c˜ao de dom´ınios de campo
n˜ao linear entre a densidade de corrente ~J e o campo el´etrico ~E, na amostra, dada por:
~
J ( ~E) = qn( ~E, t)µ( ~E, t) ~E (1.1)
onde q ´e a carga do el´etron n a densidade de el´etrons livres e µ a mobilidade. Sendo estas
duas ´ultimas vari´aveis de acordo com a distribui¸c˜ao de campo el´etrico ou da corrente
el´etrica, e portanto, sens´ıveis a forma¸c˜ao de dom´ınio de campo el´etrico ou de filamento
de corrente.
Diferentemente da teoria dos sistemas dinˆamicos n˜ao-lineares em que a presen¸ca de
uma regi˜ao de condutividade diferencial negativa (NDC), em que na situa¸c˜ao mais simples
leva a solu¸c˜oes inst´aveis das equa¸c˜oes diferenciais do sistema, a F´ısica do estado s´olido
permite a partir do formato da curva NDC determinar se est˜ao sendo formados dom´ınios
de campo el´etrico ou filamentos de corrente conforme sugere a figura1.1 [8].
Figura 1.1: Densidade de corrente J em fun¸c˜ao do campo el´etrico E de uma curva com condu-tividade diferencial negativa (NDC) do tipo (a) NNDC destacando as regi˜oes de instabilidades quando ocorre a forma¸c˜ao de dom´ınios de campo el´etrico em E1 < E0 < E2 e (b) SNDC quando
ocorre a forma¸c˜ao filamentos de corrente em J1 < J0 < J2.
Na Figura 1.1 (a)-(b) ocorre a transi¸c˜ao de estado homogˆeneo para n˜ao-homogˆeneo,
com a forma¸c˜ao de dom´ınios de campo el´etrico ou filamentos de corrente, respectivamente.
Na figura 1.1(a) ´e poss´ıvel notar que apesar da fun¸c˜ao densidade de corrente depender
unicamente do campo el´etrico, existem trˆes valores distintos de campo el´etrico para um
dado valor da densidade de corrente, caracter´ıstica de uma bi-estabilidade de uma amostra
semicondutora do tipo NNDC, em que a forma da curva lembra a letra N . Enquanto na
trˆes valores de densidade de corrente, caracter´ıstica de uma amostra semicondutora do
tipo SNDC, em que a forma da curva lembra a letra S.
Entre os dispositivos e materiais que apresentam curvas NNDC est˜ao o diodo Gunn e
as amostras de GaAs tipo-n e GaAs semi-isolante (GaAs-SI) [9]. No caso das amostras de
GaAs tipo-n a ocorrˆencia da regi˜ao NDC, deve-se a n˜ao-linearidade em µ, causada pela
transferˆencia de el´etrons de um vale da banda de condu¸c˜ao para outro tamb´em na banda
de condu¸c˜ao em que a massa efetiva ´e diferente, mecanismo f´ısico que recebe o nome de
efeito Gunn ou efeito da transferˆencia de el´etrons (TEE) e que pode ser melhor explicado
por meio da figura 1.2[10].
Figura 1.2: Transferˆencia de el´etrons do vale-central Γ para o vale-sat´elite L na banda de condu¸c˜ao, onde as massas efetivas s˜ao 0, 07m0 e 0, 55m0, respectivamente.
Na figura 1.2, tem-se a transferˆencia de el´etrons entre dois vales em que as massas
efetivas s˜ao diferentes no espa¸co dos k0s, sendo no caso do GaAs essas massas iguais a 0, 07m0 no vale-central Γ e 0, 55m0 no vale-sat´elite L. Nesta condi¸c˜ao, o aumento do
campo el´etrico ~E faz com que os el´etrons ganhem energia suficiente para irem para o vale
L onde o m´ınimo de energia e a massa efetiva s˜ao maiores que no vale-central Γ, tendo
como resultando a redu¸c˜ao do valor da mobilidade µ e dEdJ < 0, at´e que a maioria dos el´etrons estejam no vale-sat´elite L e dJ
dE > 0. No regime NNDC em que dJ
manter o equil´ıbrio de carga na amostra s˜ao formados dom´ınios de campo el´etrico que se
propagam do c´atodo para o ˆanodo com uma velocidade que n˜ao pode exceder a velocidade
no vale L de aproximadamente 107 cm/s no GaAs tipo-n [11].
Em amostras de GaAs-SI, os trabalhos apontam que a velocidade de propaga¸c˜ao dos
dom´ınios de campo el´etrico ´e muito mais lenta que as observados em amostras de GaAs
tipo-n e, portanto, n˜ao podem ser explicadas por meio do efeito Gunn [12, 13, 14]. Neste
caso, deve-se considerar os processos de gera¸c˜ao e recombina¸c˜ao al´em da transferˆencia
entre os el´etrons nos vales das bandas de condu¸c˜ao [15]. Recentemente, Silva e
colabora-dores propuseram o modelo de Dois Vales, baseado no conjunto m´ınimo de equa¸c˜oes para
a gera¸c˜ao-recombina¸c˜ao para dois vales dentro da banda de condu¸c˜ao e uma equa¸c˜ao para
a velocidade de drift dependente do campo el´etrico aplicado. Este modelo possibilitou
reproduzir pela primeira vez o comportamento NNDC em amostras de GaAs-SI e obter,
atrav´es de simula¸c˜oes, o espa¸co de parˆametros da periodicidade, onde foram
identifica-das v´arias estruturas do tipo shrimps em torno de um ponto focal [16], padr˜oes tamb´em
observados por Rech e Albuquerque em simula¸c˜oes do espa¸co de parˆametros do maior
expoente de Lyapunov do circuito de Chua [17].
Na pr´atica amostras de semicondutores NDC s˜ao sempre conectadas a resistˆencias
controladas ou esp´urias e a elementos reativos de um circuito, provenientes das liga¸c˜oes,
contatos e componentes de suporte, por exemplo: Ao anexar o elemento NDC a um
condutor met´alico tem-se uma resistˆencia de condu¸c˜ao Rl e um indutˆancia de condu¸c˜ao
Ll; A pr´opria regi˜ao de contato na maioria das vezes produz uma resistˆencia n˜ao linear
Rc; a montagem do elemento NDC introduz uma capacitˆancia de empacotamento Cp e
in-dutˆancia de empacotamento Lp; a fonte externa DC ter´a sua pr´opria resistˆencia interna RI
adicionada a uma resistˆencia de carga RL. De modo que ´e poss´ıvel utilizar a aproxima¸c˜ao
lumped para incluir todas essas caracter´ısticas em um circuito, na qual o elemento NDC
´
e aproximado por um resistor n˜ao linear em serie com as indutˆancias intr´ınsecas Li em
paralelo com as capacitˆancias intr´ınsecas Ci, como mostra a Figura 1.3 [18].
No caso de materiais que apresentam curvas do tipo NNDC, quando o sistema sofre
uma dependˆencia temporal, em que a mudan¸ca no valor da tens˜ao no elemento NDC ´e
Figura 1.3: Aproxima¸c˜ao lumped de uma amostra NDC semicondutora acoplada a uma fonte de tens˜ao DC, que aplica uma tens˜ao U0, Ic ´e a corrente de condu¸c˜ao no elemento NDC. Ci
e Li s˜ao a capacitˆancia e indutˆancia intr´ınsecas do elemento NDC, Cp e Lp a capacitˆancia e
indutˆancia de empacotamento, Rc a resistˆencia de contato, Rl e Ll resistˆencia e indutˆancia de
condu¸c˜ao, RL e RI as resistˆencias interna e da fonte respectivamente.
apenas os efeitos capacitivos e desprezar os efeitos indutivos, e assim, retirar os elementos
Li, Lp e Lle ao incluir a resistˆencia de contato Rcno termo Ic(V ) permite obter o circuito
da Figura 1.4, onde R = RI+ RL+ Rl e C = Cp+ Ci.
