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A statistical learning in chip-based test and diagnostics methodology

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Academic year: 2021

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Figure 2.1: Transistor cross sections illustrating negative-bias temperature instability (NBTI) (a), HCI (b), RTN (c), and TDDB (d)
Figure 3.1: Fault Dictionary Structure
Figure 3.3: Error rate of the DKNN classifier for increasing training set sizes.
Figure 3.4: Error rate of the DKNN classifier for increasing neighborhoods.
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