6.1.1 性能試験について
性能試験は，本器の性能劣化を未然に防止するため，予防保守の一環として行い ます。
性能試験は，本器の受け入れ検査，定期検査，修理後の性能確認などで性能試 験が必要な場合に利用してください。重要と判断される項目は，予防保守として定 期的に行ってください。本器の受け入れ検査，定期検査，修理後の性能確認に対 しては下記の性能試験を実施してください。
・ 表示周波数確度
・ 周波数スパン表示確度
・ 単側波帯雑音レベル
・ RF周波数特性
・ 表示平均雑音レベル
・ 2次高調波歪み
性能試験は，重要と判断される項目は，予備保守として定期的に行ってください。
定期試験の推奨繰り返し期間としては，年に1～2回程度が望まれます。
性能試験で規格を満足しない項目を発見された場合，本書（紙版説明書では巻末，
電子版説明書では別ファイル）に記載の「本製品についてのお問い合わせ窓口」
へすみやかにご連絡ください。
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性能試験
6.1.2 性能試験の項目・使用機器
性能試験用測定器一覧表を表6.1.2-1に示します。
表6.1.2-1 性能試験用測定器一覧表
試験項目 要求される性能 推奨機器名（形名）
表示周波数確度 ・ 周波数範囲：500 MHz～24.5 GHz 分解能：1 Hz可能
・ 出力レベル範囲：–20～0 dBm 分解能：0.1 dB可能
信号発生器（MG3693C/94C） MS2690A，MS2691Aでは，
MG3692Cも可
オプション 004 またはオプション 005付き
周波数スパン表示確度 ・ 周波数範囲：3000～23850 MHz 分解能：1 Hz可能
・ 出力レベル範囲：–20～0 dBm 分解能：0.1 dB可能
信号発生器（MG3693C/94C）
単側波帯雑音レベル ・ 周波数範囲：2 GHz offset 1 MHz 分解能：1 Hz可能
・ 出力レベル範囲：–10～10 dBm 分解能：0.1 dB可能
・ SSB位相雑音：–130 dBc/Hz以下
（100 kHz オフセット時）
・ SSB位相雑音：–150 dBc/Hz以下
（1 MHz オフセット時）
・ 外部基準入力：（10 MHz）可能
信号発生器
（HP8665B 相当品）
表6.1.2-1 性能試験用測定器一覧表（続き）
試験項目 要求される性能 推奨機器名（形名）
RF周波数特性 ・ 周波数範囲：250 kHz～13.5 GHz 分解能：1 Hz可能
・ 出力レベル範囲：–20～0 dBm 分解能：0.1 dB可能
信号発生器（MG3710A）
～6 GHz
信号発生器（MG3693C/94C）
6 GHz～
MS2691Aは，MG3692Cも可
・ 周波数範囲：250 kHz～13.5 GHz
・ 測定電力範囲：–30～＋10 dBm
（～6 GHz）
測定電力範囲：–67～＋20 dBm
（6 GHz～）
・ 本体確度：±0.02 dB
パワーメータ(ML2488A) パワーセンサ（MA2421D）
～6 GHz
パワーセンサ（MA2444D） 6 GHz～
表示平均雑音レベル ・ 周波数範囲：DC～13.5 GHz
・ VSWR：1.2以下
・ 50 Ω
標準終端器（28N50-2）
2次高調波歪み ・ 周波数範囲：10 MHz～6 GHz
・ 外部基準入力：（10 MHz）可能
・ 2次高調波：–30 dBc以下
・ SG出力の2倍の周波数に対して Loss＜40 dB（LPF）
信号発生器（MG3710A）
低域フィルタ SLP－10.7＋ SLP－50＋ SLP－100＋ VLF－400（＋）
SLP－850＋ VLF－1200（＋）
VLF－2250（＋）
VLF－3000＋
：fc=14 MHz
：fc=55 MHz
：fc=108 MHz
：fc=560 MHz
：fc=850 MHz
：fc=1530 MHz
：fc=2575 MHz
：fc=3600 MHz