• Nenhum resultado encontrado

Использование Общероссийского математического портала Math- Net.Ru подразумевает, что вы прочитали и согласны с пользова- тельским соглашением

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2023

Share "Использование Общероссийского математического портала Math- Net.Ru подразумевает, что вы прочитали и согласны с пользова- тельским соглашением"

Copied!
6
0
0

Texto

(1)

Math-Net.Ru

Общероссийский математический портал

Г. П. Бородуленко, Ю. А. Быковский, А. А. Ки- риллович, Н. М. Пономарев, Ж. А. Пух- лий, Особенности катодолюминесценции неоди- ма в оксосульфиде лантана, Письма в ЖТФ , 1987, том 13, выпуск 2, 101–105

Использование Общероссийского математического портала Math- Net.Ru подразумевает, что вы прочитали и согласны с пользова- тельским соглашением

http://www.mathnet.ru/rus/agreement Параметры загрузки:

IP: 139.59.245.186

6 ноября 2022 г., 08:27:00

(2)

А . А . К и р и л л о в и ч . Н.М. П о н о м а р е в , Ж . А . П у х л и й

Р а н е е было показано [ l ] , что неодим в оксосульфиде лантана при оптической накачке имеет более высокое значение сечения п о ­ глощения накачки, более высокое поперечное сечение лазерного п е ­ рехода *Jtt/z( 1 . 0 7 5 мкм) и более низкий порог, чем в И А Г ' е . Это означает, что монокристаллы оксосульфида лантана представляют собой одну из самых высокоэффективных лазерных о с ­ нов в ряду редкоземельных полупроводников. Применение их тормо­

зится из-^за сложности получения монокристаллов больших размеров высокого оптического качества. Для нетрадиционных способов на­

качки (электрическим полем [ 2 ] и электронным пучком [ 3 ] ) у с л о ­ вие больших размеров кристаллов высокого оптического качества не является столь критичным, поскольку механизм создания инверс­

ной населенности заключается в прямом возбуждении примесных центров либо электронами проводимости, либо набором электрон-ды­

рочных пар соответственно. В обоих случаях можно ожидать г е н е ­ рацию неодима на монокристаллах и активных структурах la^OgS'/iU малых размеров при комнатной температуре. Важно при этом, что­

бы l^OgS:Nd удовлетворял требованиям, предъявляемым к м а т е ­ риалам с ударным механизмом создания инверсной населенности в твердых телах [ 2 - 4 J .

В данном сообщении приведены предварительные результаты и с ­ следования К Л lazOzS : hid ( 1%) при возбуждении электро­

нами с энергией Е от 1 8 до 4 0 КэВ и длительностью импульса 5 0 не. Оксосульфид лантана представляет собой широкозонный вы- сокоомный полупроводник, в котором ионы Md**в качестве активи­

рующей примеси изоэлектронно замещают ионы La3* . Исследова­

ния формы края поглощения, проведенные нами на серии тонких м о ­ нокристаллических образцов при комнатной и азотной температурах, показали, что форма края описывается зависимостью: оС ( ft U ) )«*

= А (^Сл) - Eg )ъ1\ г д е А

$ь)*

характерной для прямых з а ­ прещенных переходов. Оцененная при этом оптическая ширина з а ­ прещенной зоны при Т = 3 0 0 К составляет Е<р = 4 . 3 9 эВ, при Т = 8 0 К Eg = 4 . 4 9 э В .

Обзорный спектр К Л La^OzS\ Aid представлен на рис. 1. Осо­

бенностью спектра излучения И4/3*в оксосульфиде лантана я в л я ­ ется наличие интенсивной группы линии в ближней УФ-области спект­

ра с Я - 3 6 6 , 3 9 4 , 4 2 5 нм, причем интенсивность самой с л а ­ бой из них при А = 4 2 5 нм существенно превышает интенсивность всех остальных линий в спектре, принадлежащих излучению иона Aif3^

(3)

Е=27КэВ

x10

Р и с . X,

W ЯЮ 600 700 800 900 1000 Обзорный спектр К Л

LtgPz ^

:

^ '

T = 3 0 0 K #

и более чем на порядок превышает интенсивность линий при Л =

= 9 0 0 нм и Л = 1 0 7 5 нм, принадлежащих переходам *^з/г ~*

и ^f3/2**Jfi/zсоответственно» В с е ТРИ мощные линии излучения УФ-группы принадлежат переходу с уровня на уровни

^ / / 2 ' **^1Ъ/г соответственно. Подтвеждением этому являются следующие факты.