Figura 1.4: Aproxima¸c˜ao de um circuito para uma amostra semicondutora NNDC.
Na condi¸c˜ao em que a indutˆancia condutiva possa ser desprezada, ou seja, na ausˆencia
do elemento L, o circuito da Figura 1.4 que representa a amostra semicondutora NNDC
assemelha-se ao circuito de Chua sem o circuito tanque, de modo que, este sistema
dinˆamico tratado nesta tese pode ser utilizado como modelo aproximado para estudar
1.2
O circuito de Chua
A primeira publica¸c˜ao sobre o circuito de Chua foi realizada pelo professor Matsumoto em
1984, ap´os uma visita do professor Leon Chua `a Universidade de Waseda [20]. Neste
traba-lho, Matsumoto relata a observa¸c˜ao de atratores ca´oticos gerados durante a simula¸c˜ao de
um circuito autˆonomo simples de terceira ordem proposto por Chua [20, 21]. A motiva¸c˜ao
para a cria¸c˜ao deste circuito surgiu da ideia de montar um circuito capaz de reproduzir os
sistemas de Lorentz [22] e R¨ossler [23], o que levou Chua a propor um circuito autˆonomo
f´ısico que tivesse dois ou trˆes pontos de equil´ıbrio inst´aveis, pelo menos dois terminais
para resistores passivos, um indutor, capacitores, e apenas um terminal duplo para um
resistor n˜ao linear [24]. Em um de seus trabalhos Chua descreve o procedimento adotado
por ele na escolha da quantidade m´ınima dos componentes, da topologia do circuito e da
caracter´ıstica da curva i(V ) do dispositivo n˜ao-linear[20].
Figura 1.5: Circuito de Chua com o elemento n˜ao-linear NR, capacitor C1 e resistor R
a esquerda em preto destacando o circuito lumped aproximado de um material semicondutor NNDC e em vermelho o circuito tanque formado pelo capacitor C2 e o indutor L com resistor
de controle rL em s´erie.
No presente trabalho foi adotada a montagem da figura 1.5 semelhante `a montagem
original1, que cont´em o elemento n˜ao-linear N
R, o indutor L, dois capacitores C1 e C2 e
o resistor R. Ao indutor L foi adicionado em s´erie um resistor vari´avel rL. Esta mesma
montagem foi utilizada por Albuquerque e colaboradores em trabalhos de simula¸c˜oes, em
um de seus trabalhos a curva i(V ) do diodo de Chua foi substitu´ıda pela curva modelo
1Ser´a tratada como montagem original a utilizada por Zhong [24] na qual houve a confirma¸c˜ao expe-rimental de caos no circuito de Chua.
de uma amostra de Arseneto de G´alio (GaAs) semi-insolante [19] e em outro trabalho
foi utilizado uma curva i(V ) de trˆes partes, desprezando as regi˜oes de satura¸c˜ao dos
amplificadores operacionais que comp˜oem o diodo de Chua [25].
1.3
O diodo de Chua
A caracter´ıstica da curva i(V ) do diodo de Chua ´e de fundamental importˆancia para
o sistema, devendo apresentar regi˜oes uma regi˜ao NDC para que as oscila¸c˜oes sejam
mantidas. Chua apresentou outros circuitos cujas curvas i(V ) tamb´em possuem essa
caracter´ıstica[26]. Alguns deles podem ser usados para fornecer energia para osciladores
devido a presen¸ca de pontos de equil´ıbrio inst´aveis. Para o entendimento do papel das
instabilidades nas oscila¸c˜oes, considere o circuito da Figura 1.6(a) em que o dispositivo
n˜ao linear idealizado NR, possui a curva caracter´ıstica da Figura 1.6(b) com a regi˜ao NDC
destacada em verde, em que a fonte de tens˜ao E e a resistˆencia de carga R definem a reta
de carga em azul, dada pela express˜ao:
iR(VR) = −
VR
R + E
R (1.2)
esta reta intercepta a curva do dispositivo em trˆes pontos a, b e c com valores de tens˜oes
e correntes dados por va e ia no ponto a, vb e ib em b e vc e ic em c.
Neste cen´ario uma pequena perturba¸c˜ao ε aumentando o valor da tens˜ao va implicar´a
em uma redu¸c˜ao da corrente ia que causar´a o deslocamento do ponto de opera¸c˜ao para
valores cada vez mais pr´oximo de a. Uma pequena perturba¸c˜ao ε, reduzindo o valor
da tens˜ao va, ter´a como efeito o aumento da corrente ia e tamb´em o deslocamento do
ponto de opera¸c˜ao para a. De forma semelhante, ´e poss´ıvel verificar na Figura 1.6(b) que
uma pequena pertuba¸c˜ao ε, aumentando o valor de vb, tamb´em causar´a uma redu¸c˜ao da
corrente ib, desta vez, levando o ponto de opera¸c˜ao para b. E ε reduzindo vb aumentar´a
ib lavando o ponto de opera¸c˜ao a b, sendo portanto, os pontos a e b est´aveis.
O ponto c ´e caracterizado como um ponto de equil´ıbrio inst´avel, pois uma pequena
Figura 1.6: (a) circuito com elemento NDC, (b) curva do elemento NDC e linha de carga com destaque para os pontos de equil´ıbrio est´aveis a e b e inst´avel c.
de opera¸c˜ao b seja atingido, perturba¸c˜oes que aumentem o valor de vc, tem como efeito
o aumento da corrente ic, deslocando o ponto de opera¸c˜ao para a. Chua avaliou v´arios
circuitos que tinham uma curva i(V ) com pelo menos dois pontos de equil´ıbrio inst´aveis e
que eram pass´ıveis de serem implementadas com os componentes eletrˆonicos dispon´ıveis
na ´epoca, chegando a uma curva semelhante a da Figura 1.7[20].
Figura 1.7: Curva id(V ) do diodo de Chua com cinco regi˜oes lineares. Em vermelho s˜ao
representadas as regi˜oes de satura¸c˜ao com inclina¸c˜ao m2. Em azul e verde regi˜oes de opera¸c˜ao
do circuito com inclina¸c˜oes negativas m1 e m0 respectivamente.
Algumas formas de implementar o diodo de Chua com a curva i(V ) da Figura 1.7
foram propostas por Kili¸c [27], dentre elas a montagem original de Zhong e Ayrom [28].
Para compreender esta montagem, pode-se partir da combina¸c˜ao de uma fonte de tens˜ao
controlada por tens˜ao e trˆes resistores passivos para obter o conversor de resistˆencia
negativa da Figura 1.8(a), com a curva i(V ) da Figura 1.7(b)[29].
Figura 1.8: (a) conversor de resistˆencia negativa e (b) curva i(V ) caracter´ıstica deste dispo-sitivo idealizado.
dois terminais de entrada e dois de sa´ıda, com as seguintes propriedades [29]:
(i) Nenhuma corrente flui no interior da fonte e nos terminais de sa´ıda, sendo a tens˜ao
Vout de sa´ıda fun¸c˜ao apenas da diferen¸ca de tens˜ao dos terminais de entrada Vin;
(ii) Existe uma rela¸c˜ao linear entre a tens˜ao de entrada e sa´ıda do tipo Vout = AVin.
As caracter´ısticas de uma fonte de tens˜ao controlada por tens˜ao est˜ao presentes nos
amplificadores operacionais [30], de modo que ´e poss´ıvel construir um conversor de
re-sistˆencia negativa NR1 com este componente, como mostra a Figura 1.8(a), desde que se
trabalhe na regi˜ao linear da curva i(V ), como na Figura 1.8(b).
Figura 1.9: (a) Dispositivo n˜ao-linear NRconstru´ıdo com amplificador operacional e resistores
e (b) curva i1(V ) caracter´ıstica deste dispositivo.
