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Propriedades dos Materiais
importantes para MEMS
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• O desenvolvimento de MEMS depende criticamente da disponibilidade de
materiais com propriedades apropriadas para as diversas aplicações.
• Sensores e atuadores baseados em MEMS também dependem da
inter-relação existente entre as diversas grandezas e parâmetros físicos.
• Em particular, são de especial interesse para MEMS as inter-relações entre
parâmetros elétricos e parâmetros mecânicos, térmicos e ópticos.
• Alguns dos principais efeitos físicos e/ou propriedades físicas de interesse
em MEMS são :
¤
Piesoresistividade
¤
Piezoeletricidade
¤
Termoeletricidade
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• Piezoresistividade é a propriedade que descreve a mudança de resistência elétrica de certos materiais quando submetidos a esforço e deformação
mecânica.
• Em metais é conhecida desde 1856 (Lord Kelvin). A 1a
aplicação foi em extensómetros (“strain gauges”) metálicos para medir esforço (tração ou compressão) e, a partir dele, outros parâmetros como forças e pressões.
• O esforço aplicado deforma extensómetro, o que produz uma variação da sua resistência elétrica (ΔR). Em metais, ΔR tem origem puramente geométrica , devida a mudanças na espessura, largura e
comprimento dos eletrodos.
Piezoresistividade
Propriedades para MEMS• A piezoresistividade em semicondutores é conhecida desde 1954 (C.S.Smith) e está relacionada à mudança na mobilidade elétrica de elétrons e lacunas.
• A piezoresistividade do Si e Ge é da ordem de 100 vezes maior que a dos metais. • O 1o sensor de pressão baseado em resistores difundidos em membranas de Si são de
1969, e na atualidade a grande maioria dos sensores de pressão comerciais são feitos com piezoresistores de Si.
30
Piezoresistividade
• Ao ser submetido a uma força de deformação, a variação de resistência será dada por :
• Por outro lado, o Coeficiente de Poisson “ ν ”, que é a relação entre o aumento relativo no comprimento (L) e a diminuição no diâmetro (D), será dado por :
• Mas, lembrado que :
• Podemos escrever :
Propriedades para MEMS
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Piezoresistividade em metais
• E quanto vale K ?. Para responder isso, consideremos em primeira aproximação que a força de tração deforma o fio metálico mas não muda o seu volume (o comprimento aumenta mas o diâmetro diminui). Portanto, a variação de volume será dada por :
• Logo :
• Portanto, o Fator de Medida em metais é bastante pequeno (da ordem de 2) !
• Em metais, o strees aplicado deforma a amostra mas não provoca variação da resistividade intrínseca do material. Portanto, neste caso termos :
Propriedades para MEMS
32 • Em semicondutores o strees aplicado provoca, além da deformação física, uma variação da resistividade intrínseca do material. De fato, voltando à expressão mais geral do Fator de Medida :
Piezoresistividade do Si
• Ou seja, além dos fatores geométricos (implícitos no coeficiente de Poisson “ν”), o Fator de Medida de um semicondutor depende do número de portadores de carga e da sua mobilidade.
• Por tanto, a piezoresistividade dos semicondutores depende da :
¤ temperatura,
¤ dopagem,
¤ esforço mecânico sobre o material
• Porque do esforço mecânico ?. Porque forças aplicadas ao material iriam mudar a sua resistividade ?
onde
Propriedades para MEMS
• Porque o esforço mecânico sobre um semicondutor muda a sua resistividade ?
Piezoresistividade do Si
Tensões mecânicas Distâncias Interatômicas Estruturade Bandas dos portadores Mudam m* e µ
• Para entender isto devemos lembrar conceitos da mecânica quântica e sobre a
origem das Estrutura de Bandas. Um explicação mais detalhada pode ser encontrada em “Silicon Sensors”, S. Middelhoek and S.A. Audet, Ed.Academic Press, 1989. • Como isto acontece ?, A mobilidade dos
portadores de carga é dada por :
onde m* é a massa efetiva, que é obtida a partir da estrutura de bandas, E(k) vs. k, através da expressão :
Propriedades para MEMS
• Mas, qual a relação entre a estrutura de bandas e deformação ?, ...
Lembrando ...
Piezoresistividade do Si
• O comportamento do um elétron é regido pela equação de Schrodinger :
onde
Ψ
(r,k) é a função de onda do elétron, “r” é a posição no espaço, m é a massa do elétron, é constante de Plank, V(r) é o potencial elétrico na região do espaço onde o elétron se encontra e “E” é sua energia. Assim, no caso do elétron livre, V(r)=0 e a função de onda do elétron será :que descreve uma onda plana de amplitude constante "C” que se desloca na direção do vetor de onda “k”, que por sua vez, está relacionado ao comprimento de onda “
λ
” do elétron através de :Ψ(r) = C
.e
-ik.rAlém disso, a energia do um elétron será : Note que a energia não é quantizada euqe, se o elétron se mover com velocidade “v”, a energia cinética pode ser escrita como :
• Dentro de um cristal com átomos separados por uma distância “a”, a massa do elétron será m* e o potencial será dado pela soma dos potenciais atômicos e portanto, periódico: V(r+a) = V(r) • Neste caso a Energia em função de “k” terá a
forma ao lado”:
Piezoresistividade do Si
• Também note que :
(1) na base das bandas, ainda vale a aproximação do elétron livre :
• Num cristal real de Si, com os átomos distribuídos espacialmente numa célula de diamante, o cálculo da estrutura de bandas é mais complicado.
portanto , como E(k) depende da distância
interatômica, a massa efetiva também depende da distância entre os átomos !.
ao se esticar ou comprimir um semicondutor, alteramos a mobilidade dos portadores (elétrons e lacunas) e portanto, também variamos a sua resistividade.