1. В спектре поглощения L Q ^ O Z S : tfd при Т = 8 0 К в диа­

пазоне длин волн от 3 3 0 до 4 4 0 нм наблюдается только одна двойная полоса поглощения при А = 3 6 0 , 3 6 6 нм, принадлежа­

щая переходам с уровня ^J^/Zн а У Р Ов н и и ^3/2 соответст- венно.

2 . Измеренные времена жизни всех трех полос УФ-группы оди­

наковы и составляют величину ^ - 6 0 не при Т = З О О К и

Т

= 1 2 0 не при Т = 8 0 К ,

3 . Энергетические зазоры в частотах между Л = 3 6 6 - 3 9 4 нм и Л = 3 9 4 км - А = 4 2 5 нм составляют величины 2 0 0 0 с м ~ ^ , 1 9 0 0 см"-1* соответственно, что хорошо совпадает с энергетичес­

кими зазорами в частотах между и для и о -

№ вгОг5 [ i . 5 j . / г 1 2 / г i i j 2

на

На рис. 2 приведены зависимости спектральной интенсивности излучения, снятые в максимумах ряда полос излучения иона NdL3* от плотности тока накачки. При изменении плотности тока j от

2*10~2 д /с м2 д о д ус м2 интенсивность излучения всех л и ­ ний излучения с уровня t^j/fc растет более чем на 2 порядка в е ­ личины, однако излучательный переход **D$/2 ^Jfi/z ( А=3 9 4 н м ) отличается наибольшим квантовым выходом. При плотностях тока

~ 1 . 1 А / с м ^ для всех полос излучения наблюдается выход на на­

сыщение. Для полосы Л = 9 0 0 нм, отвечающей переходу **/-з/2*

^Jgt интенсивность излучения очень слабо растат с плотнос­

тью тока и не выходит на насыщение даже при плотностях тока 1.5 А / с м ^ . При переходе к азотной температуре имеет м е с т о у в е -

(4)

= 3 9 4 нм; 2 , 2 ' - А =

= 3 6 6 нм; 3, Зг- Л =

= 4 2 5 нм; 4 , 4/- Л -

= 9 0 0 нм.

1.0

J\A/CM2

личение квантового выхода излучения для всех линий неодима, максимальное у в е л и ­ чение квантового выхода на­

блюдается для Л = 3 9 4 нм.

На рис. 3 приведены спектры КЛ монокристаллов Laz<?z$: f\ld0 снятые при Т = 3 0 0 К для УФ-группы излучения в зави­

симости от уровня возбужде­

ния. Возбуждение производи­

л о с ь в режиме поперечной накачки для образца с парал­

лельными полированными г р а ­ нями и расстоянием между н и ­ ми 5 0 0 мкм. При увеличении плотности тока в пучке в спектре излучения наблюдается

перераспределение интенсивности излучения в пользу перехода

^2^3/2"^ ^7ff/2 * = 3 9 4 нм, что свидетельствует о наличии индуци­

рованного излучения в кристалле. Учитывая крайне низкую доброт­

ность резонатора Фабри-Перо и малые размеры области возбужде­

ния ( 5 0 0 м к м ) , можно ожидать высоких параметров режима г е ­ нерации при низких плотностях тока в электронном пучке.

Полученные результаты позволяют сделать следующие выводы:

1 . L^^Z $ 1 МЫ. является широкозонным, прямозонным, вы- сокоомным полупроводником с изоморфным вхождением активной примеси в решетку и удовлетворяет всем требованиям, предъявляе­

мым к активным средам, пригодным для получения генерации при возбуждении электрическим полем и электронным пучком [2-4J •

2 . Неодим в оксосульфиде лантана дает два.метастабильных состояния *2)з/% и *£з/2* возбуждение которых дает два- мощных канала излучения - в ближней УФ-области и в характерной для Afd ближней ИК-области. Поскольку эти метаотабильные состояния

и *^3/г различаются на 3 порядка по времени жизни, пра­

вильно выбранный режим возбуждения открывает возможность у п ­ равления этими каналами излучения. В импульсном режиме возбуж-

(5)