Segundo Kennedy na constru¸c˜ao de um modelo para o conversor de resistˆencia
ne-gativa, consideram-se as seguintes caracter´ısticas para o amplificador operacional: uma
tens˜ao de offset vos, um ganho A finito na regi˜ao linear e dois n´ıveis de satura¸c˜ao −Esat e
Esat . De modo que, as tens˜oes de entrada Vin e sa´ıda Vout podem ser definidas em termos
dessas grandezas, conforme mostra a Tabela 1.1 [29].
Tabela 1.1: As tens˜oes de entrada e Vin e sa´ıda Vout em termos das caracter´ısticas do
amplifi-cador operacional .
Regi˜ao de satura¸c˜ao positiva Vout = −Esat Vin ≤ −EAsat + Vos
Regi˜ao linear Vout = A (Vin− Vos) −EAsat + Vos < Vin< EAsat + Vos
Regi˜ao de satura¸c˜ao negativa Vout = Esat Vin ≥ EAsat + Vos
As caracter´ısticas do amplificador operacional e os valores das resistˆencias R1,R2 e R3,
curva i(V ) da Figura 1.9(b). As express˜oes para m01, m11 e ±Bp1 podem ser calculadas partindo-se de: i1 = 1 R1 (V − Vout) (1.3)
obtida da Lei de Kirchoff das correntes (LKC) aplicada `a sa´ıda n˜ao-inversora (n´o A) da
Figura 1.9(a) e da equa¸c˜ao (1.4), obtida da Lei de Kirchoff das tens˜oes (LKV) aplicada
ao ciclo A − C − D − A
V = Vin+
R3
R2+ R3
Vos (1.4)
al´em disso, deve-se levar em considera¸c˜ao a regi˜ao em que o circuito opera; se ´e na regi˜ao
de satura¸c˜ao positiva, na de satura¸c˜ao negativa ou linear.
Na regi˜ao de satura¸c˜ao positiva pode-se substituir a tens˜ao de sa´ıda Vout na
ex-press˜ao (1.3) para obter a equa¸c˜ao da reta:
i1 = 1 R1 V − Esat R1 (1.5)
com inclina¸c˜ao dada por:
m01=
1 R1
(1.6)
e para se determinar o ponto limite Bp1 substitui-se a tens˜ao de entrada Vin na express˜ao
(1.4) obtendo-se: V ≥ Esat A + Vos+ R3 R2 + R3 Esat V ≥ R2+ (1 + A)R3 A(R2+ R3) Esat+ Vos
que na tens˜ao limite ´e dada por:
Bp1 = R2+ (1 + A)R3 A(R2+ R3) Esat+ Vos Bp1= 1 A + R3 R2+ R3 Esat+ Vos
tem-se: Bp1= R3 R2 + R3 Esat+ Vos (1.7)
Na regi˜ao de satura¸c˜ao negativa a ´unica diferen¸ca ´e que deve-se substituir Vout =
Esat por Vout = −Esat , o que n˜ao altera o valor da inclina¸c˜ao m01, que continua a ser
dada pela express˜ao (1.6), por´em a tens˜ao limite ser´a:
−Bp1= −
R2+ (1 + A)R3
A(R2 + R3)
Esat+ Vos
que para um amplificador com ganho infinito resulta em:
−Bp1 = − R3 R2+ R3 Esat+ Vos (1.8)
Por fim, na regi˜ao linear deve-se substituir Voutnas express˜oes (1.3) e (1.4),
obtendo-se: i1 = 1 R1 V − 1 R1 A(Vin− Vos) (1.9) V = Vin+ R3 R2+ R3 A(Vin− Vos) (1.10)
e reescrevendo-se (1.10) com Vin em termo de V :
Vin= R2+ (1 + A)R3 R2+ R3 V + AR3 R2+ (1 + A)R3 Vos
que substitu´ıda em (1.9) produz a equa¸c˜ao da reta i1(V ):
i1 = (1 − A)R2+ R3 R1[R2+ (1 + A)R3] V + A(R2+ R3) R1[R2+ (1 + A)R3] Vos
que devido ao ganho infinito do amplificador operacional, reduz-se `a:
i1 = − R2 R1R3 V + R2+ R3 R1R3 Vos
com inclina¸c˜ao dada por:
m11 = − R2 R1R3 (1.11)
as express˜oes (1.6),(1.7),(1.8) e (1.11) permitem escrever a curva i1(V ) do conversor de
resistˆencia negativa, da Figura 1.10(a) e podem ser utilizadas tamb´em para escrever a
curva i2(V ) da Figura 1.10(b), bastando apenas substituir nas express˜oes os valores dos
componentes.
Figura 1.10: (a) curva i1(V ) do dispositivo NR1 e (b) curva i2(V ) do dispositivo NR2.
A Figura 1.11 mostra o circuito de Chua com o diodo de Chua NR, formado pela
associa¸c˜ao em paralelo dos dois conversores de resistˆencia negativa NR1e NR2cujas curvas
est˜ao ilustradas nas Figuras 1.10(a) e (b) e, portanto, as inclina¸c˜oes m02e m12e os valores
da tens˜ao limites ±Bp2 do conversor NR2 s˜ao dados por:
m02= 1 R4 (1.12) m12 = − R5 R4R6 (1.13) ±Bp2 = R6 R5 + R6 (±Esat) (1.14)
O fato dos dispositivos NR1 e NR2 estarem associados em paralelo na Figura 1.11 permite
escrever a curva i(V ) do conversor resultante NR como i(V ) = i1(V ) + i2(V ) atrav´es da
aplica¸c˜ao da LKC, que segundo Chua[31], de acordo com o m´etodo gr´afico resulta na
express˜ao (1.17) obtida da soma de (1.15) e (1.16):
i1(V ) = m01V − δ1 se V ≤ −Bp1 m11V se −Bp1< V < Bp1 m01V + δ1 se V ≥ Bp1 (1.15)
Figura 1.11: Dois conversores de resistˆencia negativa NR1 e NR2 formando o diodo de Chua NR. i2(V ) = m02V − δ2 se V ≤ −Bp2 m12V se −Bp2< V < Bp2 m02V + δ2 se V ≥ Bp2 (1.16)
com δ1 = ERsat1 e δ2 = ERsat4 , sendo a curva do dispositivo NR:
i(V ) = m2V − (δ1+ δ2) se V ≤ −Bp2 m0V − δ1 se −Bp2< V ≤ −Bp1 m1V se −Bp1< V < Bp1 m0V + δ1 se Bp1≤ V < Bp2 m2V + (δ1+ δ2) se V ≥ Bp2 (1.17) onde m2 = m01+ m02 m0 = m01+ m12 m1 = m11+ m12
1.4
O indutor eletrˆ
onico
Todo oscilador eletrˆonico requer pelo menos um elemento n˜ao linear e pelos menos dois
circuito formado por estes dois componentes, com essa finalidade, ´e chamado de circuito
tanque. Este circuito pode ser encontrado em circuitos osciladores como o de Van der
Pol, Collpit, Hartley [32], em que a energia em metade do tempo est´a no circuito tanque
e na outra metade no oscilador, definindo assim a frequˆencia de oscila¸c˜ao dada por:
f = 1
2π√LC2
(1.18)
Devido `a precis˜ao, ao tamanho e `a resistˆencia interna dos indutores dispon´ıveis no mercado
n˜ao serem apropriados para o experimento2 , optou-se por utilizar um indutor eletrˆonico, que al´em de permitir medir a corrente Iz diretamente no indutor, tamb´em possibilita
controlar sua resistˆencia atrav´es do controle do parˆametro rL com um potenciˆometro
digital. Kili¸c apresentou algumas alternativas de constru¸c˜ao deste componente[27], dentre
elas, a proposta por Antonious [33, 34] que tem como base o elemento gyrator da figura
(1.12) idealizado por Tellegen [35].