Piezoresistividade do Si
• Por isso, desde que :
e
• Mas o que importa para nos aqui é que a massa efetiva dos elétros, m*, é dada por :
37 • Fator de Medida para o Si
Piezoresistividade do Si
Propriedadespara MEMS
• Dependência com a temperatura e dopagem : Coeficiente P(N,T) pelo qual deve ser multiplicar K à temperatura para obter K à temperatura T, em funcão da dopagem:
• Comportamento semelhante ao Si tipo-N • Variação com a temperatura exige métodos
para corrigir deriva dos elementos piezoresistivos
38
Propriedades para MEMS
2.2 Materiais e propriedades
Silício : Propriedades Mecânicas
No caso mais geral, tracionar ou comprimir um sólido, mesmo numa única direção, prova uma distribuição interna de esforços bastante complexa, com componentes em todas as direções (x,y e z) :
Portanto :
Máximo Mínimo
• Dependência de π// e π⊥ com a temperatura, a dopagem e orientação • Para altas concentrações de dopagem (>1019 cm-3) a piezoresistividade cai
rapidamente.
• Piezoresistores de Si tipo-P devem ser orientados ao longo da direção <110> : paralelos ou perpendiculares ao chanfro da lâmina
• Como faria um piezoresistor insensível ao stress ?
• Note que nestes e resistores Δρ/ρ aumenta quando o resistor é alongado (π// > 0) e diminui quando o resistor é alargado (π⊥ < 0)
• Isso é sempre verdade ?
Propriedades para MEMS
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Piezoresistividade do Si : dependencia com a orientação
Propriedadespara MEMS
Silicon Sensors,
S. Middelhoek and S.A. Audet, 1989
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Piezoresistividade do Si tipo-P
Propriedades43
Piezoresistividade do Si tipo-P
Propriedades44
Piezoeletricidade
• Piezoeletricidade
:
é a propriedade que apresentam certos materiais de
produzir campos elétricos quando submetidos a esforços mecânico. Em
MEMS são utilizados como sensores e atuadores. Ex. Quartzo.
• Usados em osiladores, geradores de clock, campainha de celulares, etc.
• Origem está associada à assimetria na distribuição de carga :
Dipólos
elétricos
• O processo é reversível, ou seja, quando submetidos a campos elétricos os
materiais piezoelétricos se expandem ou comprimem.
• Temperatura de Curie : perda das propriedades piezoeletricas
Propriedades para MEMS
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Piezoeletricidade em Si
• Cristal com simetria cúbica :
Si cristalino
NÃO
é
piezoelétrico
ligação covalente (não iônica) Propriedades para MEMS46
Piezoeletricidade
• Materiais Piezoelétricos :
• Quartzo
• Cerâmicas : Niobato de lítio (LiNbO
3) titanato de bário (TiBaO
3)
Propriedades para MEMS
• PZT
(zirconato titatano de chumbo) : cerâmica (PbZrO3 + PbTiO3) (“sputering ou sol-gel”)• ZnO
(“sputtering”)• PVDF :
polimérico (“spin-coating”)• Novos Materiais :
¤
Nitreto de Alumínio
(AlN
x)
(“sputtering”)FILMES
Polarização + Aquecimento ( T>T
Curie )47
2.2 Materiais e propriedades
Piezoeletricidade
• O efeito piezoeletrico é descrito em termos dos coeficientes de carga “dij” que relacionam a voltagem (campo eletrico ou carga superficial) na direção “i” com o deslocamento (força ou esforço) na direção “j”. Por convenção, a polarização é a direção “3” (direção “z” no cristal).
• d33 é o coeficientes de carga quando o campo elétrico e deslocamento são no mesmo eixo (“z”)
• d31 é o coeficientes de carga quando o campo elétrico é no eixo “Z” e deslocamento é nos eixos “x” ou “y”.
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Bibliografia
•
“Fundamental of Microfabrication”, Marc Madou,
CRC Press, 2a Ed. 2002
•
“An Introduction to Microelectromechanical Systems
Engineering”, 2a Ed., Nadim Maluf, Kirt Williams, Ed.
Artech House, Inc., 2004.
Propriedades para MEMS
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(1)
Ler :
• “Silicon as a mechanical material”,
Kurt E. Petersen, Proceedings
of the IEEE, vol.70, N
o5 (1982) 420.
A leitura obrigatória. O conteúdo destes e outros textos indicados no futuro, será cobrado em exercícios e provas.