1.0-

0.8-

0.6-

ОА-

0.2-

о-

1.0-

0.8-

0.6-

ОА-

0.2-

Lz

и

, • ••/

и 360 380 Ш Ь20 440 Л , нм

Рис. 3 . Спектр КЛ УФ-группы линий от уровня возбуждения: а ) j = 0 , 0 6 А / с м2; б ) j = 0 . 3 8 А / с м2. -

дения основной канал излучения и ожидаемой генерации будет в УФ-области ( А = 3 9 4 нм, переход ^зу2^ 9 и 7 0 : 1 1 3 X 0 п еРе~ ход к непрерывному режиму возбуждения дает возможность п е р е ­ ключить излучение на второй канал - в ИК-область спектра ( Л =

= 1 . 0 7 5 мкм', переход ^^Jff/z^* ^ Ри ударном возбуждении ионов /fd^ускоренными электронами в электрическом поле [ 2 , 4 ] основным каналом генерации будет переход ^/^ез/2 ^^if/Z •

Поскольку уже при плотности тока ~ 1 0 ^ А / с м2 наблюда­

ется интенсивная КЛ неодима в оксосульфиде лантана, следует ожи­

дать низких порогов генерации при комнатной температуре.

Авторы выражают глубокую признательность В.Г. В е с е л а г о и Н.В. Карлову за поддержку работы и ценные замечания.

(6)

1 9 7 1 , т. 1 4 , с. 4 4 9 ; Индуцированное излучение в тонкопленоч- ных-структурах на основе ZnS \ Мп при возбуждении электри­

ческим полем. С б . Квантовая электроника, Киев: Наукова думка, 1 9 7 6 , в. 1 0 , с. 3 - 2 7 .

[3] V 1 a s е n к о N . A . , Р и к h 1 i i Z n . A . , L a - v г и s h i n B . M . , В о r i s о v N . A . - P h y s . L e t t , 1 9 7 3 , v . 4 6 A . N 3, p . 1 0 7 - 1 0 9 .

[ 4 ] Г л у ш к о в М . В . , М а м е д о в А . А . , П р о х о ­ р о в А . М . , П у х л и й Ж, А . , Щ е р б а к о в И . А . Письма в ЖЭТФ, 1 9 8 0 , т. 3 , с . 1 1 4 - 1 1 7 .

[ б ] В а с и л ь е в Е . В . , П о н о м а р е в Н . М . , Т к а- ч у к A . M . , X и л ь к о А . В . - Оптика и спектроскопия, 1 9 8 2 , т. 5 3 , № 5, с. 7 8 8 - 7 9 1 .

Институт общей физики Поступило в Редакцию А Н С С С Р , 17 сентября 1 9 8 6 г . Москва В окончательной редакции

26 ноября 1 9 8 6 г .

Письма в Ж Т Ф , том 1 3 , вып. 2 2 6 января 1 9 8 7 г . Э П Р Si - И ЦЕНТРОВ В КРЕМНИИ

Ю.В. Г о р е л к и н с к и й , Н.Н. Н е в и н н ы й Присутствие водорода в кремнии надежно подтверждается ха­

рактерными для Si-И связей спектрами ИК-поглощения, обнару­

женными после ионной имплантации водорода и последующего отжи­

г а образцов вплоть до 7 0 0 ° С U1 . Водород в междоузлиях р е ­ шетки кремния уверенно регистрируется также в экспериментах по каналированию и обратному рассеянию ионов [ 2 ] • Исследования, выполненные методом ЭПР. показали, что после имплантации водо­

рода в кремнии доминируют парамагнитные центры, характерные для этих ионов [ 3 - 6 ] . Однако как на кристаллическом, так и на аморфном кремнии [ 7 ] до сих пор не наблюдались центры ЭПР с разрешенной сверхтонкой структурой от ядер водорода^В этом с о ­ общении предлагаются два новых спектра ЭПР ( S = обозна­

ченные Si - А А 9 и Si - А А Ю , возникающие в кремнии после имплантации водорода при 8 0 К.. В спектре Si - А А 9 обнаруже­

но хорошо разрешенное сверхтонское расщепление от ядер водоро­

да.

Referências

Documentos relacionados

Если у0 задано приближенно с точностью б и для квазирешения х0 уклонение р Ах0, у0 б, то это будет означать, что в пре­ делах заданной точности приближенного решения уравнения 5.1