Figura 1.12: (a) gyrator ideal e (b) gyrator conectado a um capacitor simulando um indutor de indutˆancia L = K2C.
Partindo-se de um transformador ideal, capaz somente de transformar energia,
Telle-gen propˆos o elemento eletrˆonico gyrator ideal com dois terminais (Figura 1.12(a)), cuja
rela¸c˜ao entre as tens˜oes e as correntes s˜ao dadas pelas equa¸c˜oes:
v1 = Ki2 (1.19)
v2 = Ki1 (1.20)
sendo necess´ario apenas a introdu¸c˜ao de um capacitor aos terminais 3 e 4 (Figura 1.12(b)),
2Os indutores dispon´ıveis no mercado possuem precis˜ao m´axima da ordem de 15% e dimens˜oes da ordem de 5 × 5 × 5 cm3 at´e 10 × 10 × 10 cm3.
para que o circuito se comporte como um indutor ideal. Algo que pode ser verificado
atrav´es da substitui¸c˜ao da rela¸c˜ao i2 = Cdvdt2 na equa¸c˜ao (1.19) e de dvdt2 = Kdidt1 da
equa¸c˜ao (1.20), de modo que:
v1 = Ki2 = KC dv2 dt = KC Kdi1 dt = K2Cdi1 dt = L di1 dt
ou usando-se a transformada de Laplace v1 = Lsi1, em que a indutˆancia L ´e dada por
K2C.
Al´em de inverter a impedˆancia de um circuito capacitivo, fazendo com que este se
comporte como um circuito indutivo, circuitos gyrators s˜ao capazes de fazer com que um
circuito LC em s´erie se comportem como um circuito LC em paralelo e um filtro
passa-faixa se comporte como um filtro rejeita-passa-faixa [36]. Todas essas aplica¸c˜oes do gyrator
tornaram-se poss´ıveis ap´os os trabalhos de Antonious [33, 34, 37] que propˆos a cria¸c˜ao
de gyrators utilizando amplificadores operacionais. Dentre as propostas de Antonious,
destaca-se o simulador de indutˆancia utilizado por Tˆorres e Aguirre em substitui¸c˜ao ao
indutor f´ısico do circuito de Chua [38].
Figura 1.13: Circuito simulador de indutˆancia de Antonious (indutor eletrˆonico) constitu´ıdo por dois amplificadores operacionais OP3, OP4, quatro resistores R7− R10e um capacitor C3.
O indutor eletrˆonico de Antonious ´e composto por dois amplificadores operacionais
OP3, OP4, quatro resistores R7 − R10 e um capacitor C3, como mostra a Figura 1.13.
da equa¸c˜ao:
Iz =
vP − v2
R7
(1.21)
Para obter-se o valor da indutˆancia neste circuito, deve-se determinar a rela¸c˜ao entre a
corrente i1 e a tens˜ao v1 em termos dos componentes. Para isso, considera-se que a tens˜ao
na entrada inversora e n˜ao inversora sejam iguais, o que torna as tens˜oes nos n´os A, C e
E iguais a v1 ou seja, vA = vC = vE = v1. Al´em disso, a alta impedˆancia das entradas
dos amplificadores operacionais, acarreta nas seguintes igualdades entre as correntes:
iOP 4+ = iOP 4−= iOP 3+ = iO3− = 0
i3 = i10 (1.22)
i8 = i9 (1.23)
Pode-se notar atrav´es da Figura 1.13 que i1 = i7 e i1 = v1R−v7B. Ent˜ao vB pode ser
escrito em termos da tens˜ao no resistor R8, ou seja, v8 = vB− vC e:
i1 = v1− (v8− vC) R7 = v1− (v8− v1) R7 = −v8 R7
que de acordo com a lei de Ohm e a igualdade (1.23) torna-se:
i1 = − R8i8 R7 = −R8i9 R7 = −R8v9 R7R9 (1.24)
sendo necess´ario apenas determinar o valor de v8, que pode ser feito utilizando as
dife-ren¸cas de tens˜oes nos pontos C, D e E e no capacitor C3:
v9 = vC− vD = vC − (v3+ vE)
v9 = v1− (v3+ v1) = −v3
express˜ao (1.24) como: i1 = R8v3 R7R9 = R8i3 C3R7R9s
utilizando a igualdade (1.23) com a lei de Ohm aplicada ao resistor R10, resulta-se em:
i1 = R8i10 C3R7R9s = R8v1 C3R7R9R10s e v1 = C3R7R9R10 R8si1 = Ldi1 dt
sendo a indutˆancia do indutor eletrˆonico dada por
L = C3R7R9R10 R8
(1.25)
Segundo Torres, o indutor eletrˆonico de Antonious comporta-se como um indutor f´ısico,
para valores de frequˆencia de 102 e 105Hz, apresentando um valor baixo de resistˆencia [38].
1.5
As equa¸
c˜
oes diferenciais do sistema
Existem dois tipos principais de sistemas dinˆamicos: sistemas de tempo discreto (mapas
iterativos) e sistemas de tempo cont´ınuo (regidos por equa¸c˜oes de taxas) [2]. Os mapas
iterativos surgem de problemas com tempo discreto como: o mapa log´ıstico [39], o mapa de
Henon, o mapa de Ikeda e o mapa do circulo [40, 41, 2]; enquanto as equa¸c˜oes diferenciais
descrevem a evolu¸c˜ao do sistema com tempo cont´ınuo como: o sistema de Lorentz [22],
R¨ossler [23] e o circuito de Chua.
No circuito de Chua, a dinˆamica ´e descrita pelas vari´aveis que representam: a corrente
Iz no indutor L , a tens˜ao V1 no capacitor C1 e a tens˜ao V2 no capacitor C2, sendo poss´ıvel
obter as equa¸c˜oes diferenciais diretamente da LKC e LKV aplicadas ao circuito de Chua
da Figura 1.14, em que a queda de tens˜ao VR no resistor R ´e dada por VR = V2− V1.
A primeira equa¸c˜ao diferencial pode ser obtida da LKC aplicada ao ponto A, onde
Figura 1.14: Aplica¸c˜ao da Lei de Kirchoff para dedu¸c˜ao das equa¸c˜oes diferenciais que des-crevem o sistema.
corrente no resistor R ´e IR= VRR, obt´em-se:
Iz = V2− V1 R + C2 dV2 dt dV2 dt = V1− V2 RC2 + Iz C2 (1.26) .
A segunda equa¸c˜ao tamb´em pode ser obtida da LKC aplicada ao ponto B, onde
IR = Id(V1) + I1 e como a corrente no capacitor C1 ´e dada por I1 = C1dVdt1, tem-se como
resultado: V2− V1 R = Id(V1) + C1 dV1 dt dV1 dt = V2 − V1 RC1 −Id(V1) C1 (1.27) .
Por fim, a terceira equa¸c˜ao pode ser obtida da aplica¸c˜ao da LKV na malha (i), onde
−V2− Vz = 0, e a tens˜ao no indutor L com resistˆencia rL´e Vz = Ldidtz + rLIz, de maneira
que: −V2− L diz dt − rLIz = 0 dIz dt = − V2 L − Iz rL L (1.28)
Chua ´e formado pelas express˜oes (1.26),(1.27) e (1.28), ou seja dV1 dt = V2−V1 RC1 − Id(V1) C1 dV2 dt = V1−V2 RC2 + Iz C2 dIz dt = − V2 L − Iz rL L (1.29)
Este sistema de equa¸c˜oes possui a dimens˜ao m´ınima para a ocorrˆencia de caos em um
sistema cont´ınuo e sua ´unica n˜ao linearidade encontra-se no termo Id(V1), diferente do
sistema de Lorentz que apresenta duas n˜ao linearidades [42].
1.6
Os pontos de equil´ıbrio do sistema
Para determinar-se os pontos de equil´ıbrio do sistema, considera-se o circuito da
Fi-gura 1.15 na condi¸c˜ao estacion´aria, em que os capacitores podem ser substitu´ıdos por
cir-cuitos abertos e o indutor assume as caracter´ısticas de um curto circuito; nesta condi¸c˜ao,
Figura 1.15: Circuito de Chua na condi¸c˜ao de equil´ıbrio com capacitores substitu´ıdos por circuitos abertos e indutor por curto circuito.
o diodo de Chua encontra-se em s´erie com as resistˆencias R e rL, e a corrente Id´e igual `a
corrente Iz, que passa por estes resistores. Este fato tamb´em pode ser verificado por meio
da condi¸c˜ao de equil´ıbrio imposta ao sistema de equa¸c˜oes diferenciais (1.29), ou seja:
V2− V1
RC1
+Id(V1) C1
V2− V1 RC2 + Iz C2 = 0 (1.31) V2 L − Iz rL L = 0 (1.32)
de modo que somando (1.30) e (1.31), ´e poss´ıvel obter:
V2− V1
R − Id(V1)
+V1− V2
R + Iz = 0
Id(V1) = Iz (1.33)
Al´em disso, ´e poss´ıvel deduzir uma express˜ao para Iz, isolando-se V2 da equa¸c˜ao (1.32)
e substituindo-se na equa¸c˜ao (1.31):
Iz = −
1 R + rL
V1 (1.34)
A express˜ao (1.34) representa a linha de carga do circuito e, portanto, a condi¸c˜ao de
igualdade (1.33) aliada `a express˜ao (1.34) permite obter os pontos de equil´ıbrio P+,P−e Po
graficamente representados no plano V1×Iz, conforme sugere a Figura 1.16. Nela ´e poss´ıvel
notar que dependendo da inclina¸c˜ao da reta Iz(V1) ocorrem mudan¸cas na estabilidade dos
pontos de equil´ıbrio.
A an´alise em termos de linha da carga com Id(V1) = Iz(V1) tem a vantagem de trazer
a influˆencia f´ısica da curva Id(V1) que pode ser medida diretamente do circuito, o que ´e
importante do ponto de vista experimental. Al´em disso, a caracteriza¸c˜ao dos pontos de
equil´ıbrio tamb´em pode ser feita de maneira matem´atica, a partir do estudo da dinˆamica
local em torno dos pontos de equil´ıbrio, de acordo com teorema de Hartman-Grobman
que garante que o sistema n˜ao linear apresenta o mesmo comportamento qualitativo do
sistema linear correspondente pr´oximo ao ponto de equil´ıbrio hiperb´olico [43]. Para isso,
faz-se uma expans˜ao em s´erie de Taylor em torno do ponto de equil´ıbrio Pc = (V1c, V2c, Izc),
sendo as derivadas: ˙ V1 = f (V1, V2, Iz) = f (V1c, V2c, Izc) + ∂f (V1c, V2c, Izc) ∂V1 (V1− V1c) + ∂f (V1c, V2c, Izc) ∂V2 (V2− V2c) + ∂f (V1c, V2c, Izc) ∂Iz
(Iz− Izc) + termos de ordem superior
˙ V2 = g (V1, V2, Iz) = g (V1c, V2c, Izc) + ∂g (V1c, V2c, Izc) ∂V1 (V1− V1c) + ∂g (V1c, V2c, Izc) ∂V2 (V2− V2c) ∂g (V1c, V2c, Izc) ∂Iz
(Iz − Izc) + termos de ordem superior
˙ Iz = h (V1, V2, Iz) = h (V1c, V2c, Izc) + ∂h (V1c, V2c, Izc) ∂V1 (V1− V1c) + ∂h (V1c, V2c, Izc) ∂V2 (V2− V2c) + ∂h (V1c, V2c, Izc) ∂Iz
(Iz − Izc) + termos de ordem superior
a qual substituindo-se δV1 = V1− V1c, δV2 = V2− V2c e δIz = Iz− Izc; desconsiderando-se
os termos de ordem superior e aplicando-se a condi¸c˜ao de equil´ıbrio f (V1c, V2c, Izc) =
h (V1c, V2c, Izc) = g (V1c, V2c, Izc) = 0 , tem-se: δ ˙V1 = ∂f ∂V1 V1c,V2c,Izc δV1+ ∂f ∂V2 V1c,V2c,Izc δV2+ ∂f ∂Iz V1c,V2c,Izc δIz δ ˙V2 = ∂g ∂V1 V1c,V2c,Izc δV1+ ∂g ∂V2 V1c,V2c,Izc δV2+ ∂g ∂Iz V1c,V2c,Izc δIz
δ ˙Iz = ∂h ∂V1 V1c,V2c,Izc δV1+ ∂h ∂V2 V1c,V2c,Izc δV2+ ∂h ∂Iz V1c,V2c,Izc δIz
que pode ser reescrita na forma matricial
δ ˙V1 δ ˙V2 δ ˙Iz = ∂f ∂V1 V1c,V2c,Izc ∂f ∂V2 V1c,V2c,Izc ∂f ∂Iz V1c,V2c,Izc ∂g ∂V1 V1c,V2c,Izc ∂g ∂V2 V1c,V2c,Izc ∂g ∂Iz V1c,V2c,Izc ∂h ∂V1 V1c,V2c,Izc ∂h ∂V2 V1c,V2c,Izc ∂h ∂Iz V1c,V2c,Izc δIz δV2 δIz ou na forma vetorial ˙ ~ δF =↔J ~δF (1.35)
em que ↔J ´e a matriz Jacobiana do sistema e o vetor ~δF fornece o comportamento local do fluxo pr´oximo ao ponto de equil´ıbrio. Podendo ~δF ser escrito como:
~
δF = C1eλ1t~v1 + C2eλ2t~v2 + C3eλ1t~v3 (1.36)
em que as constantes C1, C2 e C3 dependem das condi¸c˜oes iniciais do sistema e ~v1, ~v2 e
~
v3 s˜ao os autovetores associados aos autovalores λ1,λ2 e λ3 da matriz ↔
J ,que no caso do
circuito de Chua ´e dada por:
↔ J = 1 RC1 + φ (V1c) − λ 1 RC1 0 1 RC2 − 1 RC2 − λ 1 C2 0 L1 −rL L − λ com φ (V1c) = m2 se V ≤ −Bp2 m0 se −Bp2 < V ≤ Bp1 m1 se −Bp1 < V < Bp1 m0 se Bp1 ≤ V < Bp2 m2 se V ≥ Bp2
po-linˆomio caracter´ıstico (1.37), obtidas da condi¸c˜ao em que det↔J −λ ↔ I = 0 para ~δF 6= 0. λ3+ rL L − 1 C1 + 1 C1 + φ λ2− φ 1 RC2 + 1L − rL LR 1 C1 − 1 C2 + 1 LC2 λ − 1 LC2 φ + 1 RC1 = 0 (1.37)
As ra´ızes λ1,λ2 e λ3 do polinˆomio de 3◦ grau podem ser reais ou complexas,
depen-dendo dos parˆametros e do dom´ınio de φ(V1). Sendo, portanto, a estabilidade do vetor
(1.36) dependente das caracter´ısticas destes autovalores pois, caso λ seja positivo o termo
eλt cresce, se t → ∞, e, consequentemente os pontos pr´oximos ao ponto de equil´ıbrio
Pc se afastam, seguindo a dire¸c˜ao do autovetor associado; o que permite caracterizar a
dire¸c˜ao do autovetor como inst´avel. No entanto, quando λ ´e negativo o termo eλt cresce apenas quando t → −∞, sendo a dire¸c˜ao apontada pelo autovetor caracterizada como
est´avel. Consequentemente, como o interesse est´a nos pontos de equil´ıbrio, e cada ponto
possui trˆes autovalores e autovetores associados, deve-se analisar as caracter´ısticas dos
trˆes autovalores, que podem ser os trˆes n´umeros reais ou um autovalor real e os outros
dois n´umeros complexo e conjugado.
Figura 1.17: Exemplos em 3-dimens˜oes de pontos de equil´ıbrio em que todos os autovalores s˜ao reais.
(i) Se os trˆes autovalores s˜ao negativos, os autovetores associados apontam para o
ponto de equil´ıbrio de equil´ıbrio Pc est´avel, que atua como um sorvedouro do fluxo
(Figura 1.17(a)).
(ii) Se os trˆes autovalores s˜ao positivos os autovetores associados apontam para o ponto
Pc inst´avel, que atua como uma fonte de fluxo (Figura 1.17(b)).
(iii) Se um dos autovalores ´e positivo e os outros negativos, tem-se um plano em que todas
as dire¸c˜oes s˜ao est´aveis e a dire¸c˜ao perpendicular a Pc ´e inst´avel (Figura 1.17(c)).
(iv) Se um dos autovalores ´e negativo e os outros positivos, tem-se um plano em que
todas as di¸c˜oes s˜ao inst´aveis e a dire¸c˜ao perpendicular a Pc´e est´avel (Figura 1.17(d)).
Quando apenas um dos autovalores ´e real e os outros dois s˜ao um n´umero complexo e
seu conjugado, a an´alise da estabilidade dos pontos de equil´ıbrio pode ser realizada com
o auxilio da equa¸c˜ao (1.36) reescrita na forma:
~
δF = eρt(B2sen (ωt) + B1cos (ωt)) ~vA+ eρt(B2sen (ωt) + B1cos (ωt)) ~vB+ C3eλt~v (1.38)
em que Re(λ1) =Re(λ2) = ρ , Img(λ1) =Img(λ2) = ω e as novas constantes B1,B2 e C3
s˜ao definidas pelas condi¸c˜oes iniciais do sistema. Portanto, de acordo com a express˜ao
(1.38) os vetores formados pela combina¸c˜ao linear de ~vA e ~vB apresentar˜ao o mesmo
comportamento em termos de amplitude, j´a que ρ ´e comum aos dois vetores e ω esta
presente apenas nos termos oscilat´orios envolvendo senos e cosseno, de maneira que, no
plano formado por ~vAe ~vBh´a espirais que convergem em dire¸c˜ao ao ponto de equil´ıbrio Pc
quando ρ ´e negativo (Figura 1.18(a) e (c)) ou espirais que divergem de Pc se ρ ´e positivo
(Figura 1.18(b) e (d)). No ponto Pc passa a linha hiperb´olica com a estabilidade definida
por λ, de modo que a caracter´ıstica do ponto Pc´e definida por ρ e λ, podendo ser:
(i) um ponto equil´ıbrio do tipo n´o espiral se ρ < 0, se λ < 0 (Figura1.18(a))
(ii) um ponto de equil´ıbrio do tipo n´o espiral repulsor, se ρ > 0 e λ > 0 (Figura 1.18(b))
(iii) um ponto de equil´ıbrio do tipo sela hiperb´olica, se ρ < 0 e λ > 0 (Figura 1.18(c))
Figura 1.18: Exemplos em 3-dimens˜oes de pontos de equil´ıbrio com apenas um autovalor real.
Chua descreveu v´arias bifurca¸c˜oes como o surgimento de ´orbitas peri´odicas e do atrator
double scroll, a partir da an´alise dos coeficientes de Lyapunov e da lineariza¸c˜ao em torno
do ponto de equil´ıbrio [44, 45]. No entanto, quando se deseja estimar o n´ıvel de caos, ou
seja, a sensibilidade `as condi¸c˜oes iniciais com base em s´eries temporais medidas pode-se
Cap´ıtulo 2
Experimentos e M´
etodos de An´
alise
2.1
O Circuito de Chua experimental
Conforme discutido no cap´ıtulo 1, o circuito de Chua ´e composto por resistores e
capa-citores passivos, de um indutor eletrˆonico e do diodo de Chua, ambos ativos. Na
cons-tru¸c˜ao destes componentes ativos, foram utilizados amplificadores operacionais, resistores
e tamb´em capacitores no indutor, como mostra a Figura 2.1, em que ´e apresentado o
Figura 2.1: Diagrama esquem´atico do circuito de Chua com destaque para a implementa¸c˜ao do Diodo de Chua e do indutor eletrˆonico.
diagrama esquem´atico do circuito de Chua com os respectivos pontos para medidas das
vari´aveis V1, V2 e o ponto P onde ´e medida a tens˜ao Vp, usada para obter a corrente Iz
no indutor.
Na Figura 2.2(a) tem-se a placa do circuito de Chua confeccionada em fenolite e no lado
Figura 2.2: (a) Montagem do Circuito de Chua e buffer (`a direita) e (b) esquem´atico do circuito buffer.
ganho unit´ario ou buffer, cujo esquem´atico ´e mostrado na Figura 2.2(b).
O buffer ´e conectado ao circuito de Chua para realizar a leitura das tens˜oes com
m´ınima interferˆencia em seu comportamento. O circuito de Chua foi projetado no
soft-ware gratuito Eagle e a escolha dos componentes foi realizada medindo-se os valores das
resistˆencias, por meio de um mult´ımetro digital Keithley modelo 2001 com quatro fios,
desconsiderando-se a resistˆencia dos cabos. Para a escolha dos capacitores, as medidas
foram feitas com um analisador de impedˆancia e estes tamb´em foram escolhidos em um
lote de pelo menos 20 componentes idˆenticos, para obter valores de capacitˆancia o mais
pr´oximo poss´ıvel dos valores projetados. A Tabela 2.1 cont´em os valores dos
componen-tes utilizados na montagem da placa do circuito de Chua, cujo erro ´e a metade da menor
divis˜ao da medida.
Tabela 2.1: Valores dos componentes utilizadas no circuito de Chua.
Componentes Valor Componente Valor
R1 220,93 Ω R8 0,99626 kΩ R2 21,935 kΩ R9 0,99650 kΩ R3 220,920 Ω R10 1,8073 kΩ R4 21,922 kΩ C1 23,727 nF R5 2,1760 kΩ C2 236,580 nF R6 3,2680 kΩ C3 23,885 nF R7 0,99685 kΩ
Ap´os a montagem do circuito de Chua, foi feita a caracteriza¸c˜ao da curva i(V ) do diodo
de Chua, para isso, foi aberto um curto circuito logo ap´os o ponto de medida da tens˜ao
V1 para isolar o diodo de Chua e, em seguida, por meio de um programa em Labview R,
da corrente no diodo de Chua. Para os valores dos componentes da Tabela 2.1 foi poss´ıvel obter a curva: id(x) = −4, 76600x − 32, 51240 se x ≤ −5, 43000 x − 0, 82999 se −5, 43000 < x ≤ −1, 00000 1, 84957x se −1, 00000 < x < 1, 00000 x + 0, 86378 se 1, 00000 ≤ x < 5, 92900 −5, 15200x + 37, 35590 se x ≥ 5, 92900 (2.1)
com base na equa¸c˜ao (1.17) normalizando-se V e i(V ), atrav´es da seguinte substitui¸c˜ao
x = BV
p1 e id(x) =
i(V )
m0Bp1 em que m0 = 4, 156315 mS corresponde a m´edia das inclina¸c˜oes
de m0 e S tem unidade de inverso de resistˆencia e Bp1 = 1, 38501 V . Na Figura 2.3 tem-se
`
a curva id(x) medida e em vermelho as regress˜oes lineares que deram origem a fun¸c˜ao
linear por partes (2.1).
Figura 2.3: Curva id(x) normalizada e regress˜ao linear (em vermelho).
Ap´os a constru¸c˜ao do circuito de Chua com sua curva i(V ) caracter´ıstica, foram
cons-tru´ıdos potenciˆometros digitais para analisar o comportamento do circuito para diferentes
2.2
O potenciˆ
ometro digital
Neste trabalho, foi proposta a utiliza¸c˜ao de potenciˆometros digitais como alternativa para
variar os parˆametros resistivos do circuito de Chua. Potenciˆometros deste tipo possuem a
mesma fun¸c˜ao que os potenciˆometros manuais, cujas resistˆencias s˜ao variadas de acordo
com a posi¸c˜ao do cursor, no entanto nos potenciˆometros digitais os valores das resistˆencias
s˜ao definidos por sinais digitais, que podem ser controlados por um micro controlador.
Atualmente, os potenciˆometros digitais dispon´ıveis no mercado possuem resistˆencia
interna de 100 Ω ou superior, alta sensibilidade `a varia¸c˜ao de temperaturas e podem ser
encontrados somente com valores de resistˆencia a partir de 1, 000 kΩ, divididos no m´aximo
em 256 passos [46], o que impossibilita variar os valores de resistˆencia com passos da ordem
de 1, 000 Ω ou inferior. Diante disso, com o objetivo de observar resultados
equivalen-tes aos reportados em trabalhos com simula¸c˜oes, optou-se por construir potenciˆometros
digitais precisamente calibrados com 1024 passos de resistˆencia de 1, 000 Ω, 0, 200 Ω e
0, 100 Ω, utilizando os seguintes componentes: 10 rel´es, 10 transistores BC337, 10 diodos,
fios de cobre e resistores vari´aveis e cerˆamicos com 1% e 5% de precis˜ao.
Figura 2.4: (a) Esquem´atico do potenciˆometro digital em que Rx, Rax,Rbx representam as resistˆencias, DX diodos, TX transistores, PINX pinos das entradas/sa´ıdas digitais I/O. (b) placa confeccionada.
O esquem´atico do circuito, bem como a imagem de uma das placas confeccionadas
´
e representado na Figura 2.4. Para efeito de simplifica¸c˜ao, nela foi mostrada apenas o
digital ´e composto por dez estruturas como estas, que s˜ao ligadas aos dez pinos da esquerda
nos quais o sinal de controle ´e aplicado.
Os pinos indexados por X correspondem a um n´umero de 0 a 9 e s˜ao conectados ao
seu respectivo circuito de chaveamento, que acionam os rel´es. Os rel´es s˜ao conectados
aos trˆes resistores RaX, RbX e RcX , de modo que, quando o rel´e se encontra no estado
ligado as resistˆencias s˜ao inclu´ıdas no circuito e quando desligado n˜ao. Sendo, portanto,
cada um dos dez rel´es respons´avel por um valor de resistˆencia, que ao serem combinadas
permitem obter 1024 valores; por exemplo, para o potenciˆometro com passo de 0, 100 Ω,
quando apenas o rel´e 0 (acionado pelo bit 0) est´a ligado tem-se 0, 100 Ω de resistˆencia;
ligando-se o rel´e 1, por meio do bit 1, e desligando-se o rel´e 0 tem-se 0, 200 Ω; ligando o
rel´e 0 e o rel´e 1 tem-se 0, 300 Ω e assim por diante. A rela¸c˜ao entre o sinal (bit) e o valor
resistˆencia ´e dada por:
R ou rL= bit0.20+ bit1.21+ bit2.22+ · · · + bit9.29
(2.2)
sendo necess´aria a calibra¸c˜ao dos potenciˆometros para garantir a linearidade entre o valor
da resistˆencia e o passo. Durante o processo de calibra¸c˜ao, foi utilizado um mult´ımetro
digital Keithley modelo 2001 e medidos todos os valores de resistˆencia a cada passo. O
controle do mult´ımetro e do potenciˆometro foi feito por meio de uma interface USB com
o aux´ılio do programa em Labview R (Figura 2.5). O mult´ımetro foi operado no modo
de medida por quatro fios a fim de que fosse desconsiderada a resistˆencia dos cabos. Os
resultados s˜ao apresentados nas Figuras 2.6-2.8 para os trˆes potenciˆometros constru´ıdos,
dois deles para variar o parˆametro R com valores de passo de 0, 200 Ω e 1, 000 Ω e erro na
5a casa decimal, e um deles para variar o parˆametro rL com valor de passo de 0, 1000 Ω e
erro na 6a casa decimal. A constru¸c˜ao dos potenciˆometros possibilitou a aquisi¸c˜ao de um total de aproximadamente 2 TB de dados na forma de s´eries temporais.
Figura 2.5: Programa para a calibra¸c˜ao do potenciˆometro, com as respectivas op¸c˜oes nume-radas: 1 para definir a porta de comunica¸c˜ao, 2 para definir o tipo de medida, 3 para definir o arquivo de sa´ıda, 4 para indicar os bits acionados (rel´es ligados) e 5 para indicar o valor da resistˆencia medida.
Figura 2.6: Calibra¸c˜ao do potenciˆometro para R com o passo de 1, 000Ω e ajuste com modelo linear e erros.
Figura 2.7: Calibra¸c˜ao do potenciˆometro para R com o passo de 0, 200Ω e ajuste com modelo linear e erros.
Figura 2.8: Calibra¸c˜ao do potenciˆometro para rL com passo de 0, 100Ω e ajuste com modelo
2.3
A aquisi¸
c˜
ao das s´
eries temporais e reconstru¸
c˜
ao
dos atratores.
Al´em do programa para a calibra¸c˜ao dos potenciˆometros, foi desenvolvido outro
pro-grama para o controle dos potenciˆometros e aquisi¸c˜ao dos dados, utilizando a ferramenta
Labview R. Esta ferramenta, desenvolvida pela National Instruments (NI), possibilita
desenvolver sistemas por meio de diagramas de bloco, utilizando o paradigma de fluxo
de dados, e possui suporte total aos equipamentos da marca NI, empregados no
experi-mento. Durante a montagem do experimento foi utilizado um PC com placa DAQ-NI
modelo PCI-6259 com 16 bits de resolu¸c˜ao e taxa de amostragem m´axima de 1,25 MS/s;
para o controle dos potenciˆometros foi adicionada `a placa DAQ um bloco de conectores
do modelo NI SCB 68 para acionamento dos 10 bits de cada potenciˆometro. Este bloco
de conectores possui 68 I/O, onde foram utilizados os pinos 10-20 para controle de R,
11-20 para controle de rL e dois pinos GND, um para terra e outro para terra digital.
A Figura 2.9 mostra a tela do programa com as op¸c˜oes e informa¸c˜oes de 1 a 9 a
respeito do seu funcionamento; sendo 1 para definir o intervalo de R e rL que se deseja
medir, 2 para definir os passos de cada um destes parˆametros, 3 para definir o local em
que ser´a salvo o arquivo contendo a s´erie, cujo nome segue o padr˜ao CHUA R(valor de
R)RL(valor de rL).dat, 4 para definir o n´umero de medidas e 5 que define a taxa de
amostragem. Nos indicadores tem-se em: 6 os valores de R e rL da s´erie que est´a sendo
medida, em 7 e 8 os bits acionados dos respectivos potenciˆometros e em 9 a representa¸c˜ao
gr´afica de um intervalo da s´erie temporal.
Nos arquivos CHUA R(valor de R)RL(valor de rL).dat foram armazenadas as
s´eries temporais correspondentes a vari´avel V1(t), totalizando 250 mil valores em cada
s´erie, todos medidos a uma taxa de amostragem de 250 kS/s ap´os um tempo transiente
de 5 s. A posse destas s´eries possibilitou a constru¸c˜ao dos diagramas de bifurca¸c˜ao, dos
espa¸cos de parˆametros e a reconstru¸c˜ao de v´arios atratores.
A no¸c˜ao intuitiva de atrator remete a um conjunto invariante para o qual as ´orbitas
pr´oximas convergem depois de um tempo infinito1[47], no caso do circuito de Chua, a
Figura 2.9: Painel do programa utilizado para aquisi¸c˜ao de dados e controle do potenciˆometros, cada n´umero em c´ırculo vermelho indica as principais fun¸c˜oes e op¸c˜oes do programa.
tru¸c˜ao do atrator requer o conhecimento da evolu¸c˜ao temporal das vari´aveis V1(t),V2(t) e
Iz(t) e como foram feitas apenas medidas da vari´avel V1(t), foi preciso recorrer a t´ecnica
de reconstru¸c˜ao de Takens [48]. Esta t´ecnica tem origem nos trabalhos de N.H. Packard
e colaboradores que mostraram que o atrator estranho do sistema de R¨ossler poderia
ser reconstruindo a partir da coordenada x(t) do sistema, apenas tomando y(t) = ˙x(t) e
z(t) = ¨x(t) e considerando-se a seguinte aproxima¸c˜ao ˙x ≈ x(t+T ) e ¨x ≈ x(t+2T ), em que
T era o atraso temporal ou delay [49]. O resultado de N.H.Packard foi generalizado por
Takens que mostrou que o espa¸co reconstru´ıdo na dimens˜ao euclidiana d, pode assumir a
forma:
[s(t), s(t + T ), s(t + 2T ), . . . , s(t + (d − 1)T )] (2.3)
sendo necess´ario apenas conhecer `a dimens˜ao de imers˜ao (i.e. correspondente ao n´umero
de vari´aveis dinˆamicas que o sistema possui) e T , de modo que, a escolha de s(t) e s(t + T )
deve ser tal que esses dois vetores sejam suficientemente independentes entre si a ponto de
formarem a base do espa¸co de reconstru¸c˜ao, por´em n˜ao, independentes o suficiente para
a respeito das outras. Para garantir que os vetores ser˜ao independentes a ponto de
for-marem a base do espa¸co reconstru´ıdo e mesmo assim manterem as informa¸c˜oes entre si,
Fraser [50] propˆos a utiliza¸c˜ao da informa¸c˜ao m´utua m´edia de Shannon para a determinar
o delay: I(T ) = X s(t),s(t+T ) P (s(t), s(t + T )) log P (s(t), s(t + T )) P (s(t)) P (s(t + T )) (2.4)
nesta equa¸c˜ao o termo loghP (s(t))P (s(t+T ))P (s(t),s(t+T )) i ´e a quantidade de informa¸c˜ao que pode ser aprendida sobre s(t + T ) a partir de s(t). O termo P (s(t), s(t + T )) ´e a densidade de
probabilidade conjunta para esses dois vetores de medidas e P (s(t)) e P (s(t + T )) s˜ao as
densidades de probabilidades individuais. Fraser e Swinner prop˜oem como escolha para
T , o valor da abscissa (i.e. n) do primeiro m´ınimo local da informa¸c˜ao m´utua, uma vez
que para um atraso T = nδt tem-se a menor redundˆancia entre os vetores [51].
Figura 2.10: Informa¸c˜ao m´utua m´edia I(T ) para uma s´erie temporal V1 medida
experimen-talmente para os seguintes valores de parˆametros R = 1582, 000 Ω e rL= 28, 200 Ω.
Como exemplo de aplica¸c˜ao da t´ecnica, pode-se tomar o gr´afico de I(T ) por n, na
Figura 2.10, cujos dados foram obtidos da rotina mutual do TISEAN aplicada a s´erie
temporal V1(t) com R = 1582, 000 Ω e rL = 28, 200 Ω. Dele ´e extra´ıdo o valor de n em
que ocorre o primeiro m´ınimo local, n = 10, sendo portanto T = 20 µs uma vez que as
medidas foram feitas a cada δt = 2 µs.
A Figura 2.11 mostra a reconstru¸c˜ao do mesmo atrator projetado no plano V1(t) ×
Figura 2.11: Reconstru¸c˜ao do mesmo atrator para n = 4, 5, 10, 11, 20 e 35, utilizando-se V1(t)
medido experimentalmente para R = 1582, 000 Ω e rL= 28, 200 Ω.
delay. ´E poss´ıvel notar que quase n˜ao h´a diferen¸ca na proje¸c˜ao do atrator para n = 10
e n = 11, valores pr´oximos do primeiro m´ınimo local de I(T ). No entanto, h´a uma
diferen¸ca significativa na forma do atrator para os demais valores escolhidos de n. Para
valores menores de n, como n = 4 e n = 5 o atrator encontra-se concentrado ao longo da
diagonal, isso deve-se ao fato de V1(t) e V1(t + nδt) serem praticamente iguais; j´a para
valores maiores de n, como n = 20 e n = 35, o atrator adquire uma aparˆencia com dobras
no espa¸co de estados. Al´em da ´orbita ca´otica com um ´unico rolo, como a apresentada
parˆametros. Uma maneira de visualizar a mudan¸ca no formato da ´orbita ou atrator ´e
atrav´es da representa¸c˜ao gr´afica, chamada diagrama de bifurca¸c˜ao.
2.4
Constru¸
c˜
oes de diagramas de bifurca¸
c˜
ao
Conforme discutido na sec¸c˜ao 2.3, diagramas de bifurca¸c˜ao s˜ao ferramentas ´uteis para
a an´alise da evolu¸c˜ao dos atratores. Al´em disso, as s´eries temporais medidas para a
constru¸c˜ao de um diagrama bifurca¸c˜ao s˜ao as mesmas utilizadas na constru¸c˜ao do espa¸co
de parˆametros para um dado valor fixo de um dos parˆametros. Portanto, para reproduzir
um espa¸co de parˆametros de 600x600 s˜ao necess´arias s´eries temporais suficientes para
construir 600 diagramas de bifurca¸c˜ao e a resolu¸c˜ao destes em passos de R ser´a a mesma
do espa¸co de parˆametros constru´ıdo. Segundo Viana e colaboradores, regi˜oes peri´odicas
imersas no caos em um diagrama de bifurca¸c˜ao podem indicar a presen¸ca de janelas
peri´odicas complexas no espa¸co de parˆametros[52], deste modo, o aumento de resolu¸c˜ao
no passo em R permitiu localizar poss´ıveis regi˜oes peri´odicas que faziam parte de janelas
peri´odicas complexas do espa¸co de parˆametros, antes mesmo da constru¸c˜ao do espa¸co de
parˆametros completo.
A Figura 2.12(a) e (b) mostra dois diagramas de bifurca¸c˜ao feitos para o mesmo
valor de rL = 28, 000 Ω e intervalo de R, cuja varia¸c˜ao em passo foi de 1, 000 Ω em
2.12(a) e 0, 200 Ω em 2.12(b). Nesta ´ultima ´e poss´ıvel notar uma melhora na defini¸c˜ao
do diagrama e consequentemente o aumento de resolu¸c˜ao das regi˜oes peri´odicas imersas
em caos para o mesmo intervalo de R, estas regi˜oes peri´odicas fazem parte de uma das
janelas peri´odicas complexas do espa¸co de parˆametros. Al´em disso, com a melhora na
precis˜ao do potenciˆometro tamb´em foi poss´ıvel notar a regi˜ao de crise (destacada com o
c´ırculo em vermelho) em que ocorre duplica¸c˜ao de per´ıodos em um dos lados e caos no
outro lado.
Para a constru¸c˜ao dos diagramas de bifurca¸c˜ao da Figura 2.12 e de outros diagramas
foi desenvolvido um script em PYTHON, seguindo os passos do diagrama em bloco da
Figura 2.13. Nele inicialmente, nos passos 1 e 2, define-se o valor de rLe o intervalo